【技术实现步骤摘要】
显示装置
本专利技术涉及显示装置,尤其涉及显示图像的显示装置。
技术介绍
为了确认制造显示装置的各个工序的实施结果是否达到较佳的状态,需要测量各个工序结果物的厚度、电阻、浓度、受污染的程度、临界值及器件的电学特性等,但是由于在测量过程中会使器件受损,因此对于工序特性而言,有时不能以实际基板为对象进行监测。这种情况下,在形成有器件的基板的特定部分或者在另外的空白(blank)区域形成称做测试元件组(TestElementGroup,简称为TEG)的图案并且相同地实施在形成有实际器件的基板实施的工序之后,测量测试元件组以评价相应的工序。为了监测在显示装置的制造工序中发生的静电,在显示装置的周边区域形成包括晶体管的测试元件组并测量晶体管,从而由晶体管的变化监测静电。但是,测试元件组内部的晶体管是独立形态的晶体管,其不能表示从整体上连接的、显示区域内部的多个晶体管。因此,即使测试元件组内部的晶体管因静电发生劣化,显示区域内部的晶体管也可以正常驱动,从而存在下述的缺点,即测试元件组内部的晶体管不能表示显示区域内部的晶体管。如上所述,由于测试元件组内部的晶体管是独立结构,因此 ...
【技术保护点】
一种显示装置,包括:显示部,包括显示图像的多个显示像素;以及虚拟部,包括形成在所述显示部的周边的多个虚拟像素;在所述虚拟像素内部形成有静电测试元件组。
【技术特征摘要】
2011.10.14 KR 10-2011-01054271.一种显示装置,包括:显示基板;密封部件,位于所述显示基板之上;密封剂,位于所述显示基板与所述密封部件之间;驱动电路,位于所述密封剂的周界之外;显示部,位于所述密封剂的周界之内并包括显示图像的多个显示像素;以及虚拟部,位于所述密封剂的周界之内并包括形成在所述显示部的周边的多个虚拟像素,在所述虚拟像素内部形成有静电测试元件组,其中,所述静电测试元件组包括多个静电晶体管,并且其中,所述多个静电晶体管的静电源电极是通过源连接部而直接互相连接的。2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,所述多个静电晶体管的静电漏电极是通过漏连接部而互相连接的。3.根据权利要求2所述的显示装置,其特征在于,所述静电晶体管包括:静电栅焊盘,连接至静电栅电极;静电源焊盘,连接至所述静电源电极;以及静电漏焊盘,连接至所述静电漏...
【专利技术属性】
技术研发人员:李在燮,郑仓龙,朴容焕,权暻美,
申请(专利权)人:三星显示有限公司,
类型:发明
国别省市:
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