一种通用测试探针筛选分针工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种通用测试探针筛选分针工具，它包括分针面板、支撑柱，所述的支撑柱设置在分针面板的下方，在分针面板上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵，所述的分针面板1的四周粘贴有耐磨红色胶带。本实用通用测试探针筛选分针工具简单方便、避免治具插错针、导致假性开、短路问题等优点。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及PCB辅助工具，具体是指一种通用测试探针筛选分针工具。
技术介绍
随着PCB不断向高密度及HDI板的趋势发展，PCB电测治具之探针也随之越做越精细，诸如O. 2MM、0. 25MM、0. 3MM的通用测试探针越来越常见，每套治具的使用量也在剧增，然而对于这么细小的探针，在拆装过程中，操作人员靠眼睛分辨探针，极易混淆。
技术实现思路
本技术需解决的问题是提供一种简单方便、避免治具插错针、导致假性开、短路问题的通用测试探针筛选分针工具。为了实现上述目的，本技术设计出一种通用测试探针筛选分针工具，它包括分针面板、支撑柱，所述的支撑柱设置在分针面板的下方，在分针面板上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵。所述的分针面板I的四周粘贴有耐磨红色胶带。本实用通用测试探针筛选分针工具为了改善测试探针物料的管理，制作一种测试探针筛选分针工具，对一些不同大小探针混淆后能快速方便地进行分辨出来，避免治具插错针，导致假性开、短路问题；同时，对于探物料统筹及盘点，也提供了简单方便的方法。本技术通用测试探针筛选分针工具利用钻孔面板之不同孔径矩阵列，代替手工靠眼睛分辨探针规格，细小探针分针效率提升90%，不同型号探针混淆比率降为零，同时解决探针物料统计及盘点困难问题。附图说明图I是本技术通用测试探针筛选分针工具的立体结构示意图。具体实施方式为了便于本领域技术人员的理解，下面将结合具体实施例及附图对本技术的结构原理作进一步的详细描述。如图I所示，一种通用测试探针筛选分针工具，它包括分针面板I、支撑柱2，所述的支撑柱2设置在分针面板I的下方，在分针面板I上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵3。所述的分针面板I的四周粘贴有耐磨红色胶带4。本技术通用测试探针筛选分针工具使用PCB工厂现有的3丽环氧树脂纤维板，制作不同孔径矩阵列分布，作为分针工具的面板，同时面板四周加装高于探针高度之支撑柱；面板边缘采用粘贴耐磨红色胶带，避免操作时维纤板边缘与手臂接触，防止过敏及划伤手臂；探针筛选分针工具底部采用比各针型矩阵大2 3倍，高度与探针高度相仿的接针筒进行探针筛选后的收集。上述内容，仅为本技术的较佳实施例，并非用于限制本技术的实施方案，本领域技术人员根据本技术的构思，所作出的适当变通或修改，都应在本技术的 保护范围之内。权利要求1.一种通用测试探针筛选分针工具，其特征在于包括分针面板(I)、支撑柱(2)，所述的支撑柱(2 )设置在分针面板(I)的下方，在分针面板(I)上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵(3)。2.根据权利要求I所述的通用测试探针筛选分针工具，其特征在于所述的分针面板(O的四周粘贴有耐磨红色胶带(4)。专利摘要本技术公开了一种通用测试探针筛选分针工具，它包括分针面板、支撑柱，所述的支撑柱设置在分针面板的下方，在分针面板上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵，所述的分针面板1的四周粘贴有耐磨红色胶带。本实用通用测试探针筛选分针工具简单方便、避免治具插错针、导致假性开、短路问题等优点。文档编号B07B13/04GK202667150SQ20122031230公开日2013年1月16日 申请日期2012年6月30日 优先权日2012年6月30日专利技术者武守坤, 刘明汉, 陈春, 何大钢 申请人:惠州市金百泽电路科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通用测试探针筛选分针工具，其特征在于：包括分针面板（1）、支撑柱（2），所述的支撑柱（2）设置在分针面板（1）的下方，在分针面板（1）上设有若干个不同孔径的用于筛选探针的通孔矩阵（3）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：武守坤，刘明汉，陈春，何大钢，
申请(专利权)人：惠州市金百泽电路科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：