一种光谱分析仪器制造技术

本实用新型专利技术公开一种光谱分析仪器，包括：入射准直透镜；可调谐F-P干涉仪，其通过调谐腔长在选择部分来自所述入射准直透镜的光波通过；F-P标准具，用于提取来自所述可调谐F-P干涉仪中特定频率的光波；用于隔离反射光的第一光纤环行器，位于可调谐F-P干涉仪和F-P标准具之间；第二光纤环行器，接收稳频基准光波；稳频光源；第三光纤环行器；功率测量模块；波长解调模块；光带阻滤波器，位于所述第三光纤环行器和功率测量模块之间，其阻带与待测光波的频率范围错开，用于将来自稳频光源发出的光波反射。本实用新型专利技术避免了使用体积较大的迈克耳逊或者马赫-曾德干涉仪，而实现光频率选择，且可以在很小的幅度上调谐谐振腔的腔长，避免了采用活动部件所产生的技术问题。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光谱分析仪器，属于光谱探测领域，可以应用于物质的吸收光谱的测定、光通信和光纤传感等领域。
技术介绍
光谱仪是把成分复杂的光中分解开来后分别探测各成分的仪器。光谱仪有很多类型，除在可见光波段使用的光谱仪外，还有红外光谱仪和紫外光谱仪。按照色散元件的小同，光谱仪可以分为棱镜光谱仪、光栅光谱仪和干涉光谱仪。另外，光谱仪与其其它一些技术结合，还有拉曼光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪等。使用光谱仪，可以用来进行许多方面的研究和检测，比如物质分析就是目前常见的用途。现有技术，将光波导入一个迈克耳逊或者马赫-曾德干涉仪，输出的光波是两臂中传输的光波的相干光，其功率是波长和相位差的函数。通过调节一条光臂的长度，改变相·位差，可以得到光功率随腔长的变化。而光谱与这个信号的关系正好是余弦傅里叶变换，因此，通过求解逆傅里叶变换，可以得到待测光谱。这种方法的优点是，光谱探测范围和波长分辨率都很高。缺点是非常耗费时间，不能够测量变化较快的光谱；具有运动部件，对机械加工的要求也很高；设备也庞大而昂贵。因此如何克服现有技术中上述技术问题，成为本领域普通技术人员努力的方向。专利技术内容本技术目的是提供一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析仪器，其特征在于：包括：入射准直透镜(1)，用于将待测的入射光耦合入光纤；可调谐F？P干涉仪(2)，其通过调谐腔长在选择部分来自所述入射准直透镜(1)的光波通过；F？P标准具(3)，用于提取来自所述可调谐F？P干涉仪(2)中特定频率的光波；用于隔离反射光的第一光纤环行器(4)，位于可调谐F？P干涉仪(2)和F？P标准具(3)之间，用于接收来自可调谐F？P干涉仪(2)的光波；第二光纤环行器(5)，其第1端口接收稳频基准光波，第2端口与所述F？P标准具(3)之间传输光波；稳频光源(6)，位于所述第一光纤环行器(4)和第二光纤环行器(5)之间，用于提供一稳频基准光波；第三光纤环行器(7)...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王允韬，阮驰，郁菁菁，刘志麟，
申请(专利权)人：昆山煜肸传感器科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：