一种双激光束光轴共线调校法制造技术

本发明专利技术公开了一种双激光束光轴共线调校法，首先对第一激光进行姿态调节，再需要三次操作就可以完成双激光光束光轴共线调节，且保证两束激光测量的基准面相同，第一次只需保持顶面与第二平面贴合；后面与第一平面贴合；第二次保持光学成像系统紧贴校调板的第一平面和第二平面；第三次只需保持光学成像系统的顶面与第二平面贴合；前面与第一平面贴合，这样第一次和第二次保证一个基准面相同，第一次和第三次保证另一个基准面相同，从而使得整套测量方法的可靠性提高。可提高激光类型的双传感器组合测量精度：本方法直接对激光光束进行精密测量，可提高两个激光类型传感器激光位置关系的标定精度，从而提高整个双传感器组合测量的检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光轴共线调校法，尤其涉及一种双激光束光轴共线调校法。
技术介绍
激光测试技术作为一种现代化的测试技术，用途越来越广，发展也越来越快。在使用激光测量仪器时，很有可能将多个自带激光器的传感器或直接将多个激光器融合在一起，结合多个传感器的数据以得到最终的测量结果。而对这种测量系统而言，标定各束激光的位置关系是保证测量精度的关键工作。目前，大部分确定激光位置关系的方法为依据激光器或传感器的机械结构尺寸，将激光器或传感器安装在具有确定位置的机械机构上。在实现本专利技术的过程中，发现现有技术中至少存在以下缺点和不足实施上述方法来标定激光的位置，精度受限，原因如下(I)激光是虚轴，其空间位置相对于激光器或传感器外形结构间的位置尺寸存在误差，并且在通常情况下，难以确定这种误差的大小；(2)激光器装配到确定位置后，由于装配误差的存在，单个传感器将偏移理想的装配位置，这样，多个激光器的相对位置存在的偏差可能更大，并且这种误差也难以被发现。
技术实现思路
本专利技术提供了一种双激光束光轴共线调校法，本方法消除了激光之间的相对位置和姿态存在的偏差，提高了双传感器组合测量的检测精度和标定精度，详见本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双激光束光轴共线调校法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：（1）在具有相互垂直的第一平面和第二平面的校调板上设置有第一激光器、第二激光器和具有显微放大功能的光学成像系统；（2）将相互垂直的所述第一平面和所述第二平面的交线作为基准直线，所述光学成像系统紧贴校调板的所述第一平面和所述第二平面，并沿所述基准直线进行同侧平移，通过所述第一激光器采集不同位置处的激光光斑中心，分别获取多个第一激光光斑中心；（3）判断各个第一激光光斑中心的中心位置坐标是否相同，若相同，执行步骤（4）；若不同，对所述第一激光器进行校正，使得各个第一激光光斑中心坐标相同，再执行步骤（4）；（4）将所述光学成像系统异侧翻转1...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘新波，王仲，李兴强，郑镕浩，苏野，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：