校准坐标测量机数学模型以补偿变形导致动态误差的方法技术

技术编号:8240719 阅读:193 留言:0更新日期:2013-01-24 21:04
本发明专利技术涉及校准坐标测量机数学模型以补偿变形导致动态误差的方法。一种校准数学模型以补偿由测量机的动态变形导致的误差的方法,该测量机配备有能够在测量空间内移动触针探头的移动单元,其中该模型响应于与所述驱动装置(13)的控制信号相关的至少一个输入量来提供多个输出量,所述输出量包括由变形引入的测量误差的至少一个分量以及至少一个由激光传感器检测到的并与变形相关的量。在校准步骤中,移动单元经受遵循正弦运动规律的、保持探头的末端被阻挡的、由可变频率的小幅值振荡构成的运动周期;在该运动周期期间,输入量和输出量被采样,并被提供给用于模型辨识的算法。

【技术实现步骤摘要】
校准坐标测量机数学模型以补偿变形导致动态误差的方法
本专利技术涉及一种校准坐标测量机的数学模型以补偿由变形导致的动态误差的方法。
技术介绍
众所周知,坐标测量机通常包括三个支架,这些支架可沿着笛卡尔参考系统的坐标轴移动并能在测量空间内移动测量传感器。所述测量机能够提供由测量传感器检测到的工件的坐标作为输出,所述坐标根据支架沿着各自轴线的位置被计算出。更具体地,坐标测量机包括:配备有沿着第一轴线运行的导引装置的基座结构,例如为花岗石或其他材料的底座或者柱状结构;可沿着第一轴线在基座结构上移动的第一支架;由第一支架承载并可沿着与第一轴线正交的第二轴线移动的第二支架;以及由第二支架承载并可沿着与前两个轴线正交的第三轴线相对于第二支架移动的第三支架。测量传感器由第三支架承载。一般说来,第一轴线是水平的;取决于测量机的类型,第二轴线可为水平的以及第三轴线为竖直的,或者第三轴线可为水平的以及第二轴线为竖直的。例如,在桥式或龙门式测量机中,第一支架包括限定第二轴线的水平横向构件,第二支架在所述水平横向构件上移动,并且第三支架由承载在第二支架上的竖直移动柱构成。相反,在水平悬臂式测量机中,第一支架包本文档来自技高网...
校准坐标测量机数学模型以补偿变形导致动态误差的方法

【技术保护点】
一种校准测量机的数学模型以补偿由动态变形引起的误差的方法,所述测量机包括:用于在测量空间内移动触针探头(3)的移动单元(7),所述移动单元(7)包括在驱动装置(13)的驱动力下能够沿轴线移动的至少一个构件(8;12;42;56),所述探头包括配备有末端(32)的触针(31);以及传感器,所述传感器构造成实时检测与动态变形相关的至少一个量(mx,my);其中,所述模型响应于与所述驱动装置(13)的控制信号相关的至少一个输入量来提供多个输出量,所述输出量包括由所述变形引入的测量误差的至少一个分量以及至少由所述传感器检测到的所述量,该校准方法包括以下步骤:控制所述移动单元(7)以执行能够产生动态变形...

【技术特征摘要】
2011.07.06 EP 11425179.61.一种校准测量机的数学模型以补偿由动态变形引起的误差的方法,所述测量机包括:用于在测量空间内移动触针探头的移动单元(7),所述移动单元(7)包括在驱动装置的驱动力下能够沿轴线移动的至少一个可动构件,所述探头包括配备有末端的触针(31);以及传感器,所述传感器构造成实时检测与所述移动单元的动态变形相关的至少一个量(mx,my);其中,所述模型响应于与所述驱动装置的控制信号相关的至少一个输入量来提供多个输出量,所述输出量包括由所述变形引入的测量误差的至少一个分量以及至少由所述传感器检测到的所述量,该校准方法包括以下步骤:控制所述移动单元(7)以执行能够产生动态变形的运动周期;在运动周期期间采集所述输入量和所述输出量的多个采样值;存储所述采样值;以及将所述采样值提供给辨识算法以定义所述模型;所述方法的特征在于,在保持所述探头的所述触针(31)的末端固定的情况下,以如下运动规律执行所述运动周期,所述运动规律为其幅值小于所述触针的所述末端相对于所述探头的保持凸缘的移动范围,其频谱代表所述测量机的动态使用...

【专利技术属性】
技术研发人员:G·加斯科
申请(专利权)人:海克斯康测量技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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