一种基于倾斜基面光电跟踪测量设备的快速高精度引导方法技术

技术编号:8189815 阅读:255 留言:0更新日期:2013-01-10 01:02
一种基于倾斜基面光电跟踪测量设备的快速高精度引导方法,实现对倾斜基面光电跟踪测量设备的高精度引导,光电跟踪测量设备对某颗恒星的测量值为方位A和俯仰E,由A和E计算出重力线与设备垂直轴平行的地球表面处的经度λ和纬度由站址位置的重力线与经度λ、纬度处的重力线的位置关系,得到大斜度基面的倾斜方向与倾斜角度,进而求得目标在倾斜甚而光电跟踪测量设备上的测量值,经系统误差修正后实现高精度引导。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及,具体的说,就是实现对倾斜基面上光电跟踪测量设备的高精度引导。
技术介绍
光电跟踪测量设备是一种高精度测量的大型设备,目前的应用要求该设备安装在水平、坚固的水泥基面上,很大程度上限制了光电跟踪测量设备的机动性需求。安装基面倾斜角度较大时,往往超出了调平机构的适用量程。充分利用光电跟踪测量设备可以高精度测量的特点,测量出倾斜基面的倾斜角度和倾斜方向,并在引导数据中消除倾斜基面的影响,从而可以降低对光电跟踪测量设备安装基面的倾斜度要求,同时,通过对设备的倾斜, 使光电跟踪测量设备具有测量过顶目标的功能。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是实现对倾斜基面光电跟踪测量设备的高精度引导,降低对光电跟踪测量设备安装基面的要求,提高其机动性,同时也为过顶目标的高精度测量提供了一种可行性方案。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是其特征在于实现步骤如下(I)由倾斜基面光电跟踪测量设备测量某一恒星的位置方位角A和俯仰角E ;(2)计算重力线与光电跟踪测量设备垂直轴平行的地球表面处的经度\和纬度(p %r n - . cos A'sin A .., ,.lVl /L = Eirc本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于倾斜基面光电跟踪测量设备的快速高精度引导方法,其特征在于实现步骤如下:(1)由倾斜基面光电跟踪测量设备测量某一恒星的位置,所述位置包括方位角A和俯仰角E;(2)计算重力线与光电跟踪测量设备垂直轴平行的地球表面处的经度λ和纬度λ=arcsincosEsinAcosδ-S0-(D-8)(1+μ)+αα与δ表示恒星的视赤经和视赤纬,t表示测量时恒星对应的时角,S0表示世界时零时的真恒星时,D表示观测时刻的北京标准时,μ=0.00273791表示民用时化恒星时的改正系数;(3)倾斜基面倾斜角度与倾斜方向的确定如果知道站址的经度λ0与纬度则地球表面的经...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘兴法杜俊峰温正明扈宏毅包启亮
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
类型:发明
国别省市:

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