一种自动光学检测方法技术

本发明专利技术设计光学检测领域，尤其是一种进行图像学习对比的自动光学检测方法。包括步骤：对合格产品进行拍照获取合格产品图像；将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位置一致；对定位后的待测产品进行拍照，获取待测产品图像；将待测产品图像与合格产品图像进行比对。本发明专利技术的自动光学检测方法使用检测图像与合格图像的比对方式取代以往的检测图像与CAD理论数据的比对方式，不需要使用高端的工业相机镜头进行图像采集即可保证待测图像与合格图像的精确对比，不仅大幅降低了自动光学检测的成本，同时也保证了检测的精确性和合理性，即使由于定位导致细小误差也在可接受的范围内。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术设计光学检测领域，尤其是一种进行图像对比的自动光学检测方法。
技术介绍
自动光学检查(AOI, Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、半导体与PCB以及菲林印刷工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。现有的光学检测方式一般包括两类，一种为线牲扫描的方式对产品表面进行扫描，其获取的整幅图像中一行内的像素由线扫描图像传感器曝光拍摄直接获得，而每一行的拍摄位置是通过精密机械走位实现，然后触发曝光拍摄获得一行图像。将扫描的结果图像与CAD理论数据进行比对来判断产品合格与否。·这中间由于光学镜头存在的畸变的原因，在比对前还需要畸变的修正，这需要很高的计算能力。此类设备由于对机械走位精度、线扫描传感器及光学镜头要求很高，所以价格异常的昂贵；第二种是通过照相机对产品表面进行拍摄，然后与CAD理论数据进行比对。通过拼接方式完成整幅图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动光学检测方法，其特征在于，包括步骤：A、对合格产品进行扫描拍照获取合格产品图像；B、将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位一致；C、对定位后的待测产品进行扫描拍照，获取待测产品图像；D、将待测产品图像与合格产品图像进行比对

【技术特征摘要】
1.一种自动光学检测方法，其特征在于，包括步骤 A、对合格产品进行扫描拍照获取合格产品图像； B、将待测产品放入检测位并对其定位，使其与合格产品的检测位一致； C、对定位后的待测产品进行扫描拍照，获取待测产品图像； D、将待测产品图像与合格产品图像进行比对2.如权利要求I所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述的步骤B...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹旭东，何忠亮，
申请(专利权)人：何忠亮，
类型：发明
国别省市：