用于RCS测试的背景提取方法和装置制造方法及图纸

技术编号:8488980 阅读:213 留言:0更新日期:2013-03-28 07:28
本发明专利技术提供一种用于RCS测试的背景提取方法,包括:获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列,计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为RCS测试的背景散射波。本发明专利技术还提供一种用于RCS测试的背景提取装置,包括:可旋转二面角反射器和处理器;所述可旋转二面角反射器用于反射雷达信号;所述处理器用于测量所述可旋转二面角反射器的回波信号、获取所述回波信号的数学期望值,所述回波信号的数学期望值作为RCS测试的背景散射波。本发明专利技术提供的用于RCS测试的背景提取方法和装置,可以解决现有背景提取技术中辅助测量载体体积过大和辅助测量载体平移范围过大导致的不便于测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达信号处理技术,尤其是涉及一种用于雷达散射截面RCS测试的背景提取方法和装置。
技术介绍
在隐身目标的研制过程中,需要在对目标缩比模型、全尺寸目标进行静态或动态的测量,对所设计目标的RCS进行诊断测量和评估。RCS测试中,通常采用固定设置的支架以支撑目标,支架顶部安装有目标转顶以使目标旋转。在隐身目标RCS的测试中,场地和支架背景往往是影响目标RCS测量精度的主要因素,为了提高测量精度,通常需要对测量数据采用背景相减处理等技术。因此,现有的背景提取辅助测量技术要求测试系统具有测量并提取测试场和测量支架的背景回波能力。具体来说,现有的背景提取辅助测量技术主要是在支架顶端安装一个自身可以前后平移运动的辅助测量载体。测试时,使该载体作前后平移运动,平移的距离需要与雷达波长成正比,记录雷达回波幅度和相位,供后续处理以提取出背景回波。但是,对于大型目标RCS测试场,由于目标转顶的尺寸很大,而测量中需要把转顶掩藏于载体中,因此所设计的辅助测量载体尺寸必然很大;并且还需要设计驱动装置来驱动载体平移,这对于低频测试来说,由于波长大,该载体需要平移的距离非常大,因此不便于测试。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于RCS测试的背景提取方法和装置,以解决现有背景提取辅助测量技术中辅助装置体积过大及辅助装置平移范围过大导致的不便于测试的问题。本专利技术提供一种用于RCS测试的背景提取方法,包括获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列;计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为所述RCS测试的背景散射波。进一步地,该方法中,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列包括控制直角二面角反射器绕雷达发射方向旋转至少一周,测量获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列。进一步地,该方法中,所述测量获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列包括测量获取不同极化组合下的四种回波信号Vtt、Vvv、Vhv、Vvh,其中,Vhh为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量;Vvv为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量;vhv为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量;Vvh为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量;所述计算获取所述回波信号序列的数学期望值,包括分别计算获取所述Vvv, Vhv, Vvh序列的数学期望值。进一步地,该方法中,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号之前,还包括确定使得所述直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸。进一步地且优选地,该方法中,所述直角二面角反射器为矩形直角二面角反射器或菱形直角二面角反射器。进一步地且优选地,该方法中,确定使得矩形直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸,包括采用公式(I)、公式(2)和公式(3)的约束条件,确定所述矩形直角二面角反射器中各矩形的宽度w和长度h kw >> I(I)kh >> I(2)toon]权利要求1.一种用于RCS测试的背景提取方法,其特征在于,包括 获取直角二面角反射器所反射的雷达发射信号的回波信号序列; 计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为所述RCS测试的背景散射波。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列,包括 控制直角二面角反射器绕雷达发射方向旋转至少一周,测量获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列,包括 获取不同极化组合下的四种回波信号序列vtt、Vvv, Vhv, Vvh ; 其中,Vhh为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量; Vvv为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量; Vhv为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量; Vvh为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量; 所述计算获取所述回波信号序列的数学期望值,包括 分别计算获取所述Vvv, Vhv, Vvh序列的数学期望值。4.根据权利要求广3任一所述的方法,其特征在于,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列之前,还包括 确定使得所述直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述直角二面角反射器为矩形直角二面角反射器或菱形直角二面角反射器。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,确定使得矩形直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸,包括 采用公式(I)、公式(2)和公式(3)的约束条件,确定所述矩形直角二面角反射器中各矩形的览度w和长度h kw >> I(I) kh >> I(2) 其中,k为雷达发射信号的波矢量,A为雷达发射信号的波长,Omax为所述矩形直角二面角反射器的最大RCS,T为预设值。7.一种用于RCS测试的背景提取装置,其特征在于,包括可旋转二面角反射器和处理器; 所述可旋转二面角反射器,用于反射雷达信号;所述处理器,用于测量所述可旋转二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列,获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为所述RCS测试的背景散射波。8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述可旋转二面角反射器,包括直角二面角反射器和控制机构; 所述控制机构包括连接杆、旋转控制设备、支撑件以及吸波材料; 所述连接杆的一端与所述直角二面角反射器连接,所述连接杆的另一端与所述旋转控制设备连接; 所述旋转控制设备,用于控制所述直角二面角反射器绕雷达信号的发射方向旋转; 所述支撑件,用于支撑所述旋转控制设备; 所述吸波材料,用于对所述控制机构上的散射源进行遮挡。9.根据权利要求7或8所述的装置,其特征在于,所述直角二面角反射器为菱形直角二面角反射器或矩形直角二面角反射器。10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,矩形直角二面角反射器中各矩形的宽度w和长度h满足公式(I)、公式(2 )和公式(3 )的约束条件全文摘要本专利技术提供一种用于RCS测试的背景提取方法,包括获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列,计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为RCS测试的背景散射波。本专利技术还提供一种用于RCS测试的背景提取装置,包括可旋转二面角反射器和处理器;所述可旋转二面角反射器用于反射雷达信号;所述处理器用于测量所述可旋转二面角反射器的回波信号、获取所述回波信号的数学期望值,所述回波信号的数学期望值作为R本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于RCS测试的背景提取方法,其特征在于,包括:获取直角二面角反射器所反射的雷达发射信号的回波信号序列;计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为所述RCS测试的背景散射波。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:许小剑
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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