IC卡弯曲测试装置和方法制造方法及图纸

技术编号:15760778 阅读:247 留言:0更新日期:2017-07-05 15:44
本发明专利技术实施例提供了一种IC卡弯曲测试装置和方法。该装置主要包括:定轮装置、动轮装置,所述定轮装置包括定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机,所述动轮装置包括动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机;所述动轮装置设置在所述定轮装置的外侧,所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间有能通过IC卡厚度的间隔。本发明专利技术实施例的IC卡弯曲测试装置的实用性强:即能实现对IC卡批量测试,又能对IC卡进行弯曲疲劳压力测试,通过改变摆动角度参数改变IC卡的弯曲量。即能单独实现IC卡弯曲测试设备,又能易于与其它IC卡设备集成。用该方法生产制造设备的零配件易于制造和加工,测试费用少。

IC card bending test device and method

The embodiment of the invention provides an IC card bending testing device and method. The device comprises a fixed wheel device, driving device, the device comprises a fixed wheel fixed wheel round shaft and driven wheel motor rotation shaft, the driving device comprises a wheel shaft and the drive motor wheel round round shaft; the outer side wheel device is arranged in the fixed wheel device. The circle between the wheel shaft and the wheel shaft through the circular IC card thickness interval. IC card bending test device of the embodiment of the invention is practical: to realize the batch testing of IC card, but also can carry out the bending fatigue stress tests on the IC card, bending amount by changing the swing angle changes of the parameters of IC card. That is, the IC card bending test device can be implemented alone, and it can be easily integrated with other IC card equipment. With the method, the spare parts of the manufacturing equipment are easy to be manufactured and processed, and the testing cost is low.

【技术实现步骤摘要】
IC卡弯曲测试装置和方法
本专利技术实施例涉及IC卡(IntegratedCircuitCard,集成电路卡)测试
,尤其涉及一种IC卡弯曲测试装置和方法。
技术介绍
IC卡在我们的生活中使用越来越普遍,使用数量越来越大,但是用户在使用中经常出现使用一段时间后,IC卡不能使用的现象。对损坏后返回的IC卡进行分析,除去人为损坏的卡,大部分是芯片虚接、虚焊或线圈线变形造成线与线之间虚接,造成IC卡使用一段时间后出现不能使用现象。现有技术中的一种IC卡弯曲测试方法包括;将IC卡放在两个卡槽中,通过两个卡槽之间距离变化强迫IC卡弯曲变形,弯曲测试设备卡槽之间距离变化的大小确定IC卡弯曲量的大小,卡弯曲量需经过人工测量才能确定。上述现有技术中的一种IC卡弯曲测试方法缺点为:该测试方法测试误差大,测试效率很低,并且是破坏性测试,测试后就不能在成为产品出厂。用该方法IC卡在生产过程中和出厂前虽然都进行了抽样测试,但是不能对虚接、虚焊等故障进行批量测试。IC卡每天产量非常大,老的对IC卡进行抽样,由弯曲测试设备进行弯曲疲劳测试检测已经不能满足产品质量检测要求。
技术实现思路
本专利技术实施例的实施例提供了一种IC卡弯曲测试装置和方法,以实现对IC卡进行有效的扭曲测试。本专利技术实施例提供了如下方案:提供一种IC卡弯曲测试装置,包括:定轮装置、动轮装置,所述定轮装置包括定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机,所述动轮装置包括动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机;所述动轮装置设置在所述定轮装置的外侧,所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间设置能通过IC卡厚度的间隔。进一步的,所述动轮装置自身转动,并且以半径R为中心、与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度往复摆动运动。进一步的,所述带动动轮圆轴转动的电机与所述动轮装置同心,通过连接装置与所述动轮装置连接。进一步的,在所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间放置IC卡,所述动轮圆轴转动压迫IC卡按所述定轮圆轴的外径轮廓弯曲变形。进一步的,所述定轮装置为圆轴,该圆轴静止不动或和由电机带动转动。进一步的,所述动轮装置为圆轴,该圆轴由电机带动转动。进一步的,所述带动动轮圆轴转动的电机与所述定轮装置转动的中心同心转动。进一步的,包括:当对IC卡进行弯曲疲劳压力测试时,摆动的电机带动所述动轮圆轴双向转动,所述动轮圆轴迫使IC卡按所述定轮圆轴的外径轮廓弯曲变形,所述定轮圆轴不用转动;当传送IC卡时,摆动的电机停止摆动,所述动轮圆轴、定轮圆轴转动,所述动轮圆轴、定轮圆轴传送所述IC卡。进一步的,所述IC卡弯曲量根据所述定轮装置的圆轴外径和所述动轮装置的摆动角度确定。进一步的,所述IC卡弯曲量的计算公式如下:其中r1为定轮圆轴的外径,α为动轮摆动的角度,h为IC卡弯曲量。由上述本专利技术实施例的实施例提供的技术方案可以看出,本专利技术实施例的IC卡弯曲测试装置的实用性强:即能实现对IC卡批量测试,又能对IC卡进行弯曲疲劳压力测试,通过改变摆动角度参数改变IC卡的弯曲量。即能单独实现IC卡弯曲测试设备,又能易于与其它IC卡设备集成。用该方法生产制造设备的零配件易于制造和加工,测试费用少。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术实施例的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例一提供的一种IC卡弯曲测试装置的结构示意图;图2是本专利技术实施例在实现IC卡在传送过程中进行弯曲测试的示意图;图3是本专利技术实施例在实现IC卡弯曲疲劳压力测试的示意图;图4是本专利技术实施例是实现IC卡正常传送时的示意图;图5是本专利技术实施例通过变动偏移的角度实现对弯曲量的改变计算图。具体实施方式为便于对本专利技术实施例的理解,下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明,且各个实施例并不构成对本专利技术实施例的限定。实施例一本专利技术实施例解决的问题是针对现有的IC卡弯曲测试方法的不足,提供一种能实现对IC卡进行多种测试方案的测试方法,该方法既能满足在IC卡大批量生产过程中,在线对IC卡进行弯曲测试,又能对抽样IC卡进行弯曲疲劳压力测试。本专利技术实施例提供的一种IC卡弯曲测试装置的结构示意图如图1所示,包括:一个定轮装置,一个动轮装置,动轮在定轮圆轴外侧且与定轮圆轴之间设置能通过IC卡厚度的间隔,IC卡在两个装置之间,动轮装置能自身转动,并且能够以半径R为中心、与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度往复摆动运动,IC卡在定轮圆轴和动轮圆轴之间,动轮圆轴转动压迫IC卡按定轮圆轴的外径轮廓弯曲变形。本专利技术实施例的定轮装置包括能带动IC卡移动的定轮圆轴和使定轮圆轴转动的电机,定轮圆轴可以静止不动或和由电机带动转动;当对抽样IC卡样卡进行弯曲疲劳压力测试时,定轮圆轴不用转动;当传送IC卡时定轮圆轴转动变成IC卡传送装置。本专利技术实施例的动轮装置包括一个动轮圆轴和带动动轮圆轴双向转动的电机,带动动轮圆轴转动的电机通过连接装置和动轮圆轴连接,通过连接装置带动动轮圆轴转动。当对抽样IC卡样卡进行弯曲疲劳压力测试时,动轮圆轴双向转动,摆动的电机转动一定的角度带动动轮圆轴转动迫使IC卡弯曲和恢复。当传送IC卡时摆动的电机停止摆动,动轮圆轴转动变成IC卡传送装置。在本专利技术实施例中,IC卡弯曲量可以通过定轮装置的定轮圆轴外径尺寸(r1)和动轮装置的摆动角度(α)确定,计算公式如下:其中,h是IC卡弯曲量。实施例二基于上述图1所示的IC卡弯曲测试装置,该实施例提供的一种IC卡在传送过程中进行弯曲的测试方法的处理过程包括:该方法利用动轮装置转动的圆轴迫使IC卡按定轮装置的圆轴的轮廓形状弯曲,同时定轮圆轴不转动,摆动电机将动轮装置按IC卡的弯曲量从初始位置1偏移到一定的角度位置2不动,如图1所示。该方法用两个转动圆轴实现了IC卡传送,同时实现对IC卡进行了弯曲测试功能。实施例三该实施例提供了另一种IC卡在传送过程中进行弯曲的测试方法。该方法利用动轮装置转动的圆轴迫使IC卡按定轮装置的圆轴外形轮廓弯曲,定轮圆轴不转动,摆动电机将动轮装置按IC卡的弯曲量从初始位置1偏移到一定的角度位置2后在回到初始位置1,如图2所示。动轮装置回到初始位置1后,定轮装置圆轴转动,如图3所示,用该方法实现了即对IC卡进行传送,又实现对IC卡进行了弯曲测试功能。实施例四该实施例提供了一种对IC卡进行弯曲疲劳压力测试方法。该方法利用动轮装置转动的圆轴迫使IC卡按定轮装置圆轴的轮廓形状弯曲,定轮圆轴不转动,摆动电机将动轮装置按IC卡的弯曲量从初始位置1偏移到一定的角度位置2后在回到初始位置1,如此反复,达到规定测试次数,如图4所示,用该方法实现了即对IC卡进行弯曲疲劳压力测试。综上所述,本专利技术实施例提供了一种能实现在生产中对IC卡进行在线弯曲测试的装置,该装置的优点在于:⑴实用性强:即能实现对IC卡批量测试,又能对IC卡进行弯曲疲劳压力测试,通过改变摆动角度参数改变IC卡的弯曲量。⑵适应性:即能单独实现IC卡弯曲测试设备,又能易于与其它IC卡设备集成。⑶成本低:用该方法生产制造设备的零配件易于制造和加工,测试费用少。⑷生产测试效率本文档来自技高网...
IC卡弯曲测试装置和方法

【技术保护点】
一种IC卡弯曲测试装置,其特征在于,包括:定轮装置、动轮装置,所述定轮装置包括定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机,所述动轮装置包括动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机;所述动轮装置设置在所述定轮装置的外侧,所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间设置能通过IC卡厚度的间隔。

【技术特征摘要】
1.一种IC卡弯曲测试装置,其特征在于,包括:定轮装置、动轮装置,所述定轮装置包括定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机,所述动轮装置包括动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机;所述动轮装置设置在所述定轮装置的外侧,所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间设置能通过IC卡厚度的间隔。2.根据权利要求1所述的IC卡弯曲测试装置,其特征在于,所述动轮装置自身转动,并且以半径R为中心、与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度往复摆动运动。3.根据权利要求1所述的IC卡弯曲测试装置,其特征在于,所述带动动轮圆轴转动的电机与所述动轮装置同心,通过连接装置与所述动轮装置连接。4.根据权利要求1所述的IC卡弯曲测试装置,其特征在于,在所述定轮圆轴和所述动轮圆轴之间放置IC卡,所述动轮圆轴转动压迫IC卡按所述定轮圆轴的外径轮廓弯曲变形。5.根据权利要求1所述的IC卡弯曲测试装置,其特征在于,所述定轮装置为圆轴,该圆轴静止不动或和由电机带动转动。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:王顺仁
申请(专利权)人:航天信息股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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