一种测量低频内耗用的样品支架制造技术

本发明专利技术一种测量低频内耗用的样品支架，所述样品支架主要结构为圆柱形管杆；所述管杆上端固定有调节齿轮；所述调节齿轮的中心孔与所述管杆以孔轴过度配合的方式连接；所述管杆下端的管口内还过度配合有管塞，于管杆内部所述管塞轴向上连接有下夹具体；所述下夹具体下端与所述管塞轴心处的通孔配合，并使用螺杆与垫片轴向紧固。通过上述方式，提供的一种测量低频内耗用的样品支架，其主要结构采用不锈钢材料制成，拥有刚性好，耐高温，抗氧化等特点。并且，其设计合理，结构简单，定位方便，装卸快捷，可以根据测量实验的需要更换不同的试样夹具。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及样品架制造
，特别是涉及一种测量低频内耗用的样品支架。
技术介绍
低频内耗的测量是在低频力学谱仪上完成的，是对竖立的一端固定、一端自由的长条试样从自由端加一个循环的很小的应力，然后测量试样的振幅衰减或应变滞后于应力的相角来度量内耗值。样品是固定在样品架上的，样品支架不仅需要耐热、抗氧化，还需要一定的刚度、强度。现有的样品架多数采用固定式，并使用特定的夹具，在实验过程中往往难以调整，使用不够灵活。同时，普通材料制成的样品支架不能适应试样的实验条件，造成了支架易损坏，耐用度相对低下。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种测量低频内耗用的样品支架，其结构简单，制造成本低廉。其可以在高温下完成测量内容，并且不影响测量精度。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种测量低频内耗用的样品支架，所述样品支架主要结构为圆柱形管杆；所述管杆上端固定有调节齿轮；所述调节齿轮的中心孔与所述管杆以孔轴过度配合的方式连接；所述管杆下端的管口内还过度配合有管塞，于管杆内部所述管塞轴向上连接有下夹具体；所述下夹具体下端与所述管塞轴心处的通孔配合，并使用螺杆与垫片轴向紧固。优选的是，所述管杆下端的管壁上开有装夹槽，便于试样安装到内部所述下架具体上；所述装夹槽槽口磨钝或倒角。优选的是，所述调节齿轮上、下两端面均加工有滚珠槽，配合滚珠与接触面产生小阻力的滚动摩擦。优选的是，所述下夹具体上端的轴向上加工有U型深槽，其用于装置下夹具头；所述下夹具头通过夹头螺钉与下夹具体紧固。优选的是，所述管杆和所述管塞为不锈钢材料制成。本专利技术的有益效果是提供的一种测量低频内耗用的样品支架，其主要结构采用不锈钢材料制成，拥有刚性好，耐高温，抗氧化等特点。并且，其设计合理，结构简单，定位方便，装卸快捷，可以根据测量实验的需要更换不同的试样夹具。附图说明图1是本专利技术一种测量低频内耗用的样品支架的结构示意 图2是本专利技术一种测量低频内耗用的样品支架结合试样试样及其他实验器材的工作状态不意 附图中各部件的标记如下1、面板；2、样品支架；3、中间板；4、滚珠；5、主动齿轮；6、竖摆杆；7、支撑机构；8、配重；9、细棉线；10、长方形镜子；11、紧固螺钉；12、试样；20、管杆；21、管塞；22、调节齿轮；23、下夹具体；24、下夹具头；25、螺杆；26、夹头螺钉；27、装夹槽；28、滚珠槽；29、垫片。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。请参阅附图1和图2，本专利技术实施例包括 一种测量低频内耗用的样品支架，所述样品支架2主要结构为圆柱形管杆20 ;所述管杆20上端固定有调节齿轮22 ;所述调节齿轮22的中心孔与所述管杆20以孔轴过度配合的方式连接；所述管杆20下端的管口内还过度配合有管塞21，于管杆20内部所述管塞21轴向上连接有下夹具体23 ;所述下夹具体23下端与所述管塞21轴心处的通孔配合，并使用螺杆25与垫片29轴向紧固。所述管杆20和所述管塞21均为不锈钢材料制成。所述管杆20下端的管壁上开有装夹槽27，便于试样12安装到管杆20内部所述下架具体23上；所述装夹槽27槽口磨钝或倒角。所述调节齿轮22上、下两端面均加工有滚珠槽28，配合滚珠4与接触面产生小阻力的滚动摩擦。所述下夹具体23上端的轴向上加工有U型深槽，其用于装置下夹具头24 ;所述下夹具头24通过夹头螺钉26与下夹具体23紧固。结合一较佳实例说明本专利技术一种测量低频内耗用的样品支架的工作方式 见图2，样品支架2穿过面板3上的中心孔安装到面板3上，在调节齿轮22上、下端面的滚珠槽28中放入滚珠4，保证滚珠4可以带动样品支架2灵活转动，调节齿轮22的上端面用中间板3压住，并利用紧固螺钉11固定到面板I上，以固定样品支架2。这样可以使样品支架2在转动过程中与中间板不发生偏移，对样品支架2起到一定的径向定位。装夹样品时，先将试样12的上端与竖摆杆6底端固定，而试样12的下端安装在样品支架2上的下夹具体23上，通过下夹具头24配合夹头螺钉26固定，竖摆杆6上安装了一个长方形镜子10，供反射和接收测量设备发出的信号用，竖摆杆6的上端用一个细棉线9系住配重8通过支撑机构7为支点，来使竖摆杆6连接的试样12达到平衡，当竖摆杆6受切向应力转动时，由于竖摆杆6的刚度远大于试样12,同时上端的细棉线9对转动的阻力很小，可以忽略，所以切向力只能使竖摆杆6上的试样12产生变形。操作过程中，当安装在竖摆杆6上的长方形镜子10不能对准接收传感器时，就需要调整竖摆杆6的位置，由于竖摆杆6的上端是细棉线9，所以只能通过调整样品支架2的位置来调整竖摆杆6的位置，当旋转与调节齿轮22啮合的主动齿轮5时，样品支架2就可顺时针或反时针转动，使安装在竖摆杆6上的长方形镜子10对准测量设备的接收传感器，随后就可进行下一步操作，完成测量工作。本专利技术一种测量低频内耗用的样品支架，提供的一种测量低频内耗用的样品支架，其主要结构采用不锈钢材料制成，拥有刚性好，耐高温，抗氧化等特点。并且，其设计合理，结构简单，利用滚珠与齿轮配合的方法，实现平稳角度调节的目的。同时，在管杆上开有装夹槽，使得样品的装夹过程更加快捷，测量过程中也可以根据测量实验的需要更换不同的试样夹具。以上所述仅为本专利技术的实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量低频内耗用的样品支架，其特征在于：所述样品支架主要结构为圆柱形管杆；所述管杆上端固定有调节齿轮；所述调节齿轮的中心孔与所述管杆以孔轴过度配合的方式连接；所述管杆下端的管口内还过度配合有管塞，于管杆内部所述管塞轴向上连接有下夹具体；所述下夹具体下端与所述管塞轴心处的通孔配合，并使用螺杆与垫片轴向紧固。

【技术特征摘要】
1.一种测量低频内耗用的样品支架，其特征在于所述样品支架主要结构为圆柱形管杆；所述管杆上端固定有调节齿轮；所述调节齿轮的中心孔与所述管杆以孔轴过度配合的方式连接；所述管杆下端的管口内还过度配合有管塞，于管杆内部所述管塞轴向上连接有下夹具体；所述下夹具体下端与所述管塞轴心处的通孔配合，并使用螺杆与垫片轴向紧固。2.根据权利要求1所述的一种测量低频内耗用的样品支架，其特征在于所述管杆下端的管壁上开有装夹槽，便于试样安装到内部所述下架具体...

【专利技术属性】
技术研发人员：周正存，严勇健，杜洁，赵海燕，殷磊，马腾飞，
申请(专利权)人：苏州市职业大学，
类型：发明
国别省市：