用于对光子进行计数的装置和方法制造方法及图纸

描述了一种用于对光子进行计数的装置（10,50），具有探测器单元（12），开关单元（30,52），采样单元（36,58），串并转换单元（40）以及评价单元（49,52）。探测器单元（12）生成的探测信号（26）入射在开关单元（30,52）上。采样单元（36,58）对开关单元（30,52）生成的状态信号（32,56）进行采样并生成采样数据串。串并转换单元（40）将串行生成的采样数据组合成采样数据包。评价单元（49,62）以低于采样单元（36,58）的采样频率的预定工作周期运行。评价单元（49,58）在由工作周期定义的每一时钟周期内评价至少一个采样数据包的n位二进制值，从而确定出部分计数结果，并对在单个时钟周期中确定出的部分计数结果求和从而得到指示探测光子数目的总计数结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。本专利技术进一步地涉及装备有这种装置的光学显微镜。
技术介绍
现有技术中已知有多种用于探测单光子而产生时间连续的电探测信号的探测器，其中时间连续的电探测信号包含了用于每一探测光子的探测脉冲。这种探测脉冲的持续时间非常短，通常小于一纳秒。为了在特定时间间隔中确定出被探测器检测到的光子的数目，需要制造能够无误地对这种短探测脉冲进行计数的适用的计数装置。所使用的计数装置为规则数字模块(例如现场可编程门阵列(FPGA))，为其提供构成模块工作速度的上限的最大工作周期。这种类型的FPGA的最大工作周期依赖于，举例来说有用于分配时钟的FPGA内部网络的带宽、单个逻辑元件的信号传输时间、在逻辑元件之间的连接线中产生的信号延迟，以及这些元件布置的复杂程度。对于所使用的特定模块来说，上述变量都是典型的，并且也依赖于，举例来说是生产该模块所采用的制造工艺。采用这种数字模块，通常并不能够对那些脉冲宽度近似等于或小于由最大工作周期预定的时钟周期的探测脉冲进行计数。
技术实现思路
本专利技术的目的是描述一种用于对光子进行计数的装置，其能够可靠并精确地对那些由光子产生的、且具有很小脉冲宽度的探测脉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对光子进行计数的装置（10,50），具有：用于探测光子的探测器单元（12），其产生电的探测信号（26），该探测信号包含有用于每一探测光子的探测脉冲（28）；探测信号入射其上的开关单元（30,52），其具有多个开关状态并产生电的状态信号（32,56），该状态信号的状态信号电平与相应的开关状态相关联，其中每一个探测脉冲（28）触发一个开关状态的改变；用于串行地产生采样数据的采样单元（36,58），其以预定的采样频率对状态信号进行采样，在各种情况下，采样数据都具有用于每个状态信号电平的n位二进制值，n≥1；使串行产生的采样数据并行化的串并转换单元（40），其将预定数量的连续的采样数据分组成相...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：B·威兹高斯基，
申请(专利权)人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司，
类型：发明
国别省市：