超限位探测触点制造技术

技术编号:8231830 阅读:259 留言:0更新日期:2013-01-18 13:37
超限位探测触点,涉及位移监测技术领域,其特征在于:包括支撑架(1),支撑架(1)固定于待测物(2)下平面的正下方,支撑架(1)上并排安装两个方向朝上的接触针,两个接触针与待测物(2)下平面安装的两个接触片分别形成常开触点和常闭触点。该超限位探测触点利用常开触点可以监测待测物向下移动是否超限,利用常闭触点可以监测待测物在水平面前后、左右移动和向上移动是否超限,并可以监测角位移是否超限,结构更加简化,实用。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

超限位探测触点,涉及位移监测
,具体涉及一种用于超限状态的取样和信号输出的探测装置。
技术介绍
在某些报警类控制检测中,需要对位置变化超出限度带来的风险做应对,仅仅探测是否超过限度,不关注其位移的具体数值的大小,这样的位移监测装置往往设置多个触点,如果检测三个线位移和三个角位移,设置的触点则更多、信号处理回路复杂,需要进行简化处理。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种只需两个触点便可以检测正交系三个轴线方向上的位移是否超限的超限位探测触点。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是该超限位探测触点,其特征在于包括支撑架,支撑架固定于待测物下平面的正下方,支撑架上并排安装两个方向朝上的接触针,两个接触针与待测物下平面安装的两个接触片分别形成常开触点和常闭触点。常开触点可以监测待测物向下移动是否超限,常闭触点可以监测待测物水平面上前后、左右移动和向上移动是否超限,结合两触点的位移变化可以计算得出待测物角位移是否超限。所述的常开触点包括固定在支撑架上的常开接触针和固定在待测物下平面的常开接触片,常开接触针端头朝向常开接触片中心点并与常开接触片之间留有一定距本文档来自技高网...

【技术保护点】
超限位探测触点,其特征在于:包括支撑架(1),支撑架(1)固定于待测物(2)下平面的正下方,支撑架(1)上并排安装两个方向朝上的接触针,两个接触针与待测物(2)下平面安装的两个接触片分别形成常开触点和常闭触点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张会亭田绪峰巩曰新田昭春张志新孙茂波周锫黄琪亮巩天涛巩方涛田昊穆冠帅田连超
申请(专利权)人:山东起凤建工股份有限公司张会亭
类型:实用新型
国别省市:

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