【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种折射仪,特别是涉及一种数字式V棱镜折射仪。
技术介绍
光学材料作为成像光学系统的介质材料,在光学设计中对其折射率的要求是非常严格的。在光学材料熔制、检验出厂过程中,都需要进行折射率的测量。目前常用的测试方法主要有阿贝折射仪法、V棱镜法和最小偏向法。相比较而言,最小偏向角法的测量精度最高,可以达到1X10_5 1X10_6,但其缺点在于样品制作困难,测试周期较长,不能满足大规模经常性测试的需要。阿贝折射仪法测量精度低,不能满足光学材料折射率的测量精度要求。而V棱镜法测量精度适中,一般可以达到±1 ±5X10_5,测试速度快,测量范围大, 样品制作容易,是大规模经常性折射率测试的首选方法,因此在生产企业中广为采用。采用V棱镜折射仪进行光学材料折射率测试,需要测试人员通过上下摆动测微目镜观察寻找相应的谱线,并带动读盘旋转测量偏向角,其缺点是观测视角较小,寻线过程长,长时间目视观测,测试人员容易视疲劳,人为误差较大。另外,V棱镜折射仪使用一段时间以后,由于磨损等原因,仪器的零位要发生改变,要定期对仪器进行重新调校和标定,否则测出来的数据是不准的,误差很大。 ...
【技术保护点】
数字式V棱镜折射仪,按光路依次包括平行光管(1)、载物系统和自准直望远镜(5),其特征在于,还包括采集出射偏转像的CCD摄像机(18)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周佺佺,马伯涛,吴志强,
申请(专利权)人:成都光明光电股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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