利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统技术方案

技术编号:8451856 阅读:290 留言:0更新日期:2013-03-21 07:55
本发明专利技术公开了一种利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统,该系统利用周期结构的透射特性,把不同结构单元复合到同一区域内,得到透射峰叠加的透射谱,叠加后的透射谱将在频谱上形成频率光梳。成像光梳的透射特性与周期结构的空间排列位置有关,利用这一相关性,可以使用大光斑太赫兹光束入射到成像光梳和待测物体上,使用点探测收集透射信号。经过数据处理提取出待测物体的透射特征空间分布信息,实现快速成像。本发明专利技术适用于宽频段太赫兹成像,相对于传统的逐点扫描成像,大大节省了成像时间,为太赫兹成像检测提供了一种新思路,对太赫兹安检及识别的大规模化实用具有重大意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及太赫兹应用领域,特别涉及一种利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统,其中也涉及到太赫兹成像光梳的设计加工和成像方法。
技术介绍
随着THz科学技术越来越受到重视,其在通讯,雷达,检测,成像方面已进入实用化阶段。金属周期结构的透射反射特性在实现THz器件,如滤波器、开关、偏振器、位相延滞器等等,显示了巨大的潜力。在THz波段研究金属周期性结构的透射特性的优势在于,I)绝大部分金属在太赫兹波段几乎表现为完美导体的特性,不同金属的电导率差异不会对金属周期性结构的透射特性产生太大影响;2)在制作工艺方面,太赫兹波位于可见光和近红外波段之间,在此波段下金属周期结构的物理尺寸在微米量级,制作工艺成熟,这些都为制作太赫兹波段的器件提供了可行性。目前,太赫兹时域光谱系统成像一般采用逐点扫描成像方法,使用聚焦的太赫兹光斑在样品表面进行二维扫描,此方法根据样品尺寸和太赫兹光斑的大小,操作时间非常长。并且此扫描需要使用聚焦的太赫兹光斑,成像系统需要四个抛面镜。测量时,样品垂直放置于抛面镜焦点上,否则对实验结果会有比较大的影响,而且采用二维平移台控制样品位置,实验系统复杂,技术难本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统,其特征在于:该太赫兹时域光谱系统中太赫兹源(1)发射出来的THz脉冲(2),通过第一抛面镜(3)形成平行光束(4),该平行光束(4)依次通过复合周期结构形成的成像光梳(5)和待测物体(6),然后经过第二抛面镜(7)的光束(8)聚焦到太赫兹探测器(9)上,太赫兹探测器(9)接收的信息通过计算机(10)进行数据处理,提取出待测物体(6)的透射特征空间分布信息,实现快速成像;其中:所述的被探测器(9)是单点接收,一次探测即可得到整个待测物体空间透射信息;所述的成像光梳,利用周期性的微细结构的频率选择特性,使用不同参数周期性微细结构作为单元结构,...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:熊伟姚军张铁军汪为民
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
类型:发明
国别省市:

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