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一种石英晶体微天平检测池制造技术

技术编号:8451825 阅读:157 留言:0更新日期:2013-03-21 07:54
一种石英晶体微天平检测池,属于科学检测仪器领域,用于液相试样检测。它由法兰状壳体内装石英晶体片构成,在法兰状壳体内壁靠近法兰凸缘端处设置凸起台阶,石英晶体片置于该台阶处,石英晶体片直径与法兰状壳体内径零间隙配合,法兰状壳体采用弹性材料,石英晶体片采用两个电极触点位于一面的石英晶体片。本发明专利技术提供的石英晶体微天平检测池,能够有效避免石英晶体片在振荡方向上受安装应力的影响,并且结构简单、可以灵活拆装或更换。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种石英晶体微天平检测池,即装有石英晶体片的检测池,用于液相试样检测。
技术介绍
石英晶体微天平(QCM)是一种新型传感器测量技术。它利用石英振子的频率变化与晶体表面的质量变化成正比的原理,可检测电极表面ng级的质量变化及溶液粘度、密度、修饰膜粘弹性等参数的变化,具有灵敏度高,可以实时测量等特点,可作为在线跟踪监测微观过程变化的手段,在现代化学、材料科学、生物学和医学等方面开展微观过程和作用机理的探索研究中呈现出良好的发展前景。针对液相检测对象的石英晶体微天平(QCM)检测仪器,其核心部件是装有石英晶体片的检测池。由于石英晶体片所具有的特性,使得它在检测池中的安装设计有较高的要求,即在严格密封和绝缘的情况下尽量避免其振荡方向的附加安装应力。现有技术通常采用O型密封胶圈或是在石英晶体片外缘堆胶等措施,能够解决密封和绝缘问题,但不能很好的解决附加的安装应力问题,或者虽然同时考虑到安装应力问题,但其设计存在结构复杂、不能灵活拆装或更换的弊端。例如中国专利申请号为200910065451. 2的“一种石英晶体传感器检测池”,2004年4月14日公开的“CN1489825芯片石英振荡器和液相检测器”以及1999年6月5日公告授权的“CN2328998电化学现场石英晶体微天平检测池”。
技术实现思路
本专利技术针对上述现有技术的不足,提供一种石英晶体微天平检测池,旨在避免石英晶体片安装在检测池中所受振荡方向的安装应力,并且可以灵活拆装或更换。为解决上述技术问题,本专利技术采取以下技术方案,一种石英晶体微天平检测池,由法兰状壳体内装石英晶体片构成,在法兰状壳体内壁靠近法兰凸缘端处设置凸起台阶,石英晶体片置于该台阶处,石英晶体片直径与法兰状壳体内径零间隙配合,处于紧固状态以达到密封效果,法兰状壳体采用弹性材料,石英晶体片采用两个电极触点位于一面的石英晶体片,两个电极触点朝向法兰凸缘端,法兰凸缘作为卡扣便于与电极引线机构灵活连接。为使石英晶体片与法兰状壳体内壁零间隙配合以紧固密封,可采取不同结构形式,其一,安装前将法兰状壳体加热,安装后冷却即可;其二,先将石英晶体片安置于法兰状壳体内台阶处,再将一刚性管箍套在法兰状壳体外壁,所述刚性管箍的内壁与法兰状壳体的外壁过盈配合;其三,在石英晶体片外缘套装O型密封圈使之与法兰状壳体内壁形成弹性紧配合。本专利技术提供的石英晶体微天平检测池的有益效果是,能够有效避免石英晶体片安装在检测池中所受振荡方向的安装应力,并且结构简单、可以灵活拆装或更换。附图说明图I为本专利技术的法兰状壳体的外观 图2为本专利技术的法兰状壳体的剖视 图3为本专利技术的实施例I将石英晶体片装入法兰状壳体的剖视 图4为本专利技术的实施例2装入石英晶体片并外套刚性管箍的剖视 图5为本专利技术的实施例3以O型密封圈方式安装的剖视图。图中,I—法兰状壳体,2—内壁台阶,3—石英晶体片,4一刚性管箍,5—O型密封圈。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。如附图所示,一种石英晶体微天平检测池,由法兰状壳体I内装石英晶体片3构成,在法兰状壳体I内壁靠近法兰凸缘端处设置凸起的内壁台阶2,石英晶体片3置于该台阶处,石英晶体片3直径与法兰状壳体I内径零间隙配合,处于紧固状态并达到密封效果,法兰状壳体I采用弹性材料,石英晶体片3采用两个电极触点位于一面的专用石英晶体片,两个电极触点朝向法兰凸缘端,法兰凸缘作为卡扣便于与电极引线机构灵活连接。为使石英晶体片3与法兰状壳体I内壁零间隙配合以紧固密封,可采取不同结构型式。实施例1,如图2、图3所示,用弹塑性材料制成法兰状壳体1,将法兰状壳体I加热略软化并使之膨胀,再将石英晶体片3安置于法兰状壳体I内壁台阶2处,冷却即可。实施例2,如图2、图4所示,先将石英晶体片3安置于法兰状壳体I内壁台阶2处,再将一刚性管箍4套在法兰状壳体I外壁,所述刚性管箍4的内壁与法兰状壳体I的外壁过盈配合。实施例3,如图2、图5所示,在石英晶体片3外缘套装O型密封圈5,然后安置于法兰状壳体I内壁台阶2处,使之与法兰状壳体I内壁形成弹性紧配合。权利要求1.一种石英晶体微天平检测池,主要由法兰状壳体和石英晶体片构成,其特征是,在所述法兰状壳体(I)内壁设置凸起的内壁台阶(2),石英晶体片(3)置于该台阶处,石英晶体片(3)直径与法兰状壳体(I)内径零间隙配合,法兰状壳体(I)采用弹性材料,石英晶体片(3)采用两个电极触点位于一面的石英晶体片。2.根据权利要求I所述的石英晶体微天平检测池,其特征是,将法兰状壳体(I)加热软化,再将石英晶体片(3)安置于法兰状壳体(I)内壁台阶(2)处。3.根据权利要求I所述的石英晶体微天平检测池,其特征是,将石英晶体片(3)安置于法兰状壳体(I)内壁台阶(2)处,再将一刚性管箍(4)套在法兰状壳体(I)外壁,所述刚性管箍(4)的内壁与法兰状壳体(I)的外壁过盈配合。4.根据权利要求I所述的石英晶体微天平检测池,其特征是,在石英晶体片(3)外缘套装O型密封圈(5),然后安置于法兰状壳体(I)内壁台阶(2)处,使之与法兰状壳体(I)内壁 形成弹性紧配合。全文摘要一种石英晶体微天平检测池,属于科学检测仪器领域,用于液相试样检测。它由法兰状壳体内装石英晶体片构成,在法兰状壳体内壁靠近法兰凸缘端处设置凸起台阶,石英晶体片置于该台阶处,石英晶体片直径与法兰状壳体内径零间隙配合,法兰状壳体采用弹性材料,石英晶体片采用两个电极触点位于一面的石英晶体片。本专利技术提供的石英晶体微天平检测池,能够有效避免石英晶体片在振荡方向上受安装应力的影响,并且结构简单、可以灵活拆装或更换。文档编号G01N5/00GK102980826SQ20111025859公开日2013年3月20日 申请日期2011年9月3日 优先权日2011年9月3日专利技术者崔学晨, 张利群, 封雷, 崔实, 孙宪光 申请人:崔学晨本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种石英晶体微天平检测池,主要由法兰状壳体和石英晶体片构成,其特征是,在所述法兰状壳体(1)内壁设置凸起的内壁台阶(2),石英晶体片(3)置于该台阶处,石英晶体片(3)直径与法兰状壳体(1)内径零间隙配合,法兰状壳体(1)采用弹性材料,石英晶体片(3)采用两个电极触点位于一面的石英晶体片。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:崔学晨张利群封雷崔实孙宪光
申请(专利权)人:崔学晨
类型:发明
国别省市:

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