本发明专利技术提供一种触控设备坐标校准方法及装置，该方法包括以下步骤：在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠，并且边缘严格对齐；判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；若是则校准结束。本发明专利技术的方法及装置具有较高的适应性，有很好的市场应用前景。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触控领域，特别是涉及一种触控设备坐标校准方法以及一种触控设备坐标校准装置。
技术介绍
一般情况下，触控设备需安装于显示设备之上，以实现人机交互，并且这种人机交互往往需要用户所触摸的位置与显示出来的响应位置相一致。为了达到上述的效果，因此需要一个坐标校准过程，使触控设备与显示设备匹配。目前，传统的触控设备的坐标校准方法，包括如下步骤首先在显示设备上固定显示若干个预设点，用户在触控设备上触摸这些点的位置，通过已知的显示点坐标和实际触 摸点坐标计算出校准参数，通过校准参数修正触摸设备的偏差，从而实现触控设备与显示设备的匹配。通过对上述传统的触控设备坐标校准方法进行研究分析后发现，该方法存在如下两个问题一、传统的触控设备坐标校准方法中由于显示点均为预设，即位置是固定的，当出现触控设备存在局部区域失效、而显示点刚好在此失效区域的情况时，则将直接导致触控设备无法进行校准；二、由于用户需要根据显示设备上显示的点来点击触控设备上的响应位置，这个过程必然存在一定量的人为误差，即实际触摸位置往往不能与显示位置达到完全重合，而这个误差将会参与到校准参数的计算，从而导致最终的校准结果存在偏差。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述无法进行校准或者是校准结果存在偏差的问题，提供一种触控设备坐标校准方法及装置。为实现上述目的，本专利技术采用如下的技术方案一种触控设备坐标校准方法，包括以下步骤在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠，并且边缘严格对齐；判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否，则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；若是，则校准结束。一种触控设备坐标校准装置，包括响应坐标获取模块，用于在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠,并且边缘严格对齐；判断模块，用于判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；校准参数计算模块，用于若所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标不一致，则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标 准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；结束模块，用于若所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标一致，则校准结束。由以上方案可以看出，本专利技术的触控设备坐标校准方法及装置，将待校准触控设备、标准已校准触控设备重叠放置，由于二者是重叠并且边缘严格对齐的，因此对待校准触控设备的触摸会同时对标准已校准触控设备生效，且生效的物理位置一致，即一次触摸操作会对待校准触控设备与标准已校准触控设备产生相同的响应坐标。本专利技术正是依据这一原理，使用标准已校准触控设备作为参考来对待校准触控设备进行校准，由于本专利技术不采用固定的校准点，因此有效避免了局部区域失效所导致的触控设备无法进行校准操作的问题；并且本专利技术使用闭环的校准点，因此消除了触摸过程中的人为误差对校准结果的影响，保证了最终校准结果的准确性。本专利技术的方法及装置具有较高的适应性，有很好的市场应用前景。附图说明图I为本专利技术一种触控设备坐标校准方法的流程示意图；图2为坐标校准过程示例图；图3为本专利技术一种触控设备坐标校准装置的结构示意图。具体实施例方式下面结合附图以及具体的实施例，对本专利技术的技术方案作进一步的描述。参见图I所示，一种触控设备坐标校准方法，包括以下步骤步骤S101，在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标。上述的带校准触控设备，即为需要进行校准的触控设备，即本专利技术的处理对象；上述的标准已校准触控设备，即为已经经过校准的标准触控设备，理论上完全无偏差，实际上要求其偏差值小于预设要求值。作为一个较好的实施例，本专利技术中可以采用一个校准治具来将待校准触控设备装配于平台上，并将标准已校准触控设备固定于待校准触控设备之上。需要说明的是，所述标准已校准触控设备与待校准触控设备须要完全重叠，并且边缘严格对齐。正是由于二者是重叠并且边缘是严格对齐的，因此对待校准触控设备的触摸会同时对标准已校准触控设备生效，且生效的物理位置一致，即一次触摸操作会对待校准触控设备与标准已校准触控设备产生相同的响应坐标。具体的，如何使得一次触摸但对两个触控设备同时响应，有以下的触控设备能够实现一、光学成像式触摸框，该触控设备使用摄像头拍摄红外光线为原理，不需要玻璃等阻隔物，因此手指能穿过两个光学成像式触摸框的响应区，实现同时响应；二、红外对管式触摸框，该触控设备使用红外对管收发红外光线为原理，不需要玻璃等阻隔物，因此手指能穿过两个光学成像式触摸框的响应区，实现同时响应；三、激光式触摸框，该触控设备使用摄像头拍摄被反射的激光为原理，不需要玻璃等阻隔物，因此手指能穿过两个光学成像式触摸框的响应区，实现同时响应。将待校准触控设备、标准已校准触控设备固定于校准治具上，并上电进入工作状态后，通过预设方式即控制待校准触控设备、标准已校准触控设备进入校准模式。上述预设方式可以是 a)使用PC等控制主机，通过与待校准触控设备、标准已校准触控设备进行通讯，以进入校准模式；b)通过按钮、开关等物理硬件设备，触发进入校准模式。用户对待校准触控设备进行触摸，触摸位置可以任意，但数量需要两个以上。作为一个较好的实施例，在所述检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作之后、获取响应坐标之前，还可以包括如下步骤判断在所述两次以上的触摸操作中，各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标是否均不相同；若否，即各校准触摸点所对应的X坐标只要有任何一个相同，或者是各校准触摸点所对应的Y坐标只要有任何一个相同，则说明此时不能进入后续的坐标校准计算，此时只能继续进行检测，直到满足条件为止；若是，即各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标是否均不相同，则说明可以进入后续的计算，此时进入获取响应坐标的步骤(即获取待校准触控设备的各响应坐标以及标准已校准触控设备的各响应坐标)。作为一个较好的实施例，所述获取待校准触控设备的各响应坐标、标准已校准触控设备的各响应坐标的过程可以采用以下几种方式的任意一种实现a)使用PC控制主机，通过通讯获取所述待校准触控设备的各响应坐标、标准已校准触控设备的各响应坐标；b)所述待校准触控设备记录自身各响应坐标,并通过通讯获取所述标准已校准触控设备的各响应坐标；c)所述标准已校准触控设备记录自身各响应坐标,并通过通讯获取所述待校准触控设备的各响应坐标。步骤S102，判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否则进入步骤S103 ;若是则进入本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触控设备坐标校准方法，其特征在于，包括以下步骤：在校准模式下，当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时，获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标；所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠，并且边缘严格对齐；判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致；若否，则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数，并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准；若是，则校准结束。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄安麒，黄蜚铨，
申请(专利权)人：广州视睿电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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