衰减全反射光学测量平台制造技术

本发明专利技术公开了一种衰减全反射光学测量平台，涉及光学测量技术，包括底座、转动臂、固定臂、测试部件等；测试部件为光波导测试装置或光波导生化传感器测试装置或棱镜全反射测试装置。固定臂与固定圆盘成一整体，转动臂与固定圆盘同轴转动连接，转动臂通过紧固螺钉锁定；固定臂与固定圆盘置于底座上方，与底座固定连接，转动臂位于底座与固定圆盘之间；测角转盘置于固定圆盘上方，与固定圆盘同轴固定连接；测试部件通过自身支杆固定在测角转盘上，光源和探测器分别固定到各自支架上，光源支架和探测器支架再通过支杆分别固定到固定臂和转动臂上，光源光穿过测试部件后被探测器接收。本发明专利技术装置入射角准确可调，可灵活接收出射光，重复性和通用性好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量
，是一种基于耦合棱镜的衰减全反射光学测量平 台，用于测试光波导导波特性、光波导传感器特性、表面等离子体共振传感器特性、薄膜样 品厚度和折射率、溶液浓度等。
技术介绍
衰减全反射技术是一种重要的光学技术，在光耦合、光传感、光谱分析、薄膜样品 测试等许多方面具有广泛应用。光在棱镜底面发生全反射时会产生消逝场，该消逝场可用 于激发表面等离子体激元(SPP)，光波导导模，荧光、拉曼信号、SHG信号，也可被分子吸收， 使得反射光能量被衰减。棱镜全反射器在光波导器件、表面等离子体共振(SPR)传感器中 常被作为光耦合器使用，而棱镜全反射器本身也是一种重要的消逝波敏感器件，常被用于 薄膜试样分析、液体浓度探测以及吸附分子的光谱测试等方面。现有的棱镜衰减全反射装 置比较专一，通用性差，不能兼顾上述各种用途。尤其是基于棱镜耦合的光波导传感器在使 用时常采用分离器件进行组装和光路调试，不便于操作，系统稳定性不高，测试重复性差。 目前还缺少可用于测试光波导传感器的小型化衰减全反射测量系统，更缺少既可用于光波 导测试、又可用于SPR测试、还可进行棱镜全反射测量的通用性测试平台本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种衰减全反射光学测量平台，包括底座、转动臂、固定臂、固定圆盘、测角转盘、光源、光源支架、探测器、探测器支架、测试部件及支杆；其特征在于，在固定圆盘侧面径向凸设有固定臂，固定圆盘与固定臂成一整体，固定圆盘中心通孔套设有轴，轴上端与固定圆盘固接，轴下端支于底座中心通孔中，固定臂与固定圆盘水平置于底座上方，由至少三组螺钉和配套垫圈与底座固定连接，固定圆盘侧面设有凹槽；固定臂外端上表面有一凹槽；转动臂内端通孔套于轴上，与固定圆盘同轴转动连接，位于底座与固定圆盘之间，转动臂外端上表面有一凹槽；转动臂内外两端之间向上凸设螺钉支架，螺钉支架中心水平螺设紧固螺钉，紧固螺钉内端头与固定圆盘侧凹槽相适配，通过紧...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：祁志美，张喆，
申请(专利权)人：中国科学院电子学研究所，
类型：发明
国别省市：