提供了一种勘察装置，其包括：光源，被配置为沿着光轴发射光以用于至少距离测量；以及高度测量模块，被配置为操纵从光源发射的光的路径以测量勘察装置在表面之上的高度，其中高度测量模块包括延伸构件，延伸构件上具有或集成有光学构件，延伸构件被配置为以预定角度延伸至光轴或能够以预定角度延伸至光轴，从而将光学构件定位在光轴处以操纵光的路径朝向表面，其中预定角度不平行于光轴。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种具有测高能力的勘察装置，具体地，本专利技术涉及一种勘察装置，该勘察装置能够测量其在表面之上的高度，例如在表面上的参考点(诸如铅垂点)之上的高度。例如，勘察设备可以是全站仪或经纬仪。
技术介绍
传统勘察装置，诸如全站仪，是本领域已知的。勘察装置被用于进行距离和/或角度勘察测量。勘察装置通常安装在地面之上并位于三脚架或基座上以进行勘察测量。因此，在使用勘察装置时，需要确定勘察装置在地面之上的高度，诸如在地面上的铅垂点(Plumbpoint)之上的高度。通常，勘察装置的高度由工作人员使用测量设备诸如卷尺或直尺手动确定。在读取测量设备所指示的高度之后，测量到的高度值被手动输入至勘察装置。然而， 与这种手动高度测量相关的问题是，这种测量易出现人为错误。例如，高度读取可能未精确进行并且精度取决于进行测量的人员的注意程度。高度测量中的稍微不精确就可能显著影响勘察测量精度。此外，这种手动高度测量麻烦且耗时。已经对消除手动高度测量作出了大量尝试。然而，这些尝试进而引出新的问题并因此未对上面提到的问题给出任何实际解决方案。例如，推荐提供能够安装在三脚架上的单独的高度测量设备以进行高度测量。一旦完成高度测量，就将高度测量设备从三脚架上拆除并且随后将勘察装置重新组装至三脚架上以进行勘察测量。这种方法，在消除了使用直尺或卷尺的手动高度测量的同时，也引出新的问题，诸如对在三角架上仔细组装/拆卸高度测量设备以及仔细拆卸/重新组装全站仪的需要(这实际上比使用直尺或卷尺进行高度测量耗费更多时间)。此外，作为搬运直尺或卷尺的替代，必须搬运更加庞大的单独的高度测量设备。这与本专利技术已经被开发的背景相悖。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服、或至少改善上面提到的现有技术中的一个或多个缺陷。根据本专利技术的第一个方面，提供了一种勘察装置，包括光源，被配置为沿着光轴发射光以用于至少距离测量；以及高度测量模块，被配置为操纵从光源发射的光的路径以测量勘察装置在表面之上的高度，其中高度测量模块包括延伸构件,延伸构件上具有或集成有光学构件,延伸构件被配置为以预定角度延伸至光轴或能够以预定角度延伸至光轴，从而将光学构件定位在光轴处以操纵光的路径朝向表面，其中预定角度不平行于光轴。优选地，勘察装置包括望远镜，望远镜具有壳体，光源位于壳体内，并且高度测量模块位于壳体的上部。优选地，高度测量模块与壳体的上部形成为一体。可替换地，高度测量模块可释放地附接至壳体的上部。优选地，延伸构件能够在储存状态与延伸状态之间移动，在延伸状态下，延伸构件相对于光轴以预定角度延伸并且光学构件被定位于光轴处。优选地，在储存状态下，延伸构件被接纳于高度测量模块的壳体的槽内。优选地，高度测量模块包括引导构件，引导构件能够沿着槽移动以在储存状态与延伸状态之间引导延伸构件。优选地，延伸构件的后部可枢转地附接至引导构件，使得延伸构件能够从储存状态下的定向枢转至延伸状态下的预定角度，反之亦然。优选地，高度测量模块还包括支撑构件，支撑构件从高度测量模块的壳体的端部突起并邻近槽的开口并位于槽的开口下方，支撑构件包括倾斜表面，倾斜表面适于延伸构 件在延伸状态下置放，从而相对于光轴以预定角度支撑延伸构件。优选地，支撑构件还包括位于倾斜表面上的定位构件，定位构件用于将延伸构件保持到位。延伸构件可具有多级滑动机构，从而延伸构件的长度在储存状态下能够被缩短且在延伸状态下能够被加长。高度测量模块还可包括弹簧释放机构，弹簧释放机构用于使槽内的延伸构件从储存状态弹射至延伸状态。优选地，高度测量模块包括可拆卸构件和基座构件，可拆卸构件包括延伸构件，可拆卸构件和基座构件彼此可释放地附接。优选地，可拆卸构件还包括支撑构件，延伸构件以预定角度从支撑构件整体地延伸，并且支撑构件和/或基座构件包括附接装置，附接装置用于在基座构件上将支撑构件可释放地保持到位。优选地，预定角度约为45°。优选地，光学构件是反射构件。优选地，光学构件包括中部和外部，并且中部是镜子，外部是漫射器。根据本专利技术的第二个方面，提供了一种高度测量模块，用于附接至勘察装置以测量勘察装置在表面之上的高度，勘察装置包括被配置为沿着光轴发射光以用于至少距离测量的光源，高度测量模块包括延伸构件，延伸构件上具有或集成有光学构件，延伸构件被配置为以预定角度延伸至光轴或能够以预定角度延伸至光轴，从而将光学构件定位在光轴处以操纵光的路径朝向表面，其中预定角度不平行于光轴。附图说明通过下面记载的描述，仅通过实施例并结合附图，本专利技术的实施方式将得到更好的理解，并对本领域技术人员来说将显而易见，在附图中图IA至IF描绘了根据本专利技术的实施方式的示例性勘察装置的各种视图；图2是描绘了示例性勘察装置的各种内部组件的示意图；图3A和3B描绘了根据本专利技术的实施方式的光学构件；图4A至4C描绘了根据本专利技术的第一个实施方式的高度测量模块的各种立体视图；图5A至5C描绘了根据本专利技术的第二个实施方式的高度测量模块的各种立体视图；图6A和6B描绘了根据本专利技术的第三个实施方式的处于延伸和储存状态的高度测量模块的侧面剖视图；图6C描绘了根据第三个实施方式的高度测量模块的分解图；图6D和6E描绘了根据第三个实施方式的处于延伸和储存状态的高度测量模块的侧视图；以及图6F描绘了根据第三个实施方式的处于储存状态的高度测量模块的正视图。 具体实施例方式图IA至IF示出根据本专利技术的实施方式的具有高度测量能力的示例性勘察装置10。例如，勘察装置10可以是全站仪或经纬仪。勘察装置10可操作为以本领域技术人员已知的方式进行距离和/或角度勘察测量。因此，为了简洁和清楚，文中将不再描述勘察装置10的组件工作以使距离和/或角度勘察测量成为可能的方法。将在文中详细描述根据本专利技术的实施方式的用于使高度测量能力成为可能的勘察装置10的组件。图2描绘了示出勘察装置10的示例性内部组件的示意图。勘察装置10包括光源12，用于沿光轴14发射光；光电检测器16，用于接收反射光并向控制器18发送信号；控制器18，处理信号以确定与目标(发射的光从目标反射)之间的距离；存储器模块20，用于储存数据/信息(例如，代表被确定的距离的数据和任何用户输入的数据)和用于控制器18的软件/指令。例如，光源12可以是本领域中已知的适于进行勘查测量的激光或红外光源。存储器模块20可包括非易失性存储器诸如只读存储器(ROM)和/或易失性存储器诸如随机存取存储器(RAM)。控制器18可以是处理器。勘查装置10还可包括供用户输入命令并与勘查装置10通信的用户接口 22 (诸如键盘)、以及用于向用户显示各种信息(例如，被确定的距离和勘查装置10的状态/模式)的显示器24。对本领域技术人员显而易见的是，其它组件可增加至勘查装置10以提供本领域已知的其它功能。如图IB (未按比例绘制)所示，勘查装置10具有基座30，基座30被配置为可安装在位于表面(通常为地面)34之上的支架32 (例如三脚架)上。基座30可相对于支架32绕竖直轴线33旋转。在每个位置处，安装在地面34(诸如地面34上的位于勘查装置10的中心正下方的参考点35，又称为铅垂点)之上的勘查装置10的高度(H)常常不同。因此，在进行勘查测量时，需要确定勘查装置10在其被放置的地面34之上的高度(H)本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种勘察装置，包括：光源，被配置为沿着光轴发射光以用于至少距离测量；以及高度测量模块，被配置为操纵从所述光源发射的光的路径以测量所述勘察装置在表面之上的高度，其中所述高度测量模块包括延伸构件，所述延伸构件上具有或集成有光学构件，所述延伸构件被配置为以预定角度延伸至所述光轴或能够以预定角度延伸至所述光轴，从而将所述光学构件定位在所述光轴处以操纵所述光的路径朝向所述表面，其中所述预定角度不平行于所述光轴。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：近重清，方仲平，陈惠仁，
申请(专利权)人：新加坡科技研究局，光学测量仪器服务私人有限公司，
类型：发明
国别省市：
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