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一种带过电流保护装置的测量仪制造方法及图纸

技术编号:8437590 阅读:470 留言:0更新日期:2013-03-17 21:29
本实用新型专利技术公开了一种带过电流保护装置的测量仪,包括电源接口、电流保护装置、测量单元、信息处理模块、显示模块;所述电流保护装置的一端连接电源接口,所述电流保护装置的另一端连接信息处理模块,所述信息处理模块连接测量单元,所述信息处理模块用于对测量产品进行分析,测量后的数据经显示模块显示。本实用新型专利技术的方案为提供一种带过电流保护装置的测量仪,本实用新型专利技术采用平行光系统,垂直透射被测样品,有效解决因光线折射而造成的测量误差;本实用新型专利技术采用过电流保护装置确保仪器在电流过大时不会烧坏。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种带过电流保护装置的测量仪
技术介绍
现有便携式光学测量仪当中,光学系统一般采用LED光源和硅光电池探测器,LED光源存在一定的发散角,由于折射原因,光束透过厚玻璃等样品后将会偏离原传播方向,样品越厚光束偏离越远,样品厚度直接影响测量结果,LED光源发射光谱和硅光电池响应光谱不满足视觉函数要求,造成带颜色样品测量误差偏大,仪器在连接电源时,电流过大时容易把仪器烧坏。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是为了克服上面所述的技术缺陷,提供一种带过电流保护装置的测量仪,实现本技术目的的技术方案是一种带过电流保护装置的测量仪,包括电源接口、电流保护装置、测量单元、信息处理模块、显示模块;所述电流保护装置的一端连接电源接口,所述电流保护装置的另一端连接信息处理模块,所述信息处理模块连接测量单元,所述信息处理模块用于对测量产品进行分析,测量后的数据经显示模块显示。所述测量单元进一步包含LED光源、平行光系统、视觉函数校正片、探测器、测试槽;所述LED光源经过平行光系统对测量产品进行测量,所述LED光源和平行光系统设置在测试槽的一端,所述探测器经过视觉函数校正片对测量产品进行测量,所述探本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带过电流保护装置的测量仪,其特征在于:包括电源接口、电流保护装置、测量单元、信息处理模块、显示模块;所述电流保护装置的一端连接电源接口,所述电流保护装置的另一端连接信息处理模块,所述信息处理模块连接测量单元,所述信息处理模块用于对测量产品进行分析,测量后的数据经显示模块显示。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周永
申请(专利权)人:周永
类型:实用新型
国别省市:

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