内窥镜、内窥镜检测系统及超导腔内表面检测系统技术方案

技术编号:8592840 阅读:200 留言:0更新日期:2013-04-18 05:54
本发明专利技术涉及一种内窥镜、内窥镜检测系统及超导腔内表面检测系统。其中,内窥镜包括支承杆,所述支承杆上设置有照明组件和用于反射所述照明组件出射的光的光反射部,所述支承杆的一端套有吸光罩,所述吸光罩的中心部位开设有透光区域。内窥镜检测系统包括所述内窥镜,所述透光区域的中心轴线延伸方向上设置有成像系统。超导腔内表面检测系统包括超导腔和所述内窥镜检测系统,所述内窥镜检测系统用于检测所述超导腔的内表面。本发明专利技术提高了观测精度,具有结构简单、成本低等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超导腔检测技术,特别涉及一种内窥镜、内窥镜检测系统及超导腔内表面检测系统
技术介绍
超导腔内表面的平整性是超导腔的重要性能之一。超导腔内表面的检测方法,通常是将内窥镜伸入超导腔内,采用成像系统观察超导腔内表面的微观结构,如观察超导腔内表面是否存在裂痕、气泡坑(俗称猫眼)等表面缺陷。现有技术为了达到较高的观测精度,往往需要采用精密的光学系统,造价昂贵,成本高。
技术实现思路
在下文中给出关于本专利技术的简要概述,以便提供关于本专利技术的某些方面的基本理解。应当理解,这个概述并不是关于本专利技术的穷举性概述。它并不是意图确定本专利技术的关键或重要部分,也不是意图限定本专利技术的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念,以此作为稍后论述的更详细描述的前序。本专利技术提供一种内窥镜、内窥镜检测系统及超导腔内表面检测系统,有利于提高观测精度,简化结构,降低成本。一方面,本专利技术提供了一种内窥镜,包括支承杆,所述支承杆上设置有照明组件和用于反射所述照明组件出射的光的光反射部,所述支承杆的一端套有吸光罩,所述吸光罩的中心部位开设有透光区域。另一方面,本专利技术还提供了一种内窥镜检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内窥镜,其特征在于,包括:支承杆,所述支承杆上设置有照明组件和用于反射所述照明组件出射的光的光反射部,所述支承杆的一端套有吸光罩,所述吸光罩的中心部位开设有透光区域。

【技术特征摘要】
1.一种内窥镜,其特征在于,包括支承杆,所述支承杆上设置有照明组件和用于反射所述照明组件出射的光的光反射部,所述支承杆的一端套有吸光罩,所述吸光罩的中心部位开设有透光区域。2.根据权利要求1所述的内窥镜,其特征在于 所述照明组件上还套设有漫反射罩;和/或,所述照明组件包括沿支承杆的长度方向分布的多个LED灯组;和/或,所述内窥镜还包括光反射部转动装置,用于转动所述光反射部以调节所述光反射部的光反射角度。3.根据权利要求1或2所述的内窥镜,其特征在于,所述吸光罩为黑色光罩;和/或,所述光反射部为反射镜。4.根据权利要求2所述的内窥镜,其特征在于,所述漫反射罩为具有一定透光度的纸罩。5.—种内窥镜检测系统,其特征在于,包括如权利要求1-4任一所述的内窥镜,所述透光区域的中心轴线延伸方向上设置有成像系统。6.根据权利要求5所述的内窥镜检测系统,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘振超高杰李中泉
申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1