一种PTC热敏电阻综合参数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子元器件的参数测试领域，涉及一种PTC热敏电阻综合参数测试装置，包括电源箱(1)、主测试控制柜(2)、PC计算机(3)和串行通信电线(4)。电源箱负责输出测试所需的可调电压至主测试控制柜，主测试控制柜负责所有测试工作，PC计算机与主测试控制柜以串行通信电线连接，用来启动或停止测试，以及显示返回的测试数据。采用本装置可以高效可靠地测试PTC的各项性能参数，包括工作电压、起始电阻、最大电流、动作时间、稳态电流、消耗功率、恢复时间、最小电阻、耐电压后电阻等参数，测试既可以单独、也可以多个参数组合一起测试，以及自动循环测试等，本实用新型专利技术结构简单，成本较低，维护方便，测试结果精准可靠，抗干扰能力非常强。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子元器件的参数测试领域，特别涉及一种PTC热敏电阻综合参数测试装置。
技术介绍
PTC是Positive Temperature Coefficient的缩写，意为正的温度系数,泛指正温度系数很大的半导体材料或元器件。PTC热敏电阻是一种具有典型温度敏感性的半导体电阻，超过一定的温度时，它的电阻值随着温度的升高呈阶跃性的增大；或者说PTC电阻因流过较大电流致发热时，将导致其阻值迅速增大而电流急剧减少。PTC生产和使用厂家，为了生产与应用的需要，必须对PTC的各项性能进行严格的测试。目前，不少厂家采用人工测试方法或单一参数功能的测试设备，国内虽然有PTC综合参数测试设备，但一般均采用PC计算机作为主控制器，这种设备的特点是PC输出线路结构比较复杂，使用维护不方便，系统的精度、可靠性与抗干扰性能相应下降，整机系统的成本也比较高。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的问题，本技术的目的是在于提供一种结构简单，成本较低，维护方便，系统精准可靠，抗干扰能力强的PTC热敏电阻综合参数测试装置。为达到上述目的，本专利技术通过以下技术方案来实现一种PTC热敏电阻综合参数测试装置，如附图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PTC热敏电阻综合参数测试装置，包括电源箱(1)、主测试控制柜(2)、PC计算机(3)和串行通信电线(4)，其特征是主控制柜(2)由核心控制模块(5)、数字组合表(6)、电流测试模块(7)、电阻测试模块(8)、继电器控制与过流保护模块(9)、可调限流电阻(10)、PTC热敏电阻测试工位(11)组成，主测试控制柜(2)与PC计算机(3)通过通信电线(4)连接。

【技术特征摘要】
1.一种PTC热敏电阻综合参数测试装置，包括电源箱(I)、主测试控制柜(2)、PC计算机⑶和串行通信电线(4)，其特征是主控制柜⑵由核心控制模块(5)、数字组合表(6)、电流测试模块(7)、电阻测试模块(8)、继电器控制与过流保护模块(9)、可调限流电阻(10)、PTC热敏电阻测试工位(11)组成，主测试控制柜(2)与PC计算机(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴定祥，孙明，贺慧勇，
申请(专利权)人：长沙亿旭机电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：