本发明专利技术涉及一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤：1)将检测仪放置在支架上；2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪探测区适当的距离处；3)打开检测仪进行测量；该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。与现有技术相比，本发明专利技术具有操作方便、可加快检测速度、节省检测时间等优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测量方法，尤其是涉及一种放射性污染的测量方法及装置。
技术介绍
目前，使用便携式放射性表面污染检测仪(以下简称检测仪)的方法，大多数情况下是检测人员手持检测仪对可能存在放射性污染物的表面直接进行测量，但是如果被检测物周围存在放射源时，直接测量则会影响到检测数据的准确性，在这种情况下，就需要检测人员先对被检测物表面进行擦拭，然后再将擦拭后的纸巾或无纺布等拿至无放射源的本底区域进行测量。如果检测人员只有一个人进行独立操作时，那么既要对被检测物表面进行擦拭，又要手持检测仪对擦拭物进行测量，这样可能会引起双手交叉污染，也不利于检测数据的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种操作方便、可加快检测速度、节省检测时间的放射性污染的测量方法及装置。本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现一种放射性污染的测量方法及装置，其特征在于，该方法包括以下步骤1)将检测仪放置在支架上；2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪探测区适当的距离处；3)打开检测仪进行测量。所述的步骤I)中的支架为可折叠式支架。所述的支架的高度为8 12cm。所述的步骤2)中的适当的距离为根据仪器检定报告上的探测距离来放置被检测物的高度。一种实施权利要求I所述的放射性污染的测量方法的装置，其特征在于，该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。所述的支架为可折叠式支架。所述的可折叠式支架包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。所述的支架的高度为8 12cm。与现有技术相比，本专利技术具有以下优点I、适合检测人员一个人独立进行操作。2、可以避免双手交叉污染，同时也可以使检测人员双手配合工作。3、节省了检测时间。附图说明图I为本专利技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细说明。实施例I如图I所示，一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤步骤I)握住测量放射性污染的检测仪2的把手3，将检测仪2放置在支架I上。该支架I为根据检测仪探测面积大小定做一个可折叠支架，其高度控制为8cm，这样便于携带。步骤2)将被检测物放置在支架I下方，离检测仪一定的距离，使被检测物落在检测仪探测区(图中向下的箭头为探测区)。离检测仪一定的距离为根据仪器检定报告上的··探测距离来放置被检测物的高度。步骤3)打开检测仪进行测量。本专利技术还涉及一种测量放射性污染的装置，该装置包括检测仪2和支架I。检测仪2设置在支架I上方。支架I采用可折叠式支架，其包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。支架采用高度为8cm的可折叠式支架。实施例2参照图1，一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤步骤I)握住测量放射性污染的检测仪的把手，将检测仪放置在支架上。该支架为根据检测仪探测面积大小定做一个可折叠支架，其高度控制为12cm，这样便于携带。步骤2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪一定的距离，使被检测物落在检测仪探测区(图中向下的箭头为探测区)。离检测仪一定的距离为根据仪器检定报告上的探测距离来放置被检测物的高度。步骤3)打开检测仪进行测量。本专利技术还涉及一种测量放射性污染的装置，该装置包括检测仪和支架。检测仪设置在支架上方。支架采用可折叠式支架，其包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。支架采用高度为12cm的可折叠式支架。实施例3参照图1，一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤步骤I)握住测量放射性污染的检测仪的把手，将检测仪放置在支架上。该支架为根据检测仪探测面积大小定做一个可折叠支架，其高度控制为10cm，这样便于携带。步骤2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪一定的距离，使被检测物落在检测仪探测区(图中向下的箭头为探测区)。离检测仪一定的距离为根据仪器检定报告上的探测距离来放置被检测物的高度。步骤3)打开检测仪进行测量。本专利技术还涉及一种测量放射性污染的装置，该装置包括检测仪和支架。检测仪设置在支架上方。支架采用可折叠式支架，其包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。支架采用高度为IOcm的可折叠式支架。权利要求1.一种放射性污染的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤 1)将检测仪放置在支架上； 2)将被检测物放置在支架下方，与检测仪相隔适当的距离； 3)打开检测仪进行测量。2.根据权利要求I所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的步骤I)中的支架为可折叠式支架。3.根据权利要求I或2所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的支架的高度为8 12cm。4.根据权利要求I所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的步骤2)中的适当的距离为根据仪器检定报告上的探测距离来放置被检测物的高度。5.一种实施权利要求I所述的放射性污染的测量方法的装置，其特征在于，该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。6.根据权利要求5所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的支架为可折叠式支架。7.根据权利要求6所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的可折叠式支架包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。8.根据权利要求5或6所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的支架的高度为8 12cm。全文摘要本专利技术涉及一种放射性污染的测量方法及装置，该方法包括以下步骤1)将检测仪放置在支架上；2)将被检测物放置在支架下方，离检测仪探测区适当的距离处；3)打开检测仪进行测量；该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。与现有技术相比，本专利技术具有操作方便、可加快检测速度、节省检测时间等优点。文档编号G01T1/167GK102914788SQ20111022299公开日2013年2月6日 申请日期2011年8月4日 优先权日2011年8月4日专利技术者胡溥 申请人:上海原子科兴药业有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种放射性污染的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)将检测仪放置在支架上；2)将被检测物放置在支架下方，与检测仪相隔适当的距离；3)打开检测仪进行测量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：胡溥，
申请(专利权)人：上海原子科兴药业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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