【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子测试与屏蔽效能测试
,是。
技术介绍
近年来,在电磁兼容领域,对于产品的抗电磁干扰性能要求越来越高,由于各类电子产品的电磁干扰辐射频段越来越宽,且低频段尤为密集,这使得产品的抗电磁干扰能力要求越来越严格,而决定其空间抗电磁干扰的能力往往取决于其设备腔体自身的屏蔽效能,由于现代电子设备朝向小型化发展,从而使得设备体积逐渐减小;而需验证一个腔体的屏蔽效能,则必须在一个发射天线发射信号的同时,使得一个接收天线放入该腔体内部进行信号接收测试,由于目前该领域中所使用的屏效测试天线多为窄带天线,且体积大,在测试小物体的屏蔽效能时,往往不能将天线放置在腔体内部进行屏蔽效能接收测试,这就使得体积小的腔体其自身屏蔽效能往往无法得到验证,因此迫切需要验证小型腔体的屏蔽效能。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供,适用于小型腔体、 机柜、屏蔽暗箱及大型屏蔽室、屏蔽方舱的屏蔽效能测试。本专利技术的技术方案是,他的设备至少包括近场测试天线、双向射频连接器、发射天线、前置放大器、信号源、接收仪、同轴线缆以及屏蔽暗室和屏蔽室,其特征是屏蔽暗室和屏蔽室是由金属壁板隔成的两个 ...
【技术保护点】
一种小型屏蔽腔体屏蔽效能的测试方法,他的设备至少包括近场测试天线(1)、双向射频连接器(2)、发射天线(3)、前置放大器(6)、信号源(7)、接收仪(8)、同轴线缆(9)以及屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11),其特征是:屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)是由金属壁板(13)隔成的两个腔体,屏蔽暗室(10)的壁面上设置吸波材料(12)屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)都单独接大地;接收仪(8)设置在屏蔽室(11)内,其余设备设置在屏蔽暗室(10)内,双向射频连接器(2)设置在金属壁板(13)壁面上;近场测试天线(1)设置在屏蔽暗室(10)内,近场测试天线(1)通过同轴线缆(9)依次 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:宋博,
申请(专利权)人:西安开容电子技术有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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