【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种频率特性测试装置，特别涉及一种基于SOPC的频率特性测试装置。
技术介绍
在电子产品的生产和调试过程中，很多时候无法也无需知道系统内部的结构和参数等信息，而只关心系统的传输特性，频率特性H(jco)就是对传输特性一种很好的描述，因此H(jco)有着重要的理论研究价值与实用价值，在工程实践和科学实验中都有着广泛的应用。通过测试系统的输入与输出经计算可以得到其H(j ω)，频率特性测试仪就是用来测试系统频率特性的一种仪器。因此，利用现有的资源设计一种即合理又实用的频率特性测试仪，来测试并显示系统的频率特性，以便对被测系统进行更进一步的了解和研究。常用的频率特性测试仪，又成为扫频仪，大致可分为两代，第一代扫频仪的典型产品如ΒΤ3等用50Hz锯齿波调制高频信号，在阴极射线管上显示结果；第二代扫频仪是以ICL8038等压控振荡器为核心，运用类似锁相频率合成技术，并配合D/A，A/D转换器，在微机或单片机控制下完成扫频。但是上述频率特性测试仪的测试精度较低，同时体积较大，不易携带。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决目前的频率特性测试仪测试精度较低，同时体积较大的问...
【技术保护点】
基于SOPC的频率特性测试装置，它包括DAC转换器（1）、信号调理电路（2）、幅度检测电路（3）、输入电路（4）和显示电路（5），其特征在于，它还包括Nios处理器内核（6）和DDS扫频控制内核（7）；Nios处理器内核（6）的扫频控制信号输出端与DDS扫频控制内核（7）的扫频控制信号输入端连接，DDS扫频控制内核（7）的扫频信号输出端与DAC转换器（1）的数字信号输入端连接，DAC转换器（1）的模拟信号输出端与信号调理电路（2）的模拟信号输入端连接，Nios处理器内核的调理控制信号输出端与信号调理电路（2）的控制信号输入端连接，信号调理电路（2）的测试信号输出端用于连接测...
【技术特征摘要】
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