一种光学测量装置，用以测量一光源的一光学性质，其包含有一光学检测部与一滤光件，该光学检测部包含有一与该光源光学连接且供该光源进入该光学检测部的进光口；该滤光件活动装设于该进光口与该光源之间，且包含有一本体以及贯穿该本体的一第一孔洞与一孔径相异于该第一孔洞的第二孔洞。本实用新型专利技术利用该滤光件调整进入该进光口的光线强度，以利于该光学检测部进行光学性质测量，且该滤光件的活动式设计使操作者易于调整滤光范围。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种光学测量设备，尤指一种具有滤光功能的光学测量设备。
技术介绍
现代社会中，人们对于照明光源发展出许多不同的需求与应用，为了能更有效率的使用照明光源以及提升光源质量，对于照明光源的各种光学性质的要求与定义也更加地重视。尤其是针对发光二极管(Light Emitted Diode, LED)而言，因各领域对光源的需求不一，所以在工艺后段，必需针对发光二极管的发光亮度、波长及操作电压等光电特性进行测量并予以分级分类，以将等级互异的晶粒应用于适合的领域并对其良率作有效的控管。已知用于测量发光二极管的光学性质的技术如美国专利技术专利公告第US 7，508，503号所示，披露一种具有温度控制功能的积分球，其中包含有一主体、一位于该主体内的球状空间、一设有一光源的支架、一位于该支架上且设有一电线的第一穿孔、一供控温气体流通的第二穿孔、一与该第二穿孔连通并供给该控温气体的气流管、一辅助光源以及一检测器。该支架设于该球状空间内，该辅助光源、该检测器与该第二穿孔的前方各设有一挡板，该检测器穿设于该主体且与该球状空间连通，该气流管为供给热气流进入该球状空间，通过调整其流量，操作者可于接近该光源实际使用状态的环境测量其光学性质。除前述现有技术外，另有一种近似前述的积分球装置，可用于测量一发光二极管的光学性质，其主要包含一呈球形的本体、一光学连接于该本体用以测量该光源的检测器以及一供该光源射入的入口。在测量时，操作者将一待测量的发光二极管放置于该入口处，以使该发光二极管发出的光线经由该入口进入该本体的一空间内，该光线在该空间内通过该本体的内壁面进行漫射后，由该检测器取得该光线并测量其各种光学性质。然而，于上述现有技术中，该检测器的有效测量值有一定的范围，换言之，若光线进入该检测器的强度过高，而超出该检测器的有效测量值时，则易导致测量误差。
技术实现思路
本技术的主要目的，为解决已知光学测量装置因检测器所取得的光源强度超出有效测量值而易导致测量误差的问题。为达上述目的，本技术提供一种光学测量装置，用以测量一光源的一光学性质，所述光学测量装置包含有一光学检测部以及一滤光件；该光学检测部包含有一与该光源光学连接且供该光源进入该光学检测部的进光口 ；该滤光件活动装设于该进光口与该光源之间，且该滤光件包含有一本体以及贯穿该本体的一第一孔洞和一与该第一孔洞的孔径相异的第二孔洞，其中，该滤光件相对该光学检测部具有一使该第一孔洞对准该进光口的第一位置以及一使该第二孔洞对准该进光口的第二位置。进一步地，光学测量装置还包含有一设于进光口与光源之间的连接部，连接部具有一供滤光件在第一位置与第二位置之间移动的穿槽、一与穿槽相接并与进光口连通的开口以及一设于穿槽内的挡止块。进一步地，连接部还包含一与光学检测部相接的第一固定座及一设于滤光件的靠近光源的一侧的第二固定座，第一固定座盖合于第二固定座并在第一固定座与第二固定座之间形成穿槽。进一步地，光学检测部包含有一与进光口光学连接并固定于第一固定座上的光纤以及一与光纤相接的测量模块。 进一步地，滤光件还具有一设于本体的周围的定位壁。进一步地，定位壁包括分别与本体的两端相连接的一第一主定位壁及一第二主定位壁。进一步地，滤光件还包括一连接本体的两侧并设于第一主定 位壁与第二主定位壁之间的辅助定位壁。进一步地，光学测量装置还包含有一位于光源与滤光件之间的收光部，收光部包含有一连接于连接部的壳体、贯穿壳体的一收光口与一出光口以及一位于壳体内且设于收光口与出光口之间并相互连通的漫射空间，收光口供光源进入漫射空间，出光口与进光口形成一光学通道。进一步地，光学检测部包含有一与进光口光学连接的光纤以及一与光纤相接的测量模块。进一步地，第一孔洞的孔径大于第二孔洞的孔径。通过上述技术方案本技术至少具有下列优点I.本技术通过装设于该进光口与该光源之间的该滤光件进行滤光功能，使进入该进光口的光线强度能符合该光学检测部所容许的有效测量值的范围内，以减少测量误差的产生。2.该滤光件为活动式地设置于该进光口与该光源之间，当操作者欲针对不同性质的该光源进行测量或拟搭配不同的该光学检测部使用时，通过改变该滤光件的位置，即可调整进光量而符合测量条件，如此，增加该光学测量装置的应用性。附图说明图IA为本技术第一实施例中，滤光件位于第一位置的结构剖面示意图。图IB为本技术第一实施例中，滤光件位于第二位置的结构剖面示意图。图2为本技术第二实施例的立体示意图。图3A为本技术第二实施例中，滤光件位于第一位置的A-A结构剖面示意图。图3B为本技术第二实施例中，滤光件位于第二位置的A-A结构剖面示意图。图4为图3B的局部放大示意图。具体实施方式有关本技术的详细说明及
技术实现思路
，现就配合图式说明如下请先参阅图IA及图1B，分别为本技术第一实施例中，滤光件位于第一位置的结构剖面示意图以及本技术第一实施例中，滤光件位于第二位置的结构剖面示意图。本技术为一种光学测量装置，用以测量一光源10的一光学性质，以下，以该光源10为一发光二极管为例。该光学测量装置包含有一光学检测部30以及一滤光件40。该光学检测部30包含有一与该光源10光学连接且供该光源10进入该光学检测部30的进光口 31，该进光口 31以一光纤33连接至一测量模块(图中未示);该滤光件40活动装设于该光源10与该进光口 31之间，该滤光件40包含有一呈板状的本体41以及贯穿该本体41的一第一孔洞42与一孔径小于该第一孔洞42的第二孔洞43，其中，如图IA所示，该滤光件40相对该光学检测部30具有一使该第一孔洞42对准该进光口 31的第一位置，以及如图IB所示，一使该第二孔洞43对准该进光口 31的第二位置。此外，在本实施例中，该光学测量装置还包括一连接部50，该连接部50设于该进光口 31与该光源10之间，该连接部50包含有一第一固定座54、一第二固定座55、一穿槽51、一开口 52以及一挡止块53，该第一固定座54与该光学检测部30相接，该第二固定座55设于该滤光件40靠近该光源10的一侧,且该第一固定座54盖合于该第二固定座55并于彼此间形成横向贯穿的该穿槽51以及纵向贯穿的该开口 52，该穿槽51供该滤光件40插设，而该开口 52对准该进光口 31而相互连通。另以本技术的第二实施例作详细说明，请参阅图2与图3A，分别为本技术第二实施例的立体示意图与本技术第二实施例中，滤光件位于第一位置的A-A结构剖面示意图，第二实施例还包含一收光部20，该收光部20为一积分球，该收光部20包含有一壳体21、一收光口 22、一出光口 23以及一漫射空间24。该壳体21由一与该连接部50相接的上壳体211以及一下壳体212组成，该收光口 22与该出光口 23分别贯穿该壳体21，且该出光口 23位于该上壳体211，该收光口 22位于该下壳体212相对应于该出光口 23的位置，该漫射空间24位于该壳体21内且设于该收光口 22与该出光口 23之间，该收光口 22、该出光口 23与该漫射空间24为相互连通，该出光口 23与该进光口 31之间形成一光学通道32。于操作时，该光源10放置于靠近该收光口 22处，如图3A所示，以使该光源本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学测量装置，用以测量一光源的一光学性质，其特征在于，所述光学测量装置包含有:一光学检测部，所述光学检测部包含有一与所述光源光学连接且供所述光源进入所述光学检测部的进光口；以及一活动装设于所述进光口与所述光源之间的滤光件，所述滤光件包含有一本体以及贯穿所述本体的一第一孔洞和一与所述第一孔洞的孔径相异的第二孔洞，其中，所述滤光件相对所述光学检测部具有一使所述第一孔洞对准所述进光口的第一位置以及一使所述第二孔洞对准所述进光口的第二位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：卢彦豪，
申请(专利权)人：梭特科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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