一种深度尺检校装置制造方法及图纸

技术编号:11040907 阅读:134 留言:0更新日期:2015-02-12 03:50
一种深度尺检校装置。基准座的长度方向上设有燕尾槽,燕尾槽上设有基准平台,与燕尾槽相配合的基准座上左右分别配置有量块移动插座,量块移动插座内腔设有长为35mm、宽为9mm、高为20mm的矩形通孔,量块移动插座的矩形通孔内分别插有一组同规格的量块,量块工作面与基准座上的基准平台相接触。与现有技术相比,具有结构简洁,小巧实用,携带便利,安装步骤快捷,量块插入量块移动插座平稳可靠,定位准确,安全保护量块,并可有效防止量块在垂直测量时容易碰倒的弊端,确保检定或校准深度尺时一组量块间相互平行,保证了各类深度尺的检校质量,减轻劳动强度,节省了时间,有效提高了检校各类深度尺示值误差时的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种深度尺检校装置
本技术一种深度尺检校装置,涉及的是几何量测量标准量块专用检具设计制造
,具体涉及是深度测量计量器具检定或校准专用检校装置。
技术介绍
深度千分尺、通用卡尺中的深度卡尺是机械行业制造业中专用于测量工件孔或槽的深度以及台阶高度等的计量器具,在JJG24-2003《深度千分尺》检定规程中则规定:深度千分尺示值误差“用5等量块在2级平晶或O级平板上进行检定”。而JJG30-2012《通用卡尺》检定规程6.3.12.1示值误差条款中指出:对于I型结构形式深度卡尺示值误差的检定,“测量时按受检尺寸依次将两组同一尺寸的量块平行放置在I级平板上,使基准面的长边和量块工作面的长边方向垂直接触,再移动尺身,使其测量面和平板接触,测量时,量块应分别置于基准面的里端和外端两位置。”可见,在对深度测量计量器具的检定或校准时,都离不开平板和量块这两个基本要件,若外出检定或校准各类深度测量计量器具时,则还需要携带平板等显得比较费力和不便,而实际测量时,一组量块的底端测量面要垂直平行放在平板上,将深度尺尺身置于一组量块中间,使深度尺尺框测量面的长边和量块工作面的长边方向垂直接触,再移动尺身,将尺身测量面和平板接触,但在测量时因无固定的部件保护量块,一个人操作极易将量块碰倒,导致量块形变、测量面受损、示值失准等,造成间接或直接经济损失。
技术实现思路
本技术目的在于克服上述现有技术的不足,创新突破传统的检定方法,以深度尺检校装置的基准平台替代平板的功能,并配有两个量块移动插座可分别插入一组同一尺寸的量块,确保量块在测量时安全可靠,能准确检校各类深度计量器具示值误差的一种深度尺检校装置。 其技术是这样实现的:包括基准座、量块移动插座、量块在内,其特征在于:基准座的长度方向上设有燕尾槽,燕尾槽上设有基准平台,与燕尾槽相配合的基准座上左右分别配置有量块移动插座,量块移动插座内腔设有长为35_、宽为9mm高为20_的矩形通孔,量块移动插座的矩形通孔内分别插有一组同规格的量块,量块工作面与基准座上的基准平台相接触;所述的可插入量块移动插座的量块高度在20mm?100mm范围内;所述的左右量块移动插座两纵轴线之间相向移动的距离为H,H在20mm?130mm的范围内。 本技术的有益效果是:与现有技术相比,具有结构简洁,小巧实用,携带便利,安装步骤快捷,量块插入量块移动插座平稳可靠,定位准确,安全保护量块,并可有效防止量块在垂直测量时容易碰倒的弊端,确保检定或校准深度尺时一组量块间相互平行,保证了各类深度尺的检校质量,减轻劳动强度,节省了时间,有效提高了检校各类深度尺示值误差时的工作效率。 【附图说明】 图1为本技术立体结构的示意图, 其中:1_基准座、1-1-基准平台、2-量块移动插座、3-量块。 【具体实施方式】 以下结合附图,用一组41.2mm量块插入量块移动插座后检校深度卡尺为例,对本技术作进一步描述: 见附图1,检校装置包括基准座1、量块移动插座2、量块3在内,基准座I的长度方向上设有燕尾槽,燕尾槽上设有基准平台1-1,与燕尾槽相配合的基准座I上左右分别配置有量块移动插座2,量块移动插座2内腔设有长为35_、宽为9mm高为20_的矩形通孔,量块移动插座2的矩形通孔内分别插有同规格的量块3,量块工作面与基准座I上的基准平台1-1相接触;所述的可插入量块移动插座2的量块3高度在41.2_,所述的左右量块移动插座2两纵轴线之间相向移动的距离为H,H在40mm左右。 见附图1,首先,按图纸要求截取基准座I和两个量块移动插座2上分别铣出燕尾槽及基准平台1-1,其次,将基准座I进行热处理,使基准座I的硬度不低于63HRC,再分别对基准座I和量块移动插座2实施精磨,基准座I在精磨的基础上,对上平面上的基准平台1-1采用刮研法进行精加工研磨,使其达到国家标准O级平板技术要求,其平面度允差不大于3.0 μ m,然后进行组装,使基准座I燕尾槽上装入两个量块移动插座2并左右对称,在量块移动插座2中间矩形通孔内分别插入41.2mm的3级或5等量块3,一组量块3底端工作面与基准平台1-1相接触,形成了一组平行、定值、等高检校空间的深度尺寸测量标准,两个量块移动插座2纵轴线之间相向移动的距离为H,若H作为里端距离设为40mm,例:对于I型结构形式的深度卡尺,在检校Omm?150mm的深度卡尺时,分别选用41.2mm、81.5mm、121.8mm的三组量块,检定时,先按受检尺寸依次将第一组同一尺寸的量块3垂直平行放置量块移动插座2中间内腔中,使量块3的下端工作面垂直接触在基准座I上的基准平台1-1的平面上,然后,使深度尺尺框测量面的长边和量块3上端工作面的长边方向垂直接触,再移动尺身,将尺身测量面和基准平台1-1接触,然后在尺身上读数,测量时,量块移动插座2中间内腔中量块3应分别置于尺框测量面的里端和外端两个位置,再分别更换第二组、第三组量块3,方法步骤同上,检定合格出具检定证书。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种深度尺检校装置,包括基准座、量块移动插座、量块在内,其特征在于:基准座的长度方向上设有燕尾槽,燕尾槽上设有基准平台,与燕尾槽相配合的基准座上左右分别配置有量块移动插座,量块移动插座内腔设有长为35mm、宽为9mm、高为20mm的矩形通孔,量块移动插座的矩形通孔内分别插有一组同规格的量块,量块工作面与基准座上的基准平台相接触。

【技术特征摘要】
1.一种深度尺检校装置,包括基准座、量块移动插座、量块在内,其特征在于:基准座的长度方向上设有燕尾槽,燕尾槽上设有基准平台,与燕尾槽相配合的基准座上左右分别配置有量块移动插座,量块移动插座内腔设有长为35mm、宽为9mm、高为20mm的矩形通孔,量块移动插座的矩形通孔内分别插有一组同规格的量块,量...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄守义张超陶三春张宇曹盛华张耀明
申请(专利权)人:上海市浦东新区计量质量检测所
类型:新型
国别省市:上海;31

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