正电子CT装置和定时校正方法制造方法及图纸

本发明专利技术的PET装置和定时校正方法是，选择进行同时计数的作为对象的两个γ射线检测器(3)，从所选择的这两个γ射线检测器(3)中选择一个检测器即基准检测器(S)，并且选择与另一个对置检测器(O)不同的γ射线检测器(3)，当反复进行该选择时，将与过去选择的两个γ射线检测器(3)相关的时间差直方图作为基准，根据该基准对与本次选择的两个γ射线检测器(3)相关的时间差直方图进行校正。然后，反复进行将校正后得到的与这两个γ射线检测器(3)相关的时间差直方图重新作为基准的操作，由此不反复多次进行测量、运算就能够求出最佳的时间差直方图。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对从被投放到被检体内的正电子放射性药剂放出的放射线进行检测的正电子CT装置和定时校正方法。
技术介绍
正电子CT装置，即PET (Positron Emission Tomography :正电子发射断层摄影)装置构成为检测由于阳电子(Positron)即正电子的湮没而产生的多个Y射线，仅当用多个检测器同时检测到(即同时计数到)Y射线时重构被检体的图像。为了进行同时计数而使用同时计数电路。另外，在从各检测器至同时计数电路的信号通道中信号发生时间滞后。在各信号通道中该时间滞后存在偏差。因而，需要进行定时校正，该定时校正是通过调整各信号通道中的滞后时间来使Y射线到达同时计数电路 的定时一致。在此，为了进行上述定时校正，利用校正用的放射线源(外部线源)、模拟信号来获取校正数据，基于该校正数据来调整信号传送的时间偏差(例如参照专利文献广3)。此夕卜，近年来，提出了一种利用限定正电子湮没发生地点的时间差信息(飞行时间)(T0F :Time Of Flight)的技术(例如参照专利文献4)。TOF是如下的一种技术利用湮没放射线为光速这一点，将从湮没发生地点到达检测器的时间差换算为从湮没发生地点至检测器的闪烁体元件的光源发生位置的距离差，由此求出湮没发生地点。对上述专利文献I中记载的信号的定时校正方法进行说明。检测器对从放射线源照射的放射线进行检测，将表示放射线入射到检测器的放射线入射定时的定时信号经由延迟调整电路输入到同时计数电路。接收该定时信号的输入并测量同时计数电路的输出，从而对各信号通道的每个信号通道测量放射线的感光度(即计数)。之后，一边改变在延迟调整电路中进行调整的延迟量一边测量上述感光度，从而求出针对延迟量变化的感光度分布。通过将所测量出的感光度最高的延迟量用于延迟调整电路来校正信号的时间滞后。对上述专利文献2中记载的信号的定时校正方法进行说明。将校正用的放射线源(外部线源)设置在PET装置的视场(F0V:Field of View)内。在此，将多个检测器排列成环(环状)。当将某个检测器作为基准时，对具有与该基准检测器共同的视场的多个检测器的定时值进行平均处理，求出该平均的定时值来作为相对于基准检测器的时间延迟值。将与基准检测器相邻的检测器重新作为基准，同样求出时间延迟值，求出最初求出的时间延迟值与其后求出的时间延迟值之差作为基准校正值。利用该基准校正值使时间一致，由此进行定时校正。下面，通过依次对相邻的检测器进行相同的运算，由此在环上进行一周的处理时进行了与所有检测器相关的定时校正。对上述专利文献3中记载的信号的定时校正方法进行说明。将从模拟信号产生装置输出的模拟信号分别输入到多个信号处理装置(信号处理单元)中，根据各信号处理装置的输出来生成校正数据，从而进行定时校正。另外，在上述专利文献4中，将能够对发生了相互作用的深度方向的光源位置(DOI =Depth of Interaction :作用深度)进行辨别的DOI检测器安装到TOF型PET装置中。DOI检测器是通过在放射线(在此为Y射线)的深度方向层叠各个闪烁体元件而构成的，通过重心运算来求出发生了相互作用的深度方向和横向(与入射面平行的方向)的坐标信息。将与该坐标信息相对应的检测时刻校正信息写入表中并进行存储，通过参照该检测时刻校正/[目息来提闻飞行时间差的彳目息精度。专利文献I :日本特公平6-19436号公报专利文献2 :专利第3343122号说明书专利文献3 :日本特开2006-90827号公报专利文献4 :日本特开2008-51701号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在上述专利文献I的情况下，为了求出延迟量必须反复进行测量。另外，在上述专利文献2的情况下，具有与基准检测器共同的视场的多个检测器之间时间不一致。因而，对这些检测器的定时值进行平均，将该平均的定时值用作时间延迟值，即使在环上进行一周的处理，时间也不会完全一致。其结果，在求出最佳的时间延迟值之前，需要绕环上多周(例如2 3周)地反复进行上述运算。另外，在上述专利文献3的情况下，除了检测器以外还需要模拟信号产生装置。另夕卜，仅对信号处理装置的延迟进行校正，因此对于如上述专利文献4那样的对发生了相互作用的深度方向的光源位置进行辨别的DOI检测器，在需要与湮没放射线和闪烁体元件发生相互作用的深度方向和横向的坐标信息相对应的检测时刻校正信息的情况下，无法求出检测时刻校正信息。本专利技术是鉴于这种情况而完成的，其目的在于提供一种不反复多次进行测量、运算且能够准确地进行同时计数的正电子CT装置和定时校正方法。用于解决问题的方案为了达成这种目的，本专利技术采用如下结构。S卩，本专利技术的正电子CT装置是具备多个检测器的正电子CT装置，这些检测器检测从被投放到被检体内的正电子放射性药剂放出的放射线，该正电子CT装置的特征在于，还具备运算单元，其反复进行如下操作与时间差直方图相关地选择进行同时计数的作为对象的两个检测器，从所选择的这两个检测器中选择其中一个检测器，并且选择与其中另一个检测器不同的检测器，在反复进行该选择时，将与过去选择的两个检测器相关的时间差直方图作为基准，基于该基准对与本次选择的两个检测器相关的时间差直方图进行校正，将校正后得到的与这两个检测器相关的时间差直方图重新作为基准，其中，该时间差直方图表示针对对放射线进行同时计数的各检测器的每对检测器的时间差变化的计数值分布；以及同时计数电路，其基于利用上述运算单元反复校正而得到的各检测器对的每对的上述时间差直方图对放射线进行同时计数。根据本专利技术的正电子CT装置，运算单元与表示针对对放射线进行同时计数的各检测器对的每对的时间差变化的计数值分布的时间差直方图相关地进行以下运算。即，选择进行同时计数的作为对象的两个检测器，从所选择的这两个检测器中选择其中一个检测器，并且选择与其中另一个检测器不同的检测器，在反复进行该选择时，将与过去选择的两个检测器相关的时间差直方图作为基准，根据该基准对与本次选择的两个检测器相关的时间差直方图进行校正。然后，反复进行将校正后得到的与这两个检测器相关的时间差直方图重新作为基准的操作。这样，反复进行如下操作将与过去选择的两个检测器相关的时间差直方图作为基准，根据该基准对与本次选择的两个检测器相关的时间差直方图进行校正，将校正后得到的与这两个检测器相关的时间差直方图重新作为基准。由此例如与上述专利文献2那样地对多个检测器的定时值进行平均处理的情况相比，在求出最佳的时间差直方图时收敛性好。因而，不反复多次进行测量、运算就能够求出最佳的时间差直方图。另夕卜，同时计数电路基于上述反复校正得到的各检测器的每对检测器的时间差直方图对放射线进行同时计数，因此能够准确地进行同时计数。其结果，不反复多次进行测量、运算且能够准确地进行同时计数。 另外，本专利技术的定时校正方法，用于对从被投放到被检体内的正电子放射性药剂放出的放射线进行同时计数，该定时校正方法的特征在于，包括直方图校正工序，在该直方图校正工序中，反复进行以下操作与时间差直方图相关地选择进行同时计数的作为对象的两个检测器，从所选择的这两个检测器中选择其中一个检测器，并且选择与其中另一个 检测器不同的检测器，在反复进行该选择时，将与过去选择的两个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：津田伦明，佐藤允信，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：
国别省市：