本实用新型专利技术公开了一种磁粉流动性测量装置，包括：底座及安放于底座上的铁磁性的试块；磁轭，与试块平面接触；支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。本实用新型专利技术的有益效果主要体现在：通过计算从漏斗开口落下的磁粉在试块表面的磁力作用下的分布，能够方便、量化的得到被测试的磁粉的流动性数据。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及无损探测领域，尤其涉及一种磁粉流动性测量装置。
技术介绍
干法磁粉检测是无损检测磁粉检测的一种方法，所采用的磁粉为具有一定粒度和形状的磁粉颗粒。在干法磁粉探伤时，干磁粉被撒在工件表面，然后在外加磁场的作用下在工件表面流动，遇到漏磁场(缺陷处的磁场突变)时聚集形成磁痕。磁粉的流动性能是影响干法磁粉检测的重要指标。在磁场的作用下，磁粉流动性太差，磁粉则不容易流动到到漏磁场，从而不容易判断缺陷；若磁粉的流动性太好，在遇到漏磁场不会停留形成磁痕，也不利于缺陷的判断。磁粉流动性能主要受磁粉颗粒的形状影响，若圆形颗粒(长宽比较小)比较多则流动性好，若条形颗粒(长宽比较大 )较多则形成磁痕的能力强。可以看出磁粉流动性能对干法磁粉检测的效果具有非常重要的影响，目前虽有如CN200620075490. 2专利所公开的一种粉体流动性测试装置，却无测量干法磁粉流动性能的装置和方法，也无法进行定量分析、判断。
技术实现思路
本技术的目的在于解决上述的技术问题，提供一种能够对干法磁粉的流动性能进行量化测定和评价的磁粉流动性测量装置。本技术的目的通过提供以下一种磁粉流动性测量装置实现—种磁粉流动性测量装置，包括底座及安放于底座上的铁磁性的试块；磁轭，与试块平面接触；支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。优选的，所述漏斗和所述磁轭分别位于试块的纵向上的前部和后部。优选的，所述试块为平板状。优选的，所述底座的纵向中轴线和所述试块的纵向中轴线重合。优选的，所述磁轭的截面面积为20cmX20cm,线圈阻数为200圈至250圈。优选的，所述磁轭位于试块的边缘，和试块的接触面积不小于20cmX30cm。优选的，所述漏斗的开口朝下，正对试块的纵向中轴线。优选的，所述漏斗的开口正对试块的纵向中轴线上的1/5至1/4处。优选的，所述漏斗的开口的孔径为2±0. 5mm。优选的，所述漏斗的开口和所述试块的距离在IOOmm至200mm之间。本技术的有益效果主要体现在通过采用本技术的磁粉流动性测量装置，能够很准确地计算出从漏斗开口落下的磁粉在试块表面的磁力作用下的分布，能够方便、量化的得到被测试的磁粉的流动性数据。以下便结合实施例附图，对本技术的具体实施方式作进一步的详述，以使本技术技术方案更易于理解、掌握。附图说明图I为本技术的具体实施方式的磁粉流动性测量装置的结构图。图2为本技术的具体实施方式的试块的俯视图。图3为本技术的具体实施方式的漏斗的示意图。具体实施方式参照图I、图2、图3，本技术的具体实施方式中，磁粉流动性测试装置由底座I、试块2、支架3、漏斗4和磁轭5组成。底座I是整个装置的支撑平台，试块2固定放置在底座I上，纵向中轴线7与底座的纵向中轴线重合，其纵向上具有前部和后部，磁轭5位于试块2的前部，漏斗4位于试块2的后部。试块2成平板状，具体尺寸规格为220mmX150mmX25mm，表面粗糙度为MRR Ral. 6 μ mm。试块2为铁磁性材料，具体材质为40#车轴钢。支架3在底座I的纵向中轴线上竖立。支架3上有一横杆,横杆末端有一圆环，圆环的直径小于40_，即也小于锥形的漏斗4底部直径，使漏斗4可以尖端朝下放置在圆环上。锥形的漏斗4由具有一定刚性的材料制成，如铜，优选为紫铜。漏斗4厚度为1mm、高70mm、底部直径40mm，漏斗尖端有开口，孔直径为2mm±0. 5mm。漏斗4的开口正对试块2的纵向中轴线，优选的正对试块中心线1/5 1/4处，开口与试块2表面的距离最好为100mm^200mmo试块的前部边缘处表面中间放置磁轭5，磁轭5为单级电磁轭，截面面积为20cmX20cm,电磁轭上的线圈匝数为230匝。磁轭5其与试块2表面接触，接触面积为20mmX 35mm。以下介绍本具体实施方式的磁粉流动性测试步骤。测试时，接通磁轭5的电源，则磁轭5对试块2进行磁化，在试块2的表面形成磁场，由磁轭5的磁化特点可知，磁极处磁场最强。此外，称取一定量的干法磁粉，倒入锥形的漏斗4中。干法磁粉从漏斗4的开口处自由下落到试块2上，在试块2表面磁场的作用下向磁轭5的磁极处流动。从磁粉下落到试块表面开始，一定的时间后，测量流动过试块2上的一分界线6的磁粉质量占测试质量的比重，以此来衡量干法磁粉的流动性，该分界线优选的为试块2的纵向上的中分线。具体的，测试时电磁轭通7A的电流，称取IOg干燥的干法磁粉，倒入锥形漏斗中，磁粉自由落在试块上。从磁粉下落到试块表面时开始计时，Imin后，测量流动过试块分界线的磁粉的重量，计算比值。以上所述仅为本技术的优选例，并不用于限制本技术，尽管参照了前述实例对本技术进行了详细的说明，对本领域的技术人员仍可对前述优选例进行技术方案修改，或对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的特征和原则之内，所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种磁粉流动性测量装置，其特征在于，包括 底座及安放于底座上的铁磁性的试块； 磁轭，与试块平面接触； 支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。2.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于 所述漏斗和所述磁轭分别位于试块的纵向上的前部和后部。3.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述试块为平板状。4.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述底座的纵向中轴线和所述试块的纵向中轴线重合。5.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述磁轭的截面面积为20cmX20cm，线圈匝数为200圈至250圈。6.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述磁轭位于试块的边缘，和试块的接触面积不小于20cmX30cm。7.根据权利要求I所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述漏斗的开口朝下，正对试块的纵向中轴线。8.根据权利要求7所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述漏斗的开口正对试块的纵向中轴线上的1/5至1/4处。9.根据权利要求7所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述漏斗的开口的孔径为2±0· 5臟。10.根据权利要求7所述的磁粉流动性测量装置，其特征在于所述漏斗的开口和所述试块的距离在IOOmm至200mm之间。专利摘要本技术公开了一种磁粉流动性测量装置，包括底座及安放于底座上的铁磁性的试块；磁轭，与试块平面接触；支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。本技术的有益效果主要体现在通过计算从漏斗开口落下的磁粉在试块表面的磁力作用下的分布，能够方便、量化的得到被测试的磁粉的流动性数据。文档编号G01N11/00GK202676568SQ20122033702公开日2013年1月16日 申请日期2012年7月11日 优先权日2012年7月11日专利技术者万升云, 郑小康, 卢东磊, 章文显, 刘仕远, 任好娟 申请人:南车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种磁粉流动性测量装置，其特征在于，包括：底座及安放于底座上的铁磁性的试块；磁轭，与试块平面接触；支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：万升云，郑小康，卢东磊，章文显，刘仕远，任好娟，
申请(专利权)人：南车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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