一种地对地机载传感器检校方法技术

本发明专利技术专利公开了一种地对地机载传感器检校方法，是通过在高50米的飞行轨道模拟飞行姿态，利用可调速范围在0.5米/秒-5.0米/秒的滑车和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，在水平垂直三轴实现x、y、z方向的转动，满足点扫描和线扫描机载传感器捕捉控制点的要求；然后对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，并应用复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征实现地对地机载传感器检校。通过采用毫米级的控制点的坐标精度，实现SWDC等光学相机1∶500测图的检校精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术专利是，属于航空摄影测量和遥感

技术介绍
地对地机载传感器检校方法是在传统机载遥感设备主要通过室内固定检校场和空中实验飞行空对地检校场的基础上专利技术的一种动态、地对地的机载传感器检校方法。传统的检校方法主要有两种，一种是采用室内水平和静态扫描拍摄的方式对控制墙或者控制板，通过规则形状的控制点分布或者有较高精度的坐标来进行传感器的检校。主要问题是水平扫描拍摄与传感器实际工作模式不同，不能高度模拟传感器工作状态下机械特征，检校参数与工作状态具有较大的差别。另一种是采用空中实验飞行的方法，这种方法利用飞行平台搭载机载传感器进行实际遥感作业，通过对作业区域布设不同密度的控制点来进行传感器各参数的检校。该方法具有很好的实际作业的再现性，但由于飞行姿态、速度几乎不能控制，对于像幅式光学传感器较为适用；但对以点扫描或线扫描的方式获取数据的机载传感器，地面控制点较难识别。主要是由于飞行平台飞行速度较快，控制点不能确定一定在扫描点或线上。地对地机载传感器检校方法可以用到航空摄影测量前端、机载遥感载荷等设备的高精度检校上，主要应用领域为国土、测绘、灾害应急、水利、公路、铁路、城建、环保等部门。
技术实现思路
本专利技术专利是针对传统室内水平和静态扫描的检校方式和飞行实验检校方式的不足提出。其目的是为了适应像幅式、线扫描式、点扫描式等多种模式的机载传感器的检校。是通过可调速的塔吊吊臂模拟飞行轨道和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，实现地对地机载传感器检校。主要专利技术包括1)设计建造高50米的飞行轨道模拟，并通过数字控制系统实现速度、方位、姿态的数字化无线操控模拟飞行平台飞行状态；2)利用可控速度的滑车，速度控制从O. 5米/秒-5. O米/秒。不同速度同时对像幅式机载传感器、点扫描和线扫描机载传感器的检校，克服点扫描和线扫描机载传感器难以捕捉控制点的不足；3)加密的控制点且高精度的控制点能够实现检校精度适应I : 500测图要求。采用复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征；4)检校空中导轨(塔吊吊臂)长度为50米，高度为50米，检校场大小为90米X 120米，可以实现主流像幅式光学相机(如SWDC、DMC)等的立体像对。具体实施例方式是通过可调速的塔吊吊臂模拟飞行轨道和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，实现地对地机载传感器检校。主要特征包括1)通过改装建筑用的塔吊进行飞行轨道模拟，并通过数字控制系统实现速度、方位、姿态的模拟；2)采用可控速度的轨上滑车，利用多用途连接模块可实现像幅式机载传感器、点扫描和线扫描机载传感器的检效，同时利用可进行水平垂直三轴实现X、I、z方向的转动，克服点扫描和线扫描机载传感器难以捕捉控制点的不足；3)检校场控制点密度在5米X5米，同时加密区域控制点在2米X2米，控制点采用复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征；4)检校空中导轨(塔吊吊臂)长度为50米，高度为50米，检校场大小为90米X 120米，可以实现主流像幅式光学相机(如SWDC、DMC)等的立体像对。5)采用毫米级的控制点的坐标精度，实现SWDC等光学相机I : 500测图的检校精度。权利要求1.是通过可调速的塔吊吊臂模拟飞行轨道和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，实现地对地机载传感器检校。主要特征包括1)通过改装建筑用的塔吊进行飞行轨道模拟，并通过数字控制系统实现速度、方位、姿态的模拟；2)采用可控速度的滑车，实现对像幅式机载传感器、点扫描和线扫描机载传感器的检效，克服点扫描和线扫描机载传感器难以捕捉控制点的不足；3)检校场控制点密度在5米X5米，同时加密区域控制点在2米X2米，控制点采用 复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征；4)检校空中导轨(塔吊吊臂)长度为50米，高度为50米，检校场大小为90米X 120米，可以实现主流像幅式光学相机(如SWDC、DMC)等单立体像对。5)采用毫米级的控制点的坐标精度，实现SWDC等光学相机I : 500测图的检校精度。全文摘要本专利技术专利公开了，是通过在高50米的飞行轨道模拟飞行姿态，利用可调速范围在0.5米/秒-5.0米/秒的滑车和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，在水平垂直三轴实现x、y、z方向的转动，满足点扫描和线扫描机载传感器捕捉控制点的要求；然后对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，并应用复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征实现地对地机载传感器检校。通过采用毫米级的控制点的坐标精度，实现SWDC等光学相机1∶500测图的检校精度。文档编号G01C25/00GK102980590SQ201110259938公开日2013年3月20日 申请日期2011年9月5日 优先权日2011年9月5日专利技术者段福洲, 刘先林, 宫辉力, 李小娟, 赵文吉, 左建章, 杨铁利 申请人:首都师范大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种地对地机载传感器检校方法是通过可调速的塔吊吊臂模拟飞行轨道和数字控制系统进行不同速度、方位、姿态的机载平台模拟，对吊臂下方的高密度的控制点进行扫描拍摄，实现地对地机载传感器检校。主要特征包括：1)通过改装建筑用的塔吊进行飞行轨道模拟，并通过数字控制系统实现速度、方位、姿态的模拟；2)采用可控速度的滑车，实现对像幅式机载传感器、点扫描和线扫描机载传感器的检效，克服点扫描和线扫描机载传感器难以捕捉控制点的不足；3)检校场控制点密度在5米×5米，同时加密区域控制点在2米×2米，控制点采用复合式多反射标头，适应光学相机、激光扫描仪等多种类型的机载传感器设备的辐射特征；4)检校空中导轨(塔吊吊臂)长度为50米，高度为50米，检校场大小为90米×120米，可以实现主流像幅式光学相机(如SWDC、DMC)等单立体像对。5)采用毫米级的控制点的坐标精度，实现SWDC等光学相机1∶500测图的检校精度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：段福洲，刘先林，宫辉力，李小娟，赵文吉，左建章，杨铁利，
申请(专利权)人：首都师范大学，
类型：发明
国别省市：