光学系统和具有它的离线检测分析装置制造方法及图纸

技术编号:8451659 阅读:203 留言:0更新日期:2013-03-21 07:40
本发明专利技术公开了一种光学系统和具有它的离线检测分析装置,光学系统包括:第一光源、第一反射镜、第一相机、第二光源、第二反射镜和第二相机,第一光源用于发出第一光线至目标物体。第一反射镜用于接收并反射目标物体反射的第一光线。第一相机用于接收第一反射镜反射的第一光线。第二光源用于发出第二光线至目标物体。第二反射镜用于接收并反射目标物体反射的第二光线。第二相机用于接收第二反射镜反射的第二光线。根据本发明专利技术实施例的光学系统,可减小第一光源与第一相机、第二光源和第二相机之间的成像光路体积,提高空间利用率,使得离线检测分析装置的体积减小,优化了离线检测分析装置的结构。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及印刷领域,具体而言,涉及一种光学系统和具有它的离线检测分析装置
技术介绍
目前,现有的离线检测分析装置存在体积较大、占用空间较大的缺陷。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题之一或至少提供一种有用的商业选择。为此,本专利技术的一个目的在于提出一种具有体积小的光学系统。本专利技术的另一个目的在于提出一种具有上述光学系统的离线检测分析装置。根据本专利技术第一方面实施例的光学系统,包括第一光源;所述第一光源用于发出第一光线至目标物体;第一反射镜,所述第一反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第一光线;第一相机,所述第一相机用于接收所述第一反射镜反射的所述第一光线;第二光源,所述第二光源用于发出第二光线至目标物体;第二反射镜,所述第二反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第二光线;和第二相机,所述第二相机用于接收所述第二反射镜反射的所述第二光线。根据本专利技术实施例的光学系统,通过在第一光源和第一相机之间设置用于反射光线的第一反射镜、在第二光源和第二相机之间设置用于反射光线的第二反射镜,从而可减小第一光源与第一相机、第二光源和第二相机之间的成像光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学系统,其特征在于,包括:第一光源;所述第一光源用于发出第一光线至目标物体;第一反射镜,所述第一反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第一光线;第一相机,所述第一相机用于接收所述第一反射镜反射的所述第一光线;第二光源,所述第二光源用于发出第二光线至目标物体;第二反射镜,所述第二反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第二光线;和第二相机,所述第二相机用于接收所述第二反射镜反射的所述第二光线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张殿斌刘南渤陆爱民
申请(专利权)人:北京华夏视科图像技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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