【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种具有测高能力的勘察装置，具体地，本专利技术涉及一种勘察装置，该勘察装置能够测量其在表面之上的高度，例如在表面上的参考点(诸如铅垂点)之上的高度。例如，勘察设备可以是全站仪或经纬仪。
技术介绍
传统勘察装置，诸如全站仪，是本领域已知的。勘察装置被用于进行距离和/或角度勘察测量。勘察装置通常安装在地面之上并位于三脚架或基座上以进行勘察测量。因此，在使用勘察装置时，需要确定勘察装置在地面之上的高度，诸如在地面上的铅垂点(Plumbpoint)之上的高度。通常，勘察装置的高度由工作人员使用测量设备诸如卷尺或直尺手动确定。在读取测量设备所指示的高度之后，测量到的高度值被手动输入至勘察装置。然而， 与这种手动高度测量相关的问题是，这种测量易出现人为错误。例如，高度读取可能未精确进行并且精度取决于进行测量的人员的注意程度。高度测量中的稍微不精确就可能显著影响勘察测量精度。此外，这种手动高度测量麻烦且耗时。已经对消除手动高度测量作出了大量尝试。然而，这些尝试进而引出新的问题并因此未对上面提到的问题给出任何实际解决方案。例如，推荐提供能够安装在三脚架上的单独的高...
【技术保护点】
一种勘察装置，包括：光源，被配置为沿着光轴发射光以用于至少距离测量；以及高度测量模块，被配置为操纵从所述光源发射的光的路径以测量所述勘察装置在表面之上的高度，其中所述高度测量模块包括延伸构件，所述延伸构件上具有或集成有光学构件，所述延伸构件被配置为以预定角度延伸至所述光轴或能够以预定角度延伸至所述光轴，从而将所述光学构件定位在所述光轴处以操纵所述光的路径朝向所述表面，其中所述预定角度不平行于所述光轴。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：近重清，方仲平，陈惠仁，
申请(专利权)人：新加坡科技研究局，光学测量仪器服务私人有限公司，
类型：发明
国别省市：
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