一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器。现有的发射与接收线圈间，标签与发射和接收线圈间都会互相干扰。本实用新型专利技术包括两个发射线圈和一个接收线圈；所述的接收线圈位于两个发射线圈之间，两个发射线圈紧贴设置。每个发射线圈包括主发射线圈和辅发射线圈。接收线圈包括主接收线圈和辅接收线圈。本实用新型专利技术消除了发射线圈与接收线圈间、标签分别与发射和接收线圈间的互相干扰；解决了传统测试传感器因以上各部分间干扰导致谐振频率测量误差和无法测试电子标签Q值的问题。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电子信息
，具体为一种检测无源电子标签(EAS)谐振频率及Q值的检测传感器。
技术介绍
EAS电子标签目前广泛应用于零售，物流等行业；中国是制造业大国，全球的电子标签大部分由中国生产。但国内生产电子标签的企业普遍存在检测手段落后，精密检测设备缺乏等状况。而国外相关检测设备价格过于昂贵，且存在一定程度的技术障碍；国内设备则普遍存在无法准确检测Q值，精度低，或受标签类型限制通用性差等缺陷，并且普遍缺乏检测有效容积这一指标的功能。因此急需一种新型的国产EAS检测系统，提高精度，完善检测指标，提高检测效率，降低生产成本。通常对无源电子标签的检测采用双线圈模型，这是一种类似于实际应用中防盗系统的结构。发射线圈持续产生交变磁场，如果防盗标签进入磁场区域且频率为电子标签的谐振频率时(谐振频率由电子标签LC谐振回路电容和电感值决定，f=^)电子标签将产生谐振，特定区域内磁场强度突变，接收线圈感应磁场强度变化，判断谐振频率。但这种结构存在缺陷，因为发射与接收线圈间，标签与发射和接收线圈间都会互相干扰；特别是标签对发射线圈的影响将改变原磁场的强度，而且由于不同标签对发射线圈的影响不同使得数据修正不可能实现；同时，发射线圈对接收线圈的影响叠加于标签产生的磁场上，无法区分。这些都会导致谐振频率产生偏差，对Q值判定误差的影响将更为严重。
技术实现思路
本技术针对现有检测技术的弊端，开发新型检测传感器，使之能够准确测定电子标签的谐振频率及Q值。本技术解决技术问题所采取的技术方案为一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器包括两个发射线圈和一个接收线圈；所述的接收线圈位于两个发射线圈之间，两个发射线圈紧贴设置。所述的两个发射线圈结构相同，每个发射线圈包括主发射线圈和辅发射线圈，主发射线圈和辅发射线圈的相对处开口，主发射线圈的开口上端处通过第一导线与辅发射线圈的开口上端处连接，主发射线圈的开口下端处通过第二导线与辅发射线圈的开口下端处连接，主发射线圈和辅发射线圈半径相同，呈对称设置。所述的接收线圈包括主接收线圈和辅接收线圈，主接收线圈和辅接收线圈的相对处开口，主接收线圈的开口上端处通过第三导线与辅接收线圈的开口上端处连接，主接收线圈的开口下端处与第四导线的一端连接，辅接收线圈的开口下端处与第五导线的一端连接；主接收线圈和辅接收线圈半径相同，呈对称设置。所述的主接收线圈的半径大于待测电子标签的半径，且小于主发射线圈半径的一半。所述的第一导线接输入信号的正极、第二导线接输入信号的负极；所述的第四导线的另一端为输出信号的正极、第五导线的另一端为输出信号的负极。 所述的主发射线圈和主接收线圈同心设置。所述的两个发射线圈与输入信号的连接 处共点。本技术消除了发射线圈与接收线圈间、标签分别与发射和接收线圈间的互相干扰；解决了传统测试传感器因以上各部分间干扰导致谐振频率测量误差和无法测试电子标签Q值的问题。附图说明图I为本技术的结构示意图；图2为本技术俯视图；图3为双线圈检测模型原理图；图4为本技术原理图；图5为无标签时干扰值强弱测试；图6为对4MHz电子标签进行检测的幅频特性曲线；图7为对8MHz电子标签进行检测的幅频特性曲线。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步说明。如图I和图2所示，本技术包括两个发射线圈和一个接收线圈，接收线圈位于两个发射线圈和之间；两个发射线圈重合并紧贴设置。两个发射线圈结构相同，每个发射线圈包括主发射线圈1-1、2_1和辅发射线圈1-2、2-2，主发射线圈和辅发射线圈的相对处开口，主发射线圈的开口上端处通过第一导线4-1与辅发射线圈的开口上端处连接，主发射线圈的开口下端处通过第二导线4-2与辅发射线圈的开口下端处连接，主发射线圈和辅发射线圈圆半径相同，呈完全对称结构。接收线圈包括主接收线圈3-1和辅接收线圈3-2，主接收线圈3-1和辅接收线圈3-2的相对处开口，主接收线圈3-1的开口上端处通过第三导线4-3与辅接收线圈3-2的开口上端处连接，主接收线圈3-1的开口下端处与第四导线4-4的一端连接，辅接收线圈3-2的开口下端处与第五导线4-5的一端连接；主接收线圈3-1和辅接收线圈3-2圆半径相同，呈对称设置。所述的主接收线圈3-1的半径略大于待测电子标签半径，且小于主发射线圈1-1半径的一半；所述的第一导线4-1中心位置引出导线5-1，接输入信号的正极；第二导线4-2的中心位置引出导线5-2，接输入信号的负极；所述的第四导线4-4的另一端为输出信号正极、第五导线4-5的另一端为输出信号负极。所述的发射线圈和接收线圈同心设置。所述的两个发射线圈的输入信号连接处共点；除连接点以外两发射线圈其它紧贴部分绝缘。双线圈检测模型结构原理图如图3所示，发射线圈I的阻抗为I1,电感值为L1,等效电阻S1 ;所测试电子标签6的阻抗为Γ，等效电阻值β，电感值为L，电容值为C;接收线圈3阻抗为I3，等效电阻值H3 ,电感值为L3 ;设发射线圈与标签的互感值SM1，标签与接收线圈的互感值为M3，发射与接收线圈的互感值为M13，则权利要求1.一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器，其特征在于包括两个发射线圈和一个接收线圈；所述的接收线圈位于两个发射线圈之间，两个发射线圈紧贴设置； 所述的两个发射线圈结构相同，每个发射线圈包括主发射线圈和辅发射线圈，主发射线圈和辅发射线圈的相对处开口，主发射线圈的开口上端处通过第一导线与辅发射线圈的开口上端处连接，主发射线圈的开口下端处通过第二导线与辅发射线圈的开口下端处连接，主发射线圈和辅发射线圈半径相同，呈对称设置； 所述的接收线圈包括主接收线圈和辅接收线圈，主接收线圈和辅接收线圈的相对处开口，主接收线圈的开口上端处通过第三导线与辅接收线圈的开口上端处连接，主接收线圈的开口下端处与第四导线的一端连接，辅接收线圈的开口下端处与第五导线的一端连接；主接收线圈和辅接收线圈半径相同，呈对称设置； 所述的主接收线圈的半径大于待测电子标签的半径，且小于主发射线圈半径的一半；所述的第一导线接输入信号的正极、第二导线接输入信号的负极；所述的第四导线的另一端为输出信号的正极、第五导线的另一端为输出信号的负极； 所述的主发射线圈和主接收线圈同心设置； 所述的两个发射线圈与输入信号的连接处共点。专利摘要本技术涉及一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器。现有的发射与接收线圈间，标签与发射和接收线圈间都会互相干扰。本技术包括两个发射线圈和一个接收线圈；所述的接收线圈位于两个发射线圈之间，两个发射线圈紧贴设置。每个发射线圈包括主发射线圈和辅发射线圈。接收线圈包括主接收线圈和辅接收线圈。本技术消除了发射线圈与接收线圈间、标签分别与发射和接收线圈间的互相干扰；解决了传统测试传感器因以上各部分间干扰导致谐振频率测量误差和无法测试电子标签Q值的问题。文档编号G01R27/26GK202649315SQ20122033130公开日2013年1月2日 申请日期2012年7月10日 优先权日2012年7月10日专利技术者游彬, 曲良玉, 张晓红, 陈伟 申请人:杭州电子科技大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源电子标签谐振频率及Q值检测传感器，其特征在于：包括两个发射线圈和一个接收线圈；所述的接收线圈位于两个发射线圈之间，两个发射线圈紧贴设置；所述的两个发射线圈结构相同，每个发射线圈包括主发射线圈和辅发射线圈，主发射线圈和辅发射线圈的相对处开口，主发射线圈的开口上端处通过第一导线与辅发射线圈的开口上端处连接，主发射线圈的开口下端处通过第二导线与辅发射线圈的开口下端处连接，主发射线圈和辅发射线圈半径相同，呈对称设置；所述的接收线圈包括主接收线圈和辅接收线圈，主接收线圈和辅接收线圈的相对处开口，主接收线圈的开口上端处通过第三导线与辅接收线圈的开口上端处连接，主接收线圈的开口下端处与第四导线的一端连接，辅接收线圈的开口下端处与第五导线的一端连接；主接收线圈和辅接收线圈半径相同，呈对称设置；所述的主接收线圈的半径大于待测电子标签的半径，且小于主发射线圈半径的一半；所述的第一导线接输入信号的正极、第二导线接输入信号的负极；所述的第四导线的另一端为输出信号的正极、第五导线的另一端为输出信号的负极；所述的主发射线圈和主接收线圈同心设置；所述的两个发射线圈与输入信号的连接处共点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：游彬，曲良玉，张晓红，陈伟，
申请(专利权)人：杭州电子科技大学，
类型：实用新型
国别省市：