管道用脉冲涡流探头制造技术

技术编号:8411965 阅读:192 留言:0更新日期:2013-03-14 01:34
本发明专利技术公开了一种管道用脉冲涡流探头,包括:底座,其呈上端开口下端封闭的筒体,开口端上设置有端盖,底座同轴设置在外壳的底部;导向柱,设置在端盖上,导向柱上套接有弹簧,弹簧一端抵接在端盖上,另一端与外壳上端抵接;激励线圈和接收线圈,其内外相套同轴地设置在底座内的底部,且接收线圈的内径大于激励线圈的外径;检测时,外壳底部置于管道外壁上,底座与管道外壁接触,激励线圈产生跃变的一次磁场,使被测区域感应瞬变涡流从而产生二次磁场,并通过接收线圈接收,即可测得被测区域的壁厚。本发明专利技术可实现检测过程中探头与管道的自动对心,能有效提高检测效率,克服现有脉冲涡流探头在检测过程中因偏心和摇晃而引起的信号波动。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电磁无损检测装置,特别涉及一种用于管道壁厚减薄的检测装置。
技术介绍
管道广泛应用于石化、电力等行业,由腐蚀或侵蚀引起的壁厚减薄对其可靠性和安全性构成了严重威胁,需定期检测,并根据检测所得的壁厚减薄量来采取相应的措施,以保证管道安全和可靠地运行。脉冲涡流检测技术以其速度快、安全性好、成本低等优点近年来成为检测管道壁厚减薄的首选技术之一。脉冲涡流检测技术将方波电流加载到激励线圈上,产生的一次磁场作用于试件的被测区域,当电流发生跃变时,一次磁场也随之跃变,根据电磁感应定律,被测区域中将感应出瞬变涡流,其衰减速度与被测区域的壁厚有关,由于直接检测试件中的涡流难度很大, 一般通过检测由涡流产生的二次磁场来计算被测区域的壁厚,从而实现对试件壁厚减薄的定量检测。将激励线圈和用于检测二次磁场的元件封装在一起,便形成了脉冲涡流探头。现有脉冲涡流探头的典型结构如图3所示,主要由激励线圈12和接收线圈10组成,其中激励线圈12用于产生一次磁场,接收线圈10将二次磁场的变化率转化为电压信号,对该信号进行分析,就能得到被测区域的壁厚。探头因激励线圈12和接收线圈10的参数不同,其能检测的壁厚本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种管道用脉冲涡流探头,包括:底座(11),其呈上端开口下端封闭的筒体,其开口端上设置有端盖(13),该底座(11)同轴设置在一呈筒形的外壳(15)的底部;导向柱(2),其设置在所述端盖(13)上,该导向柱(2)上套接有弹簧(1),该弹簧(1)一端抵接在端盖(13)上,另一端与所述外壳(15)上端内壁面抵接,使所述底座(11)抵在外壳(15)底部;激励线圈(12)和接收线圈(10),其内外相套同轴地设置在底座(11)内的底部,且该接收线圈(10)的内径大于激励线圈(12)的外径;检测时,所述外壳(15)底部置于所述管道(8)外壁上,使所述底座(11)与管道(8)外壁接触,通过所述激励线圈(12...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:武新军李建张卿
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:

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