一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统技术方案

技术编号:8347374 阅读:301 留言:0更新日期:2013-02-20 23:46
一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统,它包括计算机、高动态条纹投射器和图像采集单元。该系统通过计算机向高动态条纹投射器发送投射控制信息,控制其投射不同亮度、不同灰度的条纹图像,同时计算机向图像采集单元发送控制信息,控制图像采集单元在不同曝光时间下进行拍摄;图像采集单元将采集的图像信息传给计算机,计算机对图像进行处理,通过图像融合、解相、相展开、立体匹配获得待测物体的三维信息。本发明专利技术能够克服强反射表面引起的采集条纹图像饱和或过暗,能够实现金属等强反射表面三维形貌的高精度非接触光学测量,可应用于各种金属强反射表面及类镜面表面的三维形貌光学非接触测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统,该系统能够有效克服强反射表面或强背景光对测量的影响,实现高精度非接触光学测量,可用于金属强反射表面、类镜面表面的三维形貌测量,本专利技术属于光学三维测量

技术介绍
基于正弦条纹投射的立体视觉检测方法作为典型的非接触光学主动三维测量方法,广泛应用于三维形貌测量、逆向工程和质量检测等诸多领域。采用这种主动视觉测量方法的测量系统具有测量精度高、获取点云稠密、测量时间短等优点。但在测量金属强反射表面或类镜面表面三维形貌时,采用这种主动视觉测量方法的各类传感器系统往往会失效。 主要原因在于,主动视觉测量以正确接收到物体表面的反射光作为测量基础,而对于金属等具有强反射表面的物体来说,物体表面的强反射性质使得传感器接收到得图像饱和或过暗,产生信息失真,导致测量精度大幅下降,甚至难以进行正常测量。同时,当背景光强较强时,测量系统投射的特征光光强相对较小,测量系统信噪比下降,测量精度显著降低。针对这一问题,国内外提出了不同的解决方法。如利用被测物体表面在不同角度下反光区域也不尽相同的特点,避开镜面反射区域,利用漫反射进行多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统,其特征在于:它包括计算机、高动态条纹投射器和图像采集单元;该测量系统通过计算机向高动态条纹投射器发送投射控制信息,控制其投射不同亮度、不同灰度的条纹图像,计算机与图像采集单元线缆相连并向图像采集单元发送控制信息,控制图像采集单元在不同曝光时间下进行拍摄;高动态条纹投射器和图像采集单元通过同步触发信号相连,保证投射图像和拍摄图像的实时同步进行;拍摄完成后,图像采集单元将采集的图像信息传给计算机,计算机对图像进行处理,通过多亮度图像融合、解相、相展开、立体匹配获得待测物体的三维信息;所述的计算机,根据待测物体表面反射率、环境光光强先验信息,预先...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵慧洁梁宵月姜宏志刁晓淳
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1