本实用新型专利技术公开了一种过零检测电路，其包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。本实用新型专利技术提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种过零检测电路，具体说，是涉及一种既能够正确检测过零点、又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路。
技术介绍
在一些交流调压或交流控制系统中，需要知道交流电的过零点，以便以此为基准，对交流电的通、断进行控制，以便得到想要的输出，过零点的可靠性对控制的品质有着直接的影响，如果过零检测回路出现异常，就会直接影响到输出，情况严重的会对设备或系统造成安全隐患，但目前没有一种既能够正确检测到过零点，又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路的相关技术报道，现有技术不能对过零检测电路的安全进行有效防护，引起后续系统的不稳定性。
技术实现思路
针对现有技术存在的上述问题，本技术的目的是提供一种既能够正确检测过零点、又能够自行诊断是否有异常的过零检测电路。为实现上述技术目的，本技术采取的技术方案如下一种过零检测电路，包括电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PCl和内设切断电路单元的MCIKMCU是微程序控制器Microprogrammed Control Unit的英文缩写),所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PCl的I号和2号接入口接入光耦PCl中，电阻R9通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3号端口接地。作为一种优选方案，光耦PCl输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%。作为进一步优选方案，高电平输出时间为10ms，低电平输出时间也为10ms。本技术的工作过程如下当过零检测电路开始运行后，MCU将实时采集光耦PCl的输出状态，并计算高低电平输出时间和低电平输出时间是否均为IOms ;若该状态维持IOms后发生状态转换，则对转换后的状态进行计时，反之则说明发生故障；MCU对刚发生状态转换后的电路继续进行状态是否维持IOms后发生状态转换的判断，如果是，则进行正常处理，反之则说明发生故障；对故障进行故障处理后结束。与现有技术相比，本技术提供的过零检测电路，不仅能够正确检测过零点，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路的异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。附图说明图1是本技术提供的一种过零检测电路的结构示意图；图2是本技术提供的过零检测电路的工作流程示意图。具体实施方式以下结合附图及其实施例对本技术进一步详细地说明如图1所示本技术提供的一种过零检测电路，包括电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PCl和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PCl的I号和2号接入口接入光耦PCl中，电阻R9通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3号端口接地。作为一种优选方案，光耦PCl输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%;即高电平输出时间为10ms，低电平输出时间也为10ms。如图2所示，本技术的工作过程如下当过零检测电路开始运行后，MCU将实时采集光耦PCl的输出状态，并计算高低电平输出时间和低电平输出时间是否均为IOms ;若该状态维持IOms后发生状态转换，则对转换后的状态进行计时，反之则说明发生故障；MCU对刚发生状态转换后的电路继续进行状态是否维持IOms后发生状态转换的判断，如果是，则进行正常处理，反之则说明发生故障；对故障进行故障处理后结束。综上所述可见本技术提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路的异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。最后有必要在此说明的是上述内容只用于对本技术的技术方案作进一步详细说明，不能理解为对本技术保护范围的限制，本领域的技术人员根据本技术的上述内容作出的一些非本质的改进和调整均属于本技术的保护范围。权利要求1.一种过零检测电路，其特征在于，包括电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PCl和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PCl的I号和2号接入口接入光耦PCl中，电阻R9通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通过光耦PCl的4号接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3号端口接地。2.根据权利要求1所述的过零检测电路，其特征在于光耦PCl输出高、低电平的频率是50HZ，占空比为50%ο专利摘要本技术公开了一种过零检测电路，其包括电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。本技术提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。文档编号G01R19/175GK202837385SQ201220494439公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月25日 优先权日2012年9月25日专利技术者秦吉芳, 洪浩, 王伟峰 申请人:上海微频莱机电科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种过零检测电路，其特征在于，包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：秦吉芳，洪浩，王伟峰，
申请(专利权)人：上海微频莱机电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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