【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种纳米尺度材料内耗与模量测量方法,其特征在于:所述的测量方法采用静电激发方式驱动纳米材料做自由衰减或者强迫振动运动,通过高速相机将电子显微镜观测的样品振动信号进行实时处理并运算出纳米材料的内耗值和相对模量;其具体测量方法采用高频振动试样的振幅测量和低频振动试样的振幅测量;所述的高频振动试样的振幅测量,即在覆盖共振频率的不同频率下激发试样,由于纳米样品共振频率较高,一般在kHz左右,当共振频率高于1KHz时,高速相机难以分辨样品振动具体位置,只能探测到振动试样的平均效果,即一个展宽的像,如静止试样的像宽度为a,则振动试样的像将展宽为A=k+a,其中k/2即是试样振幅;对于高频振动试样一方面可以采用共振峰法获取内耗值和模量,另一方面可以采用自由衰减法测量内耗;采用共振峰法获取内耗值和模量:首先设定一个频率扫描范围,能够覆盖试样的本征共振频率,然后由计算机按一定的步长从低频段开始扫描,在每一个激发频率下(保持激发电压不变),分析处理经电子显微镜放大后由高速相机传过来的图像信号,得到试样振动的振幅,作振动振幅与频率的关系曲线,可得到一个中心位于共振频率的共振峰,由公式(1)拟合此共振峰,即可 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:庄重,郭丽君,程帜军,吴兵,王先平,方前锋,
申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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