【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于超声成像的探头的整体领域，超声成像也称为“回波描记成像”。本专利技术更具体地涉及可以基于超声辐射压力的使用对粘弹特性进行成像的方法和探头。
技术介绍
常规的回波描记探头被设计为将超声波发射到介质中的组织内，并感测反向散射的信号以便对这些信号进行分析并形成该介质的图像。通常，这些探头包含有一系列N个压电换能器，这些换能器沿一条线排列。这条线可以是直的或弯曲的。经由能够施加彼此不同相的电信号的电子线路(electronic route)来对这些压电换能器各自地进行控制。通过根据圆柱定律调节相位和/或延迟，可以将超声束聚焦在介质中给定位置上，从而以电子方式创建了等同于透镜的等同物。这些定律还在接收步骤中使用，以便将反向散射的信号与介质的给定位置相隔离，并重建其声学图像。换能器的尺寸和间隔取决于超声探头的频率，并且通常在所发射的超声波波长的 O. 5到I倍之间变化。使用这种一维波，仅能够在一个平面中实现电子聚焦和超声图像重建。在称为“标高(elevation)”的第三维度中，通常在压电换能器上运用一个固定的几何透镜，使用该透镜，可以将超声束约束在合理厚...
【技术保护点】
一种用于对介质（10）进行成像的超声成像探头，该超声成像探头中集成了两类超声换能器（1，2），其特征在于，第一类换能器（1）专用于所述介质（10）的超声成像，第二类换能器（2）专用于产生应力，所述应力造成了所成像的介质（10）的至少一次瞬时改变，两类换能器（1、2）都能够至少工作在结合模式中，在该结合模式中，所述第一类换能器（1）以与所述第二类换能器（2）同步的方式工作，以便对所述介质的所述瞬时改变的时间过程进行成像，其中，所述第二类换能器（2）与所述第一类换能器（1）相比，具有更大标高的几何聚焦。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：J·贝科夫，C·科昂巴克里，J·苏凯，
申请(专利权)人：超声成像公司，
类型：发明
国别省市：
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