【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光线宽测量技术,尤其是一种激光线宽测量方法和设备。
技术介绍
激光以其具有单色性好、亮度高、方向性强和相干性强等特点,作为光源广泛应用于各个领域。而激光以上特点均可以归结为其具有相对于其他光源的卓越的窄线宽、相干性好的特点,因此输出的激光线宽成为评价激光器的重要指标之一。目前通常采用的测量激光线宽的方法有以下几种(I)拍频测量法 探测两台激光器的拍频信号,经频谱分析仪(spectrum analyzer,以下简称SA)或动态信号分析仪(FFT)测量出拍频信号线宽,如图I所示。两台激光器Laserl、Laser2发出的激光通过分光棱镜(BS)进行合束后,通过高速探测器(Det)进行探测,并将探测得到的拍频信号送入频谱分析仪或动态信号分析仪中进行测量,获得拍频信号线宽。这种方法可以采用两台结构、器件相同,相互独立的激光器合束后经探测器探测,此时,单台激光器线宽是得到的拍频信号线宽的V 2/2倍。或者采用一台已知线宽,且线宽远小于待测激光线宽的激光器与待测线宽的激光器进行拍频,此时,测量得到的拍频信号线宽即待测激光器线宽。通过拍频测量法测量待测激光器线宽时,由于进行拍频的两台激光器相对独立,受到气流、机械震动和温度等因素影响,造成输出激光中心频率的漂移,从而导致拍频信号中心频率不稳定。而为了准确测量窄线宽激光器的线宽,也即窄线宽激光器输出的激光线宽,需要将频谱分析仪或动态信号分析仪的扫描范围设定在一个较小的范围内以便准确测量,激光线宽越窄,需要设定的扫描范围越小。这就需要激光器具有很好的频率稳定性,兆赫量级甚至是千赫量级的抖动都可能导致拍频信号超出频谱 ...
【技术保护点】
一种激光线宽测量方法,其特征在于,包括:将第一激光器输出的第一激光与第二激光器输出的第二激光进行合束,所述第一激光与所述第二激光频率不同且相位不相关;探测接收合束后的拍频信号fb,所述拍频信号fb为第一激光与第二激光通过合束混频后的差频信号;将所述拍频信号fb分为第一路拍频信号与第二路拍频信号;将第一路拍频信号fb与频率为f0的理想信号混频,得到第一拍频信号与所述理想信号的差频信号|fb?f0|;通过可控带宽跟随振荡器,产生差频信号|fb?f0|在跟随振荡器的设定跟随带宽下的跟随信号ft=|fb?f0|;将第二路拍频信号与跟随信号ft混频,输出拍频信号与跟随信号ft的差频信号f0;对差频信号f0进行分析,获取第一激光器和/或第二激光器的激光线宽。
【技术特征摘要】
1.一种激光线宽测量方法,其特征在于,包括 将第一激光器输出的第一激光与第二激光器输出的第二激光进行合束,所述第一激光与所述第二激光频率不同且相位不相关; 探测接收合束后的拍频信号fb,所述拍频信号fb为第一激光与第二激光通过合束混频后的差频信号; 将所述拍频信号fb分为第一路拍频信号与第二路拍频信号; 将第一路拍频信号fb与频率为fo的理想信号混频,得到第一拍频信号与所述理想信号的差频/[目号; 通过可控带宽跟随振荡器,产生差频信号I在跟随振荡器的设定跟随带宽下的跟随信号ft = fb-f0 ; 将第二路拍频信号与跟随信号ft混频,输出拍频信号与跟随信号ft的差频信号fo ; 对差频信号fo进行分析,获取第一激光器和/或第二激光器的激光线宽。2.根据权利要求I所述的方法,其特征在于,将第一路混频信号fb与频率为&的理想信号混频,得到第一拍频信号与所述理想信号的差频信号包括 通过第一混频器对第一路混频信号fb与频率为&的理想信号进行混频,得到第一混频信号 fb、fQ、fb+fQ 与 |fb-fQl ; 通过第一滤波器滤除第一混频信号中的fb、fo与fb+fo,得到差频信号I fb-foU3.根据权利要求I所述的方法,其特征在于,将第二路拍频信号与跟随信号ft混频,输出拍频信号与跟随信号ft的差频信号fo包括 将第二路拍频信号与跟随信号&进行混频,得到第二混频信号fb、fo> 2fb-f0与fb-fo ; 通过第二滤波器滤除第二混频信号中的fb、2fb-f0与Ifb-L|,得到差频信号4.根据权利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,对差频信号&进行检测,获取第一激光器和/或第二激光器的激光线宽包括 对差频信号&进行分析,获取拍频信号fb的线宽; 根据第一激光器与第二激光器激光线宽之间关系,获取第一激光器和/或第二激光器的激光线宽。5.—种激光线宽测量设备,其特征在于,包括第一激光器、第二激光器、合束装置、探测器、功分器、第一混频器、可控带宽跟随振荡器、第二混频器与信号分析装置,第一激光器输出的第一激光与第二激光器输出的第二激光频率不同且相位不相关; 所述合束装置,用于对第一激光与第二激光进行合束; 所述探测器,用于探测接收合束后的拍频信号fb,所述拍频信号fb为第一激光与第二激光通过合束混频后的差频信号; 所述功分器,用于将所述拍频信号fb分为第...
【专利技术属性】
技术研发人员:臧二军,赵阳,曹建平,李烨,方占军,
申请(专利权)人:中国计量科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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