一种红外热像仪像元点的标定方法技术

本发明专利技术公布了一种红外热像仪像元点的标定方法，包括黑体辐射定标、挡板温度测量。通过黑体辐射定标，可以测得红外热成像的电压V与温度T的映射关系。通过多次挡板的实测值和计算值计算公式的推导，确定影响红外热像仪像元点测温精度n值，从而提高红外热像仪的测温精度。本发明专利技术有以下优点：1．采用挡板装置温度测量的方法，有效的提高了红外热成像测温公式中n的精度，从而提高了红外热成像测温的精度。2．通过红外探测器每个像元的精度的修正，可以有效的提高红外热成像测温的非均匀性。3．测量实验中，不用考虑挡板的发射率对实验结果的影响。4．测量实验中，不用考虑温度对实验结果的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于红外热成像测温
，本专利技术涉及通过对红外热成像测温数据的研究，分析影响测温精度的因素，提出了对测温结果进行精度修正的办法。
技术介绍
温度是确定物质状态最重要的参数之一，它的测量与控制在国防、军事、科学实验及工农业生产中具有十分重要的作用。特别是高温测量在航天、材料、能源、冶金等领域中占有极重要的地位。目前，温度测量主要分为接触式和非接触式。传统的温度测量多采用接触式测量，使用热电偶、热电阻测温是接触式温度测量的主要手段，接触式测温技术已经成熟并得到了广泛应用。随着工农业、国防事业、医学的发展，对温度测量要求越来越高。在某些场合，准确测温逐步上升为主要矛盾，引起了各方面的重视。例如在不停机的情况下对机械设备、电力设备、生产设备等进行温度测量；在不造成产品的污染或损坏的情况下，对生产过程中或仓库里的产品温度进行测量。在这种背景下，非接触、无损测量的红外测温技术得到了长足的发展。红外热像仪是一种利用红外探测器将看不见的红外辐射转换成可见图像的被动成像仪器。是一种直接测量物体表面温度及温度分布的分析仪器，其基本原理是通过探测物体向外辐射的能量，再根据物体的辐射系数以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种红外热像仪像元点的标定方法，包括下述步骤：（1）辐射定标：环境温度设为273K，黑体温度设为273K，检测红外探测器的电压VT其中i为探测器水平像素数，j探测器垂直像素数；步进提高黑体温度分别测得各个温度下红外探测器的电压，根据测得的电压建立红外探测器电压VT（i，j）与黑体温度T映射关系；（2）近距离设置一块发射率为ε为0.5左右可控温度的挡板，分别设置4个不同的温度T01??T04，用红外探测器测出一组V01（i，j）??V04（i，j）的数据，通过查辐射定标的表，得到热像仪指示的辐射温度T’01（i，j）??T’04（i，j）共4个温度，根据近距离测温公式，代入已知数据得到T01={...

【技术特征摘要】
1.一种红外热像仪像元点的标定方法，包括下述步骤: (1)辐射定标:环境温度设为273K，黑体温度设为273K，检测红外探测器的电压\其中i为探测器水平像素数，j探测器垂直像素数；步进提高黑体温度分别测得各个温度下红外探测器的电压，根据测得的电压建立红外探测器电压Vt (i, j)与黑体温度T映...

【专利技术属性】
技术研发人员：李令想，张铆，刘燕，陈黎明，廖代春，
申请(专利权)人：无锡艾立德智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：