【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外非均匀性校正技术范围内的一种，具体涉及一种基于中值直方图均衡的红外非均匀性校正算法，特别适用于红外热像仪图像校正，减少红外图像非均匀性，避免“鬼影”。
技术介绍
理想情况下，当红外焦平面阵列受到均匀辐射时，焦平面的响应输出应完全一样。实际上，由于制作器件的半导体材料不均匀、缺陷、工艺条件等因素影响下，红外焦平面阵列的不同像元在同一均匀入射辐射下，其视频输出信号幅度不同，这就是红外焦平面阵列输出响应的非均匀性。和单点扫描方式和线阵扫描方式相比，红外焦平面阵列更容易受到红外响应非均匀性的影响。单点扫描方式不存在红外响应非均匀性的问题，线阵扫描方式的响应非均匀性只存在于线阵方向，而对于焦平面阵列，这种红外响应的非均匀性存在于整个像平面上。而且由于制作探测器的材料不同，其非均匀性严重程度也有所不同；并且愈是大规模的器件，非均匀性问题就愈突出，因此有必要减少器件的非均匀性。和非均勻性相关的概念有非均勻性(nonuniformity)、空间噪声(spatialnoise)、固定模式噪声(fixedpatternnoise)等。J. M. Mooney认为空间噪声是对一幅红外图像进行校正后的噪声，在不同的帧之间该噪声具有相关性。空间噪声在监视器上以固定的模式出现，随时间或工作环境略有变化，这个术语强调的是这种固定模式噪声的统计特性。实际上，空间噪声是在校正后的非均匀性。该特性可以被用于判断探测器的应用场合及评估系统的最终性能。而非均匀性是焦平面阵列输出在时域平均后的波动，表现为在红外图像上面会产生条纹现象。条纹的存在影响红外图像的清晰度，不利于观察者...
【技术保护点】
基于中值直方图均衡的红外非均匀性校正算法，其特征在于，算法步骤如下：第一步：采集一幅8bit的红外图像o(i,j)∈{0,...,255}，其中(i,j)∈{1,...,N}×{1,...,M}，像素数为M*N，i表示图像上像素的行所在位置，j表示图像上像素的列所在位置，M表示采集图像的行数，N表示采集图像的列数；第二步：对于一幅图像的每一列j∈{1,...,M}：确定每一列cj的统计直方图H′j，然后根据统计直方图获得每一列的累积直方图HjHj:{0,...,255}→[0,1]l→Hj(l)=1NΣk=0lΣi=1N1{o(i,j)=k},l为某一个灰度值像素的个数；统计直方图H′j具体是先统计某一个灰度值l像素的个数，累积直方图是在统计直方图基础上将灰度值小于l的灰度值个数进行累计，从而得到Hj(l)；第三步：然后将每一列累积直方图中的像素灰度值并转变成根据相邻列的累积直方图加权计算得到灰度值H~j-1=Σgk∈(-n,...,n)(k)Hk+j-1;其中g(k)为高斯权重g(k)=g...
【技术特征摘要】
1.基于中值直方图均衡的红外非均匀性校正算法，其特征在于，算法步骤如下:第一步:采集一幅8bit的红外图像o(i，j) G {0,...,255},其中(i, j) G {1，...，N} X {1，...，M},像素数为M*N, i表示...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾国华，孙镱诚，陈钱，隋修宝，毛伟，高航，于雪莲，路东明，钱惟贤，何伟基，张闻文，徐双双，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：
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