锥体外径千分尺制造技术

锥体外径千分尺，属于量具技术领域。包括尺架及尺架上安装的千分表、测头，千分表安装在尺架的一端，上测头安装在千分表的测量杆末端，下测头安装在尺架下端的测砧上，其特征是，所述尺架两端安装的测头为半径相同的缺圆圆柱测量棒，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。本实用新型专利技术测量锥体时，不受工件大小、重量、摆放位置和场地的限制，可直接在机床上进行测量，大大方便了操作者，并可大幅度提高生产效率。本实用新型专利技术结构简单，使用方便，测量范围广，测量精度高，操作快捷，安全可靠。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种千分尺，特别是一种用于锥体工件外径尺寸测量的千分尺，属于量具
技术背景 目前，一般具有较高精度要求的外锥体工件，都是使用锥体环规进行测量。一种环规只能测量一种工件，而环规制造费用高，周期长，测量费时费力，测量精度却不太高。另一种方法是采用平台测量技术进行测量，这种测量方法局限于测量体积小、重量轻的零件，且不能在机床上进行测量，故使用范围较窄。因此，需要提供一种使用方便、测量精度高、能适应各种外锥体工件外径测量的量具。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述现有技术的不足，从而提供一种测量方便、制作成本低、测量精度高、测量范围广的锥体外径千分尺。本技术的目的是通过以下技术方案实现的锥体外径千分尺，包括尺架及尺架上安装的千分表、测头，千分表安装在尺架的一端，上测头安装在千分表的测量杆末端，下测头安装在尺架下端的测砧上，其特征是，所述尺架两端安装的测头为半径相同的缺圆圆柱测量棒，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。尺架与千分表连接处后侧为平面并安装有滑块，滑块上加工有两条与测量杆平行的T型槽，滑块通过T型槽与尺架滑动调节定位，滑块与尺架之间用螺丝固定连接，滑块外侧面与缺圆圆柱测量棒的轴线平行，滑块外侧面至测量杆中心尺寸与缺圆圆柱测量棒的半径相等。安装在千分表一端的缺圆圆柱测量棒的外侧母线处磨成小平面，小平面朝向滑块外侧面，小平面与滑块外侧面平行，小平面与滑块外侧面的距离为O. 01-0. 02mm。所述缺圆圆柱测量棒为端面大于半圆的圆柱体。本技术测量锥体时，不受工件大小、重量、摆放位置和场地的限制，可直接在机床上进行测量，大大方便了操作者，并可大幅度提高生产效率。本技术结构简单，使用方便，测量范围广，测量精度高，操作快捷，安全可靠。附图说明图I为本技术的结构示意图；图2为图I的左视图；图3、图4为本技术锥体大端直径测量示意图；图5、图6为本技术锥体小端直径测量示意图；图7为本技术中缺圆圆柱测量棒的结构示意图；图中1尺架、2千分表、3滑块、4缺圆圆柱测量棒、5锥体、6平板、7顶尖。具体实施方式锥体外径千分尺，包括尺架I、千分表2及尺架两端安装的直径相同的缺圆圆柱测量棒4和滑块3。缺圆圆柱测量棒为端面大于半圆的圆柱体，之所以选用缺圆圆柱测量棒，一则可减轻重量，二则可增加测量范围。千分表安装在尺架的一端，上缺圆圆柱测量棒安装在千分表的测量杆末端，下缺圆圆柱测量棒安装在尺架下端的测砧上，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。尺架与千分表连接处后侧为平面，滑块安装在该平面上，滑块上加工有两条与测量杆轴线平行的T型槽，滑块通过T型槽与尺架滑动调节定位，滑块与尺架之间用螺丝固定连接。滑块外侧面与缺圆圆柱测量棒的轴线平行，滑块外侧面至测量杆中心尺寸b与缺圆圆柱测量棒的半径r相等。安装在千分表一端的缺圆圆柱测量棒的外侧母线处磨成一小平面，小平面朝向滑块外侧面，小平面与滑块外侧面平行，小平面与滑块外侧面的距离a为O.01-0. 02mm。测量时与锥体端面保留间隙，可确保缺圆圆柱测量棒上下移动自如。图3至图6为锥体斜度和大、小端直径测量方法示意图，图中缺圆圆柱测量棒半径为r。测量前用校对块校正两缺圆圆柱测量棒间距离MO，千分表设置为零值。用顶尖7抵住平板6贴紧锥体5端面，调整好滑块位置并固定，用左手将下缺圆圆柱测量棒与锥体下母线及锥体大端(小端处平板6)端面相切，再用右手拇指上提上缺圆圆柱测量棒，其余四指将尺架滑块靠紧大端(小端处平板6)端面，然后将拇指轻轻松开，让上缺圆圆柱测量棒与锥体上母线相切，得测量值e。大、小端数据测量完毕，将测量值e加上校对块尺寸M0和缺圆圆柱测量棒直径d即为M 1( M 2)尺寸，再用内径量表测得两端面间距离L，代入公式I : tga =( M I - M 2)/2L ;公式2: D 1= M I - 2r ctg；公式3: D 2= M 2 - 2r ctg；即可求得锥体斜角a和锥体大端直径D I、锥体小端直径D 2。为了减少测量者的计算量，可将常用锥度的大、小端直径D I、D 2，校对块尺寸MO、上下测头直径d及测量值e列成表格，测量时根据直径大、小选取相应的测量值，直接读取测量值即可。权利要求1.一种锥体外径千分尺，包括尺架及尺架上安装的千分表、测头，千分表安装在尺架的一端，上测头安装在千分表的测量杆末端，下测头安装在尺架下端的测砧上，其特征是，所述尺架两端安装的测头为半径相同的缺圆圆柱测量棒，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。2.根据权利要求I所述的锥体外径千分尺，其特征是，尺架与千分表连接处后侧为平面并安装有滑块，滑块上加工有两条与测量杆平行的T型槽，滑块通过T型槽与尺架滑动调节定位，滑块与尺架之间用螺丝固定连接，滑块外侧面与缺圆圆柱测量棒的轴线平行，滑块外侧面至测量杆中心尺寸与缺圆圆柱测量棒的半径相等。3.根据权利要求I或2所述的锥体外径千分尺，其特征是，安装在千分表一端的缺圆圆柱测量棒的外侧母线处磨成小平面，小平面朝向滑块外侧面，小平面与滑块外侧面平行，小平面与滑块外侧面的距离为O. 01-0. 02mm。4.根据权利要求I所述的锥体外径千分尺，其特征是，所述缺圆圆柱测量棒为端面大于半圆的圆柱体。专利摘要锥体外径千分尺，属于量具
包括尺架及尺架上安装的千分表、测头，千分表安装在尺架的一端，上测头安装在千分表的测量杆末端，下测头安装在尺架下端的测砧上，其特征是，所述尺架两端安装的测头为半径相同的缺圆圆柱测量棒，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。本技术测量锥体时，不受工件大小、重量、摆放位置和场地的限制，可直接在机床上进行测量，大大方便了操作者，并可大幅度提高生产效率。本技术结构简单，使用方便，测量范围广，测量精度高，操作快捷，安全可靠。文档编号G01B3/18GK202793205SQ201220457630公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月10日 优先权日2012年9月10日专利技术者茅保富 申请人:茅保富本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种锥体外径千分尺，包括尺架及尺架上安装的千分表、测头，千分表安装在尺架的一端，上测头安装在千分表的测量杆末端，下测头安装在尺架下端的测砧上，其特征是，所述尺架两端安装的测头为半径相同的缺圆圆柱测量棒，两个缺圆圆柱测量棒的圆柱面相对，轴线相互平行，缺圆圆柱测量棒的轴线与测量杆轴线垂直并与其在同一平面上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：茅保富，
申请(专利权)人：茅保富，
类型：实用新型
国别省市：