【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及飞秒激光脉冲测量，特别是一种飞秒激光脉冲形状的测量装置。
技术介绍
随着飞秒激光脉冲在科研、生物、医疗、加工、通信、国防等社会各个领域的应用的拓展与深入。飞秒激光器与相应飞秒激光技术的研究也迅速发展。飞秒激光的脉冲形状与脉冲宽度是一个飞秒激光脉冲应用中的重要的光学参量，对它的测量或实时监测在很多实验和应用中十分必要。因此，一种结构简单，实用和调节方便的激光脉冲宽度测量与实时监测的装置对于推动飞秒激光的应用非常重要。最近，一种基于交叉偏振波(cross-polarized wave,简称XPW)用作参考光的自参考光谱干涉(self-referenced spectral interferometry,简称 SRSI)方法被用来测量激光脉冲。在此方法中，仅仅需要3次简单迭代计算就可以很快获得测量激光的光谱和光谱相位。这是目前为止最为简单方便并可以进行脉冲宽度单发测量的方法。然而，该方法需要光学偏振元件。由于偏振光学元件也只对特定激光波长有效，并且有一定的光谱带宽，这样也就限制了这一方法只能在特定光谱范围内应用。 偏振光学元件的色散也使其对IOfs以下短...
【技术保护点】
一种飞秒激光脉冲形状的测量装置，特征在于其构成包括沿待测的飞秒激光脉冲光束前进方向依次的四小孔板（2）、介质延迟片（3）、部分区域镀膜反射镜（4）、抛物面反射镜（5）、三阶非线性介质片（6）、小孔光阑（7）、聚焦透镜（8）、凹面反射镜（9）和高精度光谱仪（10），该高精度光谱仪（10）的输出端接计算机（11）的输入端，所述的三阶非线性介质片（6）置于所述的抛物面反射镜（5）的焦点上，所述的待测飞秒激光脉冲光束经四小孔板（2）后分成四束激光入射所述的部分区域镀膜反射镜（4），在所述的四小孔板（2）和部分区域镀膜反射镜（4）之间的四束激光中的一束激光的光路上设置所述的介质延迟片...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘军，李方家，刘奇福，张素侠，李儒新，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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