本发明专利技术公开提供了一种直流电阻测试仪校准系统,该系统采用电气虚拟复现标准实物电阻方式,根据第一校准支路得到直流电阻测试仪电压反馈端的输入阻抗,并根据第二校准支路得到直流电阻测试仪的输出电流,从而虚拟复现出标准实物电阻。该系统利用电气虚拟复现标准实物电阻的方式对直流电阻测试仪进行校准,解决了现有技术中由于直流电阻测试仪的校准采用多点校准的方式,同时不同的直流电阻测试仪电流输出档位、电阻测量范围差别较大,标准实物电阻阻值单一,因而标准实物电阻阻值不能完全覆盖直流电阻测试仪电阻测量范围的问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电器仪表校验技术,更具体的说是涉及一种直流电阻测试仪校准系统。
技术介绍
直流电阻测试仪是具有微欧、毫欧或更高量程的电阻测量仪器,其量程范围一般在O Ω 1001 Ω,其主要 用途是测试线圈的电阻、导线电阻、接触电阻、焊接电阻和铆接电阻,在工程测试中有广泛的应用。直流电阻测试仪测量电阻采用四端测量的电流电压法。直流电阻测试仪中内置直流电流源,当直流电流源输出的直流电流I流经被测电阻时,被测电阻两端将产生电压降U,直流电阻测试仪通过检测该电压降U以及电流源输出电流I,并利用欧姆定律R=U/I,计算得到被测电阻的电阻值。在应用直流电阻测试仪测量电阻值之前必须对其进行校准,一般可以根据上面描述的直流电阻测试仪测量电阻的原理,用已知电阻值的标准实物电阻作为被测电阻,将仪器测得的电阻值与该标准实物电阻的电阻值作比较,以便确定该直流电阻测试仪的测量值是否准确,实现校准目的。然而,由于不同的直流电阻测试仪电流输出档位、电阻测量范围差别较大,校准时需要对该直流电阻测试仪不同电流档位的电阻测量性能进行考核,针对每个电流档位又要进行多点校准。在标准实物电阻配备上,就需要预先制作出多个额定电流,多个不同电阻值的标准实物电阻。例如,被校直流电阻测试仪ImA电流档电阻测量范围为200Ω 20k Ω,IA电流档电阻测量范围为IOOmΩ 20 Ω,IOA电流档电阻测量范围为ImQ 2Ω,为实现对其不同电流档位多个测量点的校准,标准实物电阻配备的规格差别很大,数量繁多,投资巨大,且采用这种方式很难达到对不同电阻测试仪测量量程的完全覆盖,从而增大了校准工作的复杂度和难度。专利
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种直流电阻测试仪校准系统,以降低直流电阻测试仪的校准难度和复杂度,提高校准的便捷性。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案—种直流电阻测试仪校准系统,包括待校准直流电阻测试仪、第一校准支路和第二校准支路;其中,所述第一校准支路的两个引出端分别与所述直流电阻测试仪的两个电压反馈端相连;所述第二校准支路的两个引出端分别与所述直流电阻测试仪的两个电流输出端相连;所述第一校准支路包括测量流经所述第一校准支路的第一电流值的第一电流测量模块和与所述第一电流测量模块串联的电压源输出模块,其中所述电压源输出模块能够提供不同电压值的输出电压;所述第二校准支路包括测量流经所述第二校准支路的第二电流值的第二电流测量模块,其中,流经所述第二校准支路的第二电流即为所述直流电阻测试仪的输出电流。优选的,所述第一电流测量模块包括阻值为第一电阻值的第一电阻以及与所述第一电阻并联的第一电压表。优选的,所述第二电流测量模块包括阻值为第二电阻值的第二电阻以及与所述第二电阻并联的第二电压表。优选的,所述系统还包括第一校准模块;所述第一校准模块与所述电压源输出模块、所述第一电流测量模块以及所述第二电流测量模块相连;所述第一校准模块采集流经所述第一校准支路的第一电流值、流经所述第二校准支路的第二电流值以及控制所述电压源输出模块当前输出的电压值;参照欧姆定律,并根据所述第一电流值和所述电压源输出模块当前输出的电压值计算出所述直流电阻测试仪电压反馈端的输入阻抗值;所述第一校准模块根据当前待虚拟复现的标准实物电阻的电阻值,并结合所述输入阻抗值和第二电流值,根据待虚拟复现的标准实物电阻与输入阻抗的并联关系,利用欧姆定律,计算出所述电压源输出模块待输出的电压值,并控制所述电压源输出模块输出所述待输出的电压值。优选的,所述系统还包括第二校准模块;所述第二校准模块与所述电压源输出模块、所述第一电流测量模块以及所述第二校电流测量模块相连;所述第二校准模块采集流经所述第一校准支路的第一电流值、流经所述第二校准支路的第二电流值以及控制所述电压源输出模块当前输出的电压值;参照欧姆定律,并根据所述第一电流值和所述电压源输出模块当前输出的电压值计算出所述直流电阻测试仪电压反馈端的输入阻抗值;结合所述电压源输出模块输出的电压值、所述输入阻抗值和所述第二电流值,根据待虚拟复现的标准实物电阻与输入阻抗的并联关系,利用欧姆定律,计算出虚拟复现的标准实物电阻的电阻值。优选的,所述校准模块包括参数采集模块以及与所述参数采集模块相连的计算模块;所述参数采集模块采集所述电压源输出模块的输出电压值、所述第一电流测量模块输出的第一电流值以及所述第二电流测量模块输出的第二电流值,并将采集到的所述参数发送至所述计算模块;所述计算模块于接收所述参数采集模块发送的参数并根据所述参数进行计算。优选的,所述校准模块与打印设备相连;所述打印设备接收所述校准模块输出的计算结果,并打印输出所述计算结果。经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本专利技术公开提供了一种直流电阻测试仪校准系统,该系统采用电气虚拟复现标准实物电阻方式,根据第一校准支路得到直流电阻测试仪电压反馈端的输入阻抗,并根据第二校准支路得到直流电阻测试仪的输出电流,从而虚拟复现出标准实物电阻。该系统利用电气虚拟复现标准实物电阻的方式对直流电阻测试仪进行校准,解决了现有技术中由于直流电阻测试仪的校准采用多点校准的方式,同时不同的直流电阻测试仪电流输出档位、电阻测量范围差别较大,标准实物电阻阻值单一,因而标准实物电阻阻值不能完全覆盖直流电阻测试仪电阻测量范围的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1示出了本专利技术一种直流电阻测试仪校准系统一个实施例的结构示意图;图2示出了本专利技术一种直流电阻测试仪校准系统的校准模块的连接示意图;图3示出了本专利技术一种直流电阻测试仪校准系统另一个实施例的结构示意图;图4示出了本专利技术一种直流电阻测试仪校准系统的循环工作模式流程图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。参见图1,示出了本专利技术一种直流电阻测试仪校准系统一个实施例的结构示意图,本实施例中,该直流电阻测试仪校准系统包括待校准直流电阻测试仪1、与所述直流电阻测试仪I的两个电压反馈端相连的第一校准支路以及与所述直流电阻测试仪I的两个电流输出端相连第二校准支路。其中,该第一校准支路包括测量流经第一校准支路的第一电流值的第一电流测量模块2以及与第一电流测量模块串联的可提供不同电压值的可控电压源输出模块4。该第二校准支路包括测量流经该第二校准支路的第二电流值的第二电流测量模块3。其中,流经该第二校准支路的第二电流值与该直流电阻测试仪的输出电流值相同,因此,实际上该第二直流测量模块可以测量的第二电流值就是该直流电阻测试仪的实际输出电流值。其中,可控电压源输出模块4可以向外输出不同的电压值,根据实际需要可以设定该可控电压源输出模块4输出的电压值。在本实施例中,该可控电压源输出模块向直流电阻测试仪I的电压反馈端提供反馈电压。利用本实本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种直流电阻测试仪校准系统,其特征在于,包括:待校准直流电阻测试仪、第一校准支路和第二校准支路;其中,所述第一校准支路的两个引出端分别与所述直流电阻测试仪的两个电压反馈端相连;所述第二校准支路的两个引出端分别与所述直流电阻测试仪的两个电流输出端相连;所述第一校准支路包括:测量流经所述第一校准支路的第一电流值的第一电流测量模块和与所述第一电流测量模块串联的电压源输出模块,其中所述电压源输出模块能够提供不同电压值的输出电压;所述第二校准支路包括:测量流经所述第二校准支路的第二电流值的第二电流测量模块,其中,流经所述第二校准支路的第二电流即为所述直流电阻测试仪的输出电流。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:龚金龙,陈静萍,吴江萍,孙爱强,詹洪炎,
申请(专利权)人:浙江省电力公司电力科学研究院,国家电网公司,
类型:发明
国别省市:
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