位置检测传感器、位置检测装置以及位置检测方法制造方法及图纸

一种位置检测传感器、位置检测装置以及位置检测方法，能够基于静电电容的变化而高灵敏度地检测指示体的指示位置和施加的按压力。在第1导体(11X)与第2导体(21Y)之间设置具有可挠性的电介质部件(13)，并且设置用于使第1导体或第2导体与电介质部件之间相互分离预定距离的间隔物(23)，从而构成位置检测传感器。通过指示体的按压使第1导体与第2导体之间经由电介质部件的厚度而抵接，并且电介质部件与导体抵接而形成的抵接面积与指示体的按压力对应而变化，因此能够使作为电容器的静电电容较大地变化，由此高灵敏度以及高精度地检测指示体所指示的位置和施加于该指示位置的力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种通过检测由指示体指示的位置的静电电容的变化从而进行指示体所指示的位置的检测的位置检测传感器、具有该位置检测传感器的位置检测装置以及上述传感器及装置所使用的位置检测方法。
技术介绍
近年来，作为触控面板等所使用的指示体的位置检测的方式盛行静电电容方式的指示体检测装置的开发。在静电电容方式中具有表面型(Surface Capacitive Type)和投影型(Projected Capacitive Type)两种方式,两方式均检测传感器电极与指示体(例如，手指、静电笔等)之间的静电耦合状态的变化，从而检测指示体的位置。 在例如专利文献I (日本特开2009-265759号公报)中，介绍了表面型的静电电容方式的指示体检测装置。另外，投影型的静电电容方式的指示体检测装置构成为在例如玻璃等的透明基板或透明膜上以预定图案形成多个电极，检测指示体接近时的指示体与电极的静电耦合状态的变化。该投影型的静电电容方式的指示体检测装置公开于例如专利文献2(日本特开2003-22158号公报)、专利文献3 (日本特开平9-222947号公报)、专利文献4(日本特开平10-161795号公本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电电容方式的位置检测传感器，具有沿着第1方向配置的多个第1导体和沿着与上述第1方向交差的方向配置的多个第2导体，通过检测与指示体所进行的位置的指示对应而在上述第1导体与上述第2导体之间形成的静电电容的变化，从而检测由上述指示体指示的位置，上述静电电容方式的位置检测传感器的特征在于，上述多个第1导体具有可挠性，在上述多个第1导体与上述多个第2导体之间介入具有可挠性的电介质部件，并且上述具有可挠性的电介质部件的一方的面与上述多个第1导体或上述多个第2导体抵接，与上述具有可挠性的电介质部件的一方的面抵接的上述多个第1导体或上述多个第2导体经由上述具有可挠性的电介质部件而相对的上述多个第2导体或...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：福岛康幸，
申请(专利权)人：株式会社和冠，
类型：发明
国别省市：