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本实用新型公开了一种过零检测电路，其包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1...
该专利属于上海微频莱机电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海微频莱机电科技有限公司授权不得商用。

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