一种基于合成孔径聚焦图像的目标测距方法技术

本发明专利技术公开了一种基于合成孔径聚焦图像的目标测距方法。本发明专利技术包括：步骤1、利用小孔成像模型摄像机获取与目标视线垂直的等间隔线阵机位图像序列，线阵与目标视线交点处机位的图像作为基准图像；步骤2、将可测距离范围分成多个距离段，获取各距离段所对应的像差校正叠加图像；每一个距离段对应一幅像差校正叠加图像；步骤3、计算基准图像中每个像素的邻域与每一幅像差校正叠加图像中相应区域的相似度，并选取相似度随像差校正叠加图像变化的范围大于一预设阈值的像素作为可测距像素；步骤4、相似度最大的像差校正叠加图像所对应的距离段即为该可测距像素对应目标点所处的距离段。本发明专利技术具有实现成本低、抗干扰能力强、算法简单等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测距方法，尤其涉及，属于测绘

技术介绍
测量目标距离的方法有多种，如基于激光脉冲时间差的点测距法、基于幅度调制波相位差的深度获取、几何光学聚焦法、Moire拓扑技术、全息干涉测量法、Fresnel衍射技术和结构光法等。超声也常用来获取深度信息。计算机立体视觉技术近年来在许多领域得到广泛应用。基本方法是从两个或多个视点去观察同一场景，获得在不同视角下的一组图像，获得不同图像中对应像素间的视差，然后通过三角计算测量出场景中目标的深度信息，它需要确定双目或多目图像中的对应点，这是一个很困难的问题。当空间三维场景被投影为二维图像时，一些有用信息由于投影而丢失了，同一景物在不同视点下的图像中会有很大的不同，受遮挡或阴影的影响，景物的若干点有可能不出现在所有图像中，而且场景中的诸多变化因素，如光照条件、噪声干扰、景物几何形状的畸变、表面物理特性以及摄像机特性等，都被综合到单一的图像灰度值中，要仅由这一灰度值确定以上诸多因素是十分困难的，至今这个问题还没有得到很好的解决。增大基线长度可以改善深度测量精度，但同时会增大图像间的差异，增加匹配的困难程度。多机位小孔成像可合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于合成孔径聚焦图像的目标测距方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、利用小孔成像模型摄像机获取与目标视线垂直的等间隔线阵机位图像序列，线阵与目标视线交点处机位的图像作为基准图像；步骤2、将可测距离范围分成多个距离段，对于每一个距离段，先分别计算出所述图像序列中各幅图像与基准图像之间的像差，然后将图像序列中各幅图像进行像差校正后进行叠加，得到该距离段所对应的像差校正叠加图像；每一个距离段对应一幅像差校正叠加图像；步骤3、计算基准图像中每个像素的邻域与每一幅像差校正叠加图像中相应区域的相似度，并选取相似度随像差校正叠加图像变化的范围大于一预设阈值的像素作为可测距像素；步骤4、对于基准图像中的...

【技术特征摘要】
1.一种基于合成孔径聚焦图像的目标测距方法，其特征在于，包括以下步骤 步骤1、利用小孔成像模型摄像机获取与目标视线垂直的等间隔线阵机位图像序列，线阵与目标视线交点处机位的图像作为基准图像； 步骤2、将可测距离范围分成多个距离段，对于每一个距离段，先分别计算出所述图像序列中各幅图像与基准图像之间的像差，然后将图像序列中各幅图像进行像差校正后进行叠加，得到该距离段所对应的像差校正叠加图像；每一个距离段对应一幅像差校正叠加图像； 步骤3、计算基准图像中...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈广东，张凯，何敏，王学孟，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：