【技术实现步骤摘要】
本专利技术为一种笔式石英晶振检测装置，用于溶液中微量物质的检测，属于科学检测仪器领域。
技术介绍
石英晶体微天平(QCM)是一种新型传感器测量技术，它利用石英振子的频率变化与晶体表面的质量变化成正比的原理，可检测电极表面ng级的质量变化及溶液粘度、密度、修饰膜粘弹性等参数的变化，具有灵敏度高，可以实时测量等特点，可作为在线跟踪监测微观过程变化的手段，在现代化学、材料科学、生物学和医学等领域开展微观过程和作用机理的探索研究中呈现出良好的发展前景。石英晶振检测装置的核心部件是石英晶体传感器芯片，石英晶振检测装置是一种承载传感器芯片的支撑系统，该系统的结构对保障石英晶体传感器芯片正常工作起着至关重要的作用。在液相微量物质的检测中，现有的石英晶体传感器芯片支撑系统，均采用检测池体结构，检测时需将待测样品加入检测池或用蠕动泵输送到检测池内与传感器芯片接触实施检测。这种芯片支撑系统的应用具有局限性，不能适用于现场在线实时监测等诸多场所。芯片支撑系统设计技术的滞后限制了石英晶振传感器的有效实现和推广应用。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种笔式石英晶振检测装置，以一种新的结...
【技术保护点】
一种笔式石英晶振检测装置，主要由传感器芯片及其支撑系统构成，其特征在于，它由传感器芯片（8）、套管（6）、芯体（3）、导线（1）、导线护套（2）、电极引线（4）、弹簧电极（5）组成，所述传感器芯片（8）的两个电极触点设在同一面且触点面朝向套管（6），并固定在套管（6）端部。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：崔学晨，封雷，王保民，叶献峰，崔实，张利群，孙宪光，
申请(专利权)人：崔学晨，
类型：发明
国别省市：
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