一种双辊测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种双辊测厚装置，它包括设在基准框架上的基准辊和设在浮动框架上的浮动辊，浮动框架位于基准框架上方，通过上下平动机构与基准框架连接，基准辊的辊面和浮动辊的辊面相接触，它还设有基准辊和浮动辊之间的位移传感器，位移传感器与数据处理系统相连接。它结构简单、成本适中，能够对箔带、薄膜等片状物料的厚度进行在线测量。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种双辊测厚装置。
技术介绍
在高精度箔带、薄膜、隔膜(如铜箔、电池极片、电容纸、高档滤网等)生产过程中，一般要求产品厚度误差小于O. 005毫米(即小于5微米)，这使得产品质量控制和高效率生产之间产生了尖锐的矛盾。目前，绝大多数企业在测量和监控产品厚度方面仍然使用传统的测量仪器和测量方法，即人工使用千分尺或千分表实施测量，由此产生的问题是(I)测量结果中的人为误差无法消除，(2) —般要停机测量或一批产品生产结束后测量，降低了生产效率或增加了废品率。为解决这两类问题，少数企业采用了 Y射线和激光测厚技术，提高了测量精度和效率，但高成本制约了先进技术的广泛应用。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种双辊测厚装置，它具有结构简单、成本适中，能够对片状物料的厚度进行在线测量等特点。为解决上述技术问题，本技术所采取的技术方案是它包括设在基准框架上的基准辊和设在浮动框架上的浮动辊，浮动框架位于基准框架上方，通过上下平动机构与基准框架连接，基准辊的辊面和浮动辊的辊面相接触，它还设有基准辊和浮动辊之间的位移传感器，位移传感器与数据处理系统相连接。本技术进一步改进在于在基准辊中心轴上设有传动轮；上下平动机构的结构为基准框架和浮动框架通过四个对称设置的直线轴承滑动连接；基准辊与基准框架和浮动辊与浮动框架均通过滑动轴承连接；位移传感器安装位置线位于基准辊和浮动辊轴线所处的平面上；基准辊两端设有基准辊颈，浮动辊两端设有浮动辊颈；位移传感器共有四个，分别测量基准辊两端基准辊颈和浮动辊两端浮动辊颈相对于基准框架的位移，且通过固定在基准框架下部底座上的传感器支架安装；位移传感器为电涡流位移传感器。采用上述技术方案所产生的有益效果在于本技术采用双辊对置结构，可实现在线测量，生产效率提高4-7倍；测量并适时显示，产品超差或报警停机、或做超差标记，做到对产品质量的控制；可将测量信号传给闭环控制系统，自动控制厚度；位移传感器采用电涡流位移传感器，分比率可达O. I微米。附图说明图I是本技术的结构示意图；图2是图I中A-A剖视图。在附图中1、基准框架；2、基准辊；3、浮动框架；4、浮动辊；5、位移传感器；6、数据处理系统;7、传动轮;8、直线轴承；9、底座；10、传感器支架；11、基准辊颈；12、浮动辊颈。具体实施方式由图1-2所示的实施例可知，它包括设在基准框架I上的基准辊2和设在浮动框架3上的浮动辊4，浮动框架3位于基准框架I上方，通过上下平动机构与基准框架I连接，基准辊2的辊面和浮动辊4的辊面相接触，它还设有基准辊2和浮动辊4之间的位移传感器5，位移传感器5与数据处理系统6相连接；在基准辊2中心轴上设有传动轮7 ;上下平动机构的结构为基准框架I和浮动框架3通过四个对称设置的直线轴承8滑动连接；基准辊2与基准框架I和浮动辊4与浮动框架3均通过滑动轴承连接；位移传感器5安装位置线位于基准辊2和浮动辊4轴线所处的平面上；基准辊2两端设有基准辊颈11，浮动辊4两端设有浮动辊颈12 ;位移传感器5共有四个，分别测量基准辊2两端基准辊颈11和浮动辊4两端浮动辊颈12相对于基准框架I的位移，且通过固定在基准框架I下部底座9上的传感器支架10安装；位移传感器5为电涡流位移传感器。 上下平动机构可使连接的部件沿直线做小幅度相对运动的机构。例如通过直线轴承或直线导轨等组成的机构。工作原理浮动框架相对基准框架只能沿直线在一个方向上做小幅度运动。高精度辊的圆度误差小于I微米，通过高精度轴承将一个辊安装在基准框架上，另一个辊安装在浮动框架上，构成了基准辊和浮动辊。在基准辊和浮动辊之间安装高精度位移传感器，位移传感器的分辨率为O. I微米。箔带、薄膜等片状物料从这对辊之间通过，物料厚度变化引起基准辊和浮动辊产生相对位移，高精度位移传感器将位移信号传给数据处理系统，从而实现厚度测量。在连续生产过程中，通过适时测量产品的厚度来监测或控制生产设备的工作状态。权利要求1.一种双辊测厚装置，其特征在于它包括设在基准框架(I)上的基准辊(2)和设在浮动框架(3)上的浮动辊(4)，所述浮动框架(3)位于基准框架(I)上方，通过上下平动机构与基准框架(I)连接，所述基准辊(2)的辊面和浮动辊(4)的辊面相接触，它还设有基准辊(2)和浮动辊(4)之间的位移传感器(5)，所述位移传感器(5)与数据处理系统(6)相连接。2.根据权利要求I所述的一种 双辊测厚装置，其特征在于在基准辊(2)中心轴上设有传动轮(7)。3.根据权利要求I或2所述的一种双辊测厚装置，其特征在于所述上下平动机构的结构为基准框架(I)和浮动框架(3)通过四个对称设置的直线轴承(8)滑动连接。4.根据权利要求3所述的一种双辊测厚装置，其特征在于所述基准辊(2)与基准框架(I)和浮动辊(4)与浮动框架(3)均通过滑动轴承连接。5.根据权利要求4所述的一种双辊测厚装置，其特征在于所述位移传感器(5)安装位置线位于基准辊(2)和浮动辊(4)轴线所处的平面上。6.根据权利要求5所述的一种双辊测厚装置，其特征在于所述基准辊(2)两端设有基准辊颈(11)，浮动辊(4)两端设有浮动辊颈(12);所述位移传感器(5)共有四个，分别测量基准辊(2)两端基准辊颈(11)和浮动辊(4)两端浮动辊颈(12)相对于基准框架(I)的位移，且通过固定在基准框架(I)下部底座(9)上的传感器支架(10)安装。7.根据权利要求6所述的一种双辊测厚装置，其特征在于所述位移传感器(5)为电涡流位移传感器。专利摘要本技术公开了一种双辊测厚装置，它包括设在基准框架上的基准辊和设在浮动框架上的浮动辊，浮动框架位于基准框架上方，通过上下平动机构与基准框架连接，基准辊的辊面和浮动辊的辊面相接触，它还设有基准辊和浮动辊之间的位移传感器，位移传感器与数据处理系统相连接。它结构简单、成本适中，能够对箔带、薄膜等片状物料的厚度进行在线测量。文档编号G01B21/08GK202692967SQ201220342958公开日2013年1月23日 申请日期2012年7月16日 优先权日2012年7月16日专利技术者孙圣奇 申请人:孙圣奇本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双辊测厚装置，其特征在于：它包括设在基准框架（1）上的基准辊（2）和设在浮动框架（3）上的浮动辊（4），所述浮动框架（3）位于基准框架（1）上方，通过上下平动机构与基准框架（1）连接，所述基准辊（2）的辊面和浮动辊（4）的辊面相接触，它还设有基准辊（2）和浮动辊（4）之间的位移传感器（5），所述位移传感器（5）与数据处理系统（6）相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙圣奇，
申请(专利权)人：孙圣奇，
类型：实用新型
国别省市：