【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种工装，具体地说是一种SMD晶体外观检测工装。
技术介绍
SMD晶体出货前需对外观进行检查，目前的外观检查通常是靠人工单个检查，根据操作人员自身工作经验来检查晶体各项参数，其过程繁琐，劳动强度高，需要大量的工作人员，且常常会因为人为因素而影响到产品质量。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种能精确计数、简化工作流程的SMD晶体外观检测工 装。本技术是采用如下技术方案实现其专利技术目的的，一种SMD晶体外观检测工装，它包括框架，框架上均匀分布有可与SMD晶体过渡配合的排料槽，排料槽上方设有安装在框架上的盖板。本技术为方便排料，相邻排料槽之间设有安装在框架上的凸筋。本技术框架的其中三边设有相互贯通的凹槽，盖板插接在凹槽内。由于采用上述技术方案，本技术较好的实现了专利技术目的，其结构简单，能迅速对晶体引线、绝缘垫片等常规检测项目进行检查，简化工作流程，减少工作强度，提升工作效率，同时，在数量上能进行精确的统计，减少因个人原因产生的数量错误。附图说明图I是本技术的结构示意图。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步说明。由图I可知，一种SMD晶体外观检测工装，它包括框架I，框架I上均匀分布有可与SMD晶体过渡配合的排料槽2，排料槽2上方设有安装在框架I上的盖板5。本技术为方便排料，相邻排料槽2之间设有安装在框架I上的凸筋4。本技术框架I的其中三边设有相互贯通的凹槽3，盖板5插接在凹槽3内。本实施例排料槽2在框架I上分为10行，每行50个，共计500个，在框架I上均匀分布。本技术使用时，首先将已加工好的SMD晶体置于框架I上，通过框架I的往复运动使...
【技术保护点】
一种SMD晶体外观检测工装，其特征是它包括框架(1)，框架(1)上均匀分布有可与SMD晶体过渡配合的排料槽(2)，排料槽(2)上方设有安装在框架(1)上的盖板(5)。
【技术特征摘要】
1.一种SMD晶体外观检测工装，其特征是它包括框架(1)，框架(I)上均匀分布有可与SMD晶体过渡配合的排料槽(2)，排料槽(2)上方设有安装在框架(I)上的盖板(5)。2.根据权利要求I所述的SMD晶体...
【专利技术属性】
技术研发人员：李群胜，汤剑波，宋爱国，
申请(专利权)人：益阳晶益电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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