一种三维近场扫描系统技术方案

本发明专利技术涉及一种三维近场扫描系统，包括馈源、用于支撑所述馈源的第一定位装置、采集单元、用于支撑采集单元的第二定位装置、支撑待测试的介质板的第三定位装置、分析单元、处理单元及控制单元；所述分析单元用于将接收到的电磁波信号转换为数字信号，并发送给处理单元；所述处理单元用于处理接收到的数字信号；所述控制单元，控制第一定位装置、第二定位装置及第三定位装置，使得馈源、采集单元及待测试的介质板均可在三维空间中移动。本发明专利技术中，馈源、待测试的介质板及采集单元的位置均是三维可调，且由控制单元自动控制，无需手动调节，不仅提高了测试的效率，并且馈源、待测试介质板以及采集单元三者的位置定位非常准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电磁场检测领域，更具体地说，涉及一种三维近场扫描系统。
技术介绍
测量一件介质板对电磁波的响应特征，需要用一个馈源发射电磁波，然后用一个采集设备来采集馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化，推导出介质材料对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统，馈源、介质板及采集单元的位置都是手工调节的，测试效率低，定位又不准确。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是，针对现有的三维近场扫描系统测试效率低、定位不准确的缺陷，提供一种三维近场扫描系统。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种三维近场扫描系统，包括馈源、第一定位装置、采集单元、第二定位装置、设置在第一定位装置与第二定位装置之间的第三定位装置、分析单元、处理单元及控制单元；所述馈源，用于产生电磁波；所述第一定位装置，用于支撑所述馈源；所述采集单元，用于采集其附近的电磁波信号，并将其发送给分析单元；所述第二定位装置，用于支撑采集单元；所述第三定位装置，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维近场扫描系统，其特征在于，包括馈源、第一定位装置、采集单元、第二定位装置、设置在第一定位装置与第二定位装置之间的第三定位装置、分析单元、处理单元及控制单元；所述馈源，用于产生电磁波；所述第一定位装置，用于支撑所述馈源；所述采集单元，用于采集其附近的电磁波信号，并将其发送给分析单元；所述第二定位装置，用于支撑采集单元；所述第三定位装置，用于支撑待测试的介质板；所述分析单元，用于将接收到的电磁波信号转换为数字信号，并发送给处理单元；所述处理单元，用于处理接收到的数字信号；所述控制单元，控制第一定位装置、第二定位装置及第三定位装置，使得馈源、采集单元及待测试的介质板均可在三维空间中移动。

【技术特征摘要】
1.一种三维近场扫描系统，其特征在于，包括馈源、第一定位装置、采集单元、第二定位装置、设置在第一定位装置与第二定位装置之间的第三定位装置、分析単元、处理单元及控制单元； 所述馈源，用于产生电磁波； 所述第一定位装置，用于支撑所述馈源； 所述采集単元，用于采集其附近的电磁波信号，并将其发送给分析単元； 所述第二定位装置，用于支撑采集单元； 所述第三定位装置，用于支撑待测试的介质板； 所述分析単元，用于将接收到的电磁波信号转换为数字信号，并发送给处理単元； 所述处理単元，用于处理接收到的数字信号； 所述控制単元，控制第一定位装置、第二定位装置及第三定位装置，使得馈源、采集单元及待测试的介质板均可在三维空间中移动。2.根据权利要求1所述的三维近场扫描系统，其特征在于，所述采集单元为喇叭天线。3.根据权利要求1所述的三维近场扫描系统，其特征在于，所述分析单元为矢量网络分析仪。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，季春霖，杨松涛，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，深圳光启创新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：