结构光测量方法以及系统技术方案

一种结构光测量方法，包括：匹配过程，利用激光点在第一摄像头(21)上的成像位置根据标定数据库的第一对应关系得到激光点的编号及低精度深度，根据所述激光点的编号及低精度深度查询所述的激光点在第二摄像头(22)中的成像位置以获取候选匹配点，根据所述的第一摄像头(21)的成像位置以及所述的第一摄像头(21)的成像位置在所述的第二摄像头(22)中的候选匹配点完成匹配，得到匹配结果；和计算过程，根据匹配结果得出与所述的第一摄像头(21)的成像位置匹配的所述的第二摄像头(22)的成像位置，再由所述标定数据库中的第二对应关系确定所述激光点的精确位置。一种结构光测量系统，运用上述测量方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：师丹玮，吴迪，赵文闯，谢琪，
申请(专利权)人：深圳泰山在线科技有限公司，
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国别省市：